33.13
Bir numunenin iç yapısını ve bileşimini incelemek için bir transmisyon elektron mikroskobu veya TEM kullanılır.
Cihaz, bir elektron ışını yayan bir elektron tabancasından oluşur. Işın daha sonra iki veya daha fazla elektromanyetik kondansatör merceği kullanılarak numuneye odaklanır.
Numune yoluyla iletilen elektronlar, ara görüntüyü oluşturmak için objektif lensler tarafından toplanır ve odaklanır. Bu görüntü, ek ara lensler ve projektör lensleri ile daha da büyütülür.
Son görüntü, fosforlu ekran veya CCD kamera gibi elektrona duyarlı görüntüleme cihazları kullanılarak yakalanabilir.
TEM, bir numunenin iki boyutlu siyah beyaz görüntüsünü oluşturur. Daha koyu alanlar, çok az elektron ileten veya hiç elektron iletmeyen yoğun bölgeleri temsil eder. Buna karşılık, daha açık alanlar, daha fazla elektronun iletildiği bölgeleri gösterir.
TEM ayrıca numune bileşimini analiz etmek için de kullanılır. Elektron ışını-numune etkileşimi, bir numunede bulunan farklı elementleri tanımlamak ve ölçmek için kullanılabilecek karakteristik X-ışınları üretir.
1931'de fizikçi Ernst Ruska, tıpkı lenslerin optik mikroskopta ışık ışınını yönlendirebildiği gibi manyetik alanların da elektron ışınını yönlendirebi…
Telif Hakkı © 2026 MyJoVE Corporation. Tüm hakları saklıdır.