Soğuk Giriş Sistemi ve Electron Impact Kütle Spektrometresi kullanarak Uçucu ve Oksidasyon Hassas Bileşiklerin Analizi

9.1K görüntüleme

1 kez atıf

05:48 dk

5 Eylül 2014

10.3791/51858-v

5 Eylül 2014

9.1K görüntüleme

Bu video elektron darbesi iyonizasyonu kullanılarak uçucu ve oksidasyona hassas bileşiklerin kütle spectrometrical analizi için bir protokol verilmektedir. Sunulan teknik özellikle, metalik organillerinden, silanlar ya da bu tür bir Schlenk tekniği gibi atıl koşullar kullanılarak ele alınması gerekir phosphanes ile çalışan, özellikle, inorganik kimyager için ilgi çekmektedir.

Daha fazla video keşfet

U ucu Bile iklerin Analizi

Chapters in this video

0:05

Title

1:32

Sample Preparation

2:19

Measurement of Mass Spectra

3:48

After the Measurement

4:43

Results: Electron Impact Ionisation Mass Spectra of Volatile and Oxidation Sensitive Compounds

5:25

Conclusion

Related Videos