Soğuk Giriş Sistemi ve Electron Impact Kütle Spektrometresi kullanarak Uçucu ve Oksidasyon Hassas Bileşiklerin Analizi

9.2K görüntülenme

1 kez atıf aldı

05:48 dk.

5 Eylül 2014

10.3791/51858-v

5 Eylül 2014

9.2K görüntülenme

Bu video elektron darbesi iyonizasyonu kullanılarak uçucu ve oksidasyona hassas bileşiklerin kütle spectrometrical analizi için bir protokol verilmektedir. Sunulan teknik özellikle, metalik organillerinden, silanlar ya da bu tür bir Schlenk tekniği gibi atıl koşullar kullanılarak ele alınması gerekir phosphanes ile çalışan, özellikle, inorganik kimyager için ilgi çekmektedir.

Daha fazla video keşfet

Uçucu Bileşiklerin Analizi

Chapters in this video

0:05

Başlık

1:32

Numune Hazırlama

2:19

Kütle Spektrumlarının Ölçümü

3:48

Ölçüm Sonrası

4:43

Sonuçlar: Uçucu ve Oksidasyona Duyarlı Bileşiklerin Elektron Çarpması İyonizasyonu Kütle Spektrumları

5:25

Sonuç

Related Videos