Atomik kuvvet mikroskobu

Atomik kuvvet mikroskobu veya AFM, nanometre çözünürlüğe sahip bir numune hakkında topografik bilgi sağlamak için bir nanoprob kullanarak bir görüntü oluşturur.

Optik mikroskop 1000X'e kadar büyütebilirken, AFM'nin büyütme potansiyeli 1.000.000X'e kadardır.

AFM, hem sabit hem de canlı örneklerin görüntülerini oluşturarak, aktin dinamikleri gibi dinamik hücresel süreçleri yakalamasına olanak tanır.

AFM nanoprobu, esnek bir konsolun ucuna takılır ve birlikte numuneyi tararlar. Prob, numune yüzeyinin dış hatlarını takip eder, yukarı ve aşağı hareket eder ve bu da konsolun yerini alır.

Bir AFM tipinde, bir lazer ışını konsola yöneliktir ve hareket ettikçe lazerin yansıması da hareket eder.

Konuma duyarlı bir fotodetektör, lazer ışınının sapmasını kaydeder.

Veriler, numune yüzeyinin üç boyutlu bir görüntüsünü oluşturmak için yazılımın işleyebileceği bir bilgisayara gönderilir.