Name: Havada Dielektrik mikropartiküllerin Optik Tuzak Yükleme (Video) | JoVE Journal
Uploaded: 2017-02-05T13:00:00.000+00:00
Duration: 8 min 57 s
Description: Öğrenin, piezoelektrik fırlatıcı ile havada dielektrik mikropartikülleri optik tuzaklama yöntemini. Yüzey kimyası çalışmaları için tekrarlanabilir ölçümler ve tek elektron hassasiyetinde temas elektriklendirme araştırmaları yapın.

ai_agent_IP

ai_agent

maintenance

instantTrialDurationMinutes

isBiopharma

enableNewMyJoveSectionDesign

educationFeatures

seoMetaApi

ai_copilot_institution_blacklist

ai_chat_institution_blacklist

freeAccessWindow

ssoRoleCapture

scheduledMaintenanceBanner

joveLabsFeatures

disable_autoplay_for_bots

extended_trial_duration

5 minutes

Ulusal Standartlar ve Teknoloji Enstitüsü'nün desteği altında gerçekleştirilen tüm çalışmalar. Bu protokolün anlaşılmasını teşvik etmek için belirli ticari ekipman, enstrüman veya malzemeler tanımlanmıştır. Bu tür bir tanımlama, Ulusal Standartlar ve Teknoloji Enstitüsü tarafından tavsiye veya onay anlamına gelmez ve tanımlanan malzeme veya ekipmanın amaç için mutlaka en iyisi olduğu anlamına gelmez.

Dikkat: deneyden önce ilgili tüm güvenlik programları danışın. Bu protokol açıklanan tüm deneysel prosedürleri NIST LASER güvenlik programının yanı sıra diğer ilgili mevzuata uygun olarak yapılır. seçmek ve belirli dalga boyu ve gücü için tasarlanmış lazer koruma gözlük gibi uygun kişisel koruyucu ekipman (PPE) giymek emin olun. Kuru nano / mikro parçacıkları Taşıma ek solunum koruması gerekebilir. 1. Tasarım ve PZT sahibi İmalat ve bir örnek Muhafaza <ol><li> Bir PZT tutucu ve örnek bir pano tasarımı NOT: Belirli tasarım değerleri PZT seçimine bağlı olarak değişir. <ol><li> bilgisayar destekli tasarım (CAD) yazılım paketi açın. Belirli PZT boyut için bir tutucunun bir iki boyutlu (2D) çizim çizin. Extrude / Extrude-kesim kombinasyonları kullanılarak hacimsel özellikleri 2B kroki geliştirin. </li><li> , Sketch tıklayınbir dikdörtgen çizin ve dikdörtgen küp yapmak için a&#39;ya. </li><li> kapak ve halka tipi PZT tutmak için bir dairesel girintili özelliği tanımlamak için küpün üst yüzeyinde bir disk çizin. </li><li> Gerçek zamanlı görüntüleme ve yakalama hem de optik erişim için merkezi bir delik tanımlayın. </li><li> Şekil 2&#39;de bir de gösterildiği gibi orta alana doğru ultrasonik güç konsantre düz bir metalik (bakır) halka eklemek için merkezi bir delik kenarı boyunca dairesel rehber tanımlayın. </li><li> Şekil 2c ve 2d gösterildiği gibi PZT tutucuya M6 vidaları için iki delik delik, (ortası delik ile 4 mm kalınlığında alt alüminyum plaka satın alınır) bir alt plaka ile monte edilecek oluşturun. </li><li> Benzer bir şekilde, örnek muhafaza dikdörtgen bir çerçeve tasarımı. Sketch tıklatın ve bir dikdörtgen çizin, o dikdörtgen bir kutu yapmak için dikdörtgen a&#39;ya. </li><li> rectangula üst yüzeyinde daha küçük bir dikdörtgen çizerr kutusu ve dikdörtgen tüp olarak bunu yapmak için dikdörtgen a&#39;ya kesilmiş. </li><li> Numune muhafaza kutusunun çerçevesine dönüştürmek için tüp ve Extrude kesilmiş yan duvarında küçük bir dikdörtgen çizin. </li><li> 3D baskı süreci için bir stereolitografi (STL) dosya formatına dönüştürür, bu üç boyutlu (3D) modeller dönüştürmek (Şekil 2b). </li></ol></li><li> Tasarlanan nesnelerin 3D baskı <ol><li> 3D yazıcı işletim yazılımı tasarım dosyası ( &quot;-.STL&quot;) açın. Düz 0 / .ve merkezini nesneyi nesne Lay (0, 0, 0) seçmek için nesneyi tıklatıp hizalama işlevlerini kullanarak: &quot;Platform Üzerine&quot; &quot;Move&quot;, ve &quot;Merkezi&quot;. yukarı hassas özellikleri yüz PZT tutucu yönlendirmek. girintili yüzey yukarı karşı karşıya kalacaktır. </li><li> Menüde &quot;Ayarlar&quot; ve &quot;Kalite&quot; sekmesine gidin. % 100, kabukları sayısı: 2, ve Katman yüksekliği: Aşağıdaki şekilde Infill baskı değerlerini ayarlayın 0.2aa. </li><li> toplam baskı süresini kontrol etmek ve istenilen şekilde katmanlı nesneler basılacaktır emin olmak için nesneleri önizlemesini yapın. Bir &quot;.x3g&quot; formatında 3D baskı dosyası dışa aktarma ve 3D yazıcıya kullanmak için saklayın. </li><li> 3D Yazıcıyı açın ve ekstrüzyon memesinin sıcaklığı bir çalışma sıcaklığına ulaşıncaya kadar ısınmasını, 230 ° C bellek kartından veya ağ sürücüsünden tasarım dosyasını yükleyin. </li><li> Isınma sırasında, nesnelerin güvenli uymak yardımcı olmak için mavi ressamın bant ile Yapı platformu yerleştirin. baskı işi için bir termoplastik malzeme olarak, hem de nesneler için bir polilaktik asit (PLA) filament kullanın. </li><li> tasarlanmış nesneler yazdırın. Baskı işi tamamlandıktan sonra soğuduktan sonra, yazıcıyı kapatın. </li><li> Bir keski kullanarak platformdan basılmış nesneyi çıkarın. basılı nesneleri düzeltin. oryantasyon uygun seçilirse, PZT tutucu doğrudan ileri post-processing olmadan kullanılabilir. </li><li> for Örnek muhafaza, çerçeve kapağı indiyum kalay oksit (İTO) kaplanmış lamelleri üç cam lameller bir çift hazırlar. kasaya lamel sığdırmak için bir elmas kesici kullanın. </li><li> Tel hızlı kuruyan gümüş boya kullanarak iki paralel iletken levha iki tabak üzerindeki gerilimi sağlamak için. bir anlık yapıştırıcı yapıştırıcı kullanarak örnek muhafaza üzerine bu beş pencere Tutkal. NOT: İTO kaplı lamelleri bir çift paralel olarak örnek muhafaza yüklü düzgün elektrik alan sağlamak ve elektrik alanı boyunca doğal yüklü parçacığın balistik hareketini oluşturmak için (birbirine bakacak şekilde). Üç klasik lamel hava dış akışından tuzağa parçacık korumak için örnek muhafaza yüzeyleri (üst ve iki yan) geri kalan kısmını </li></ol></li></ol> Seçilen mikro parçacık 2. Optik Tuzak Yükleme <ol><li> örnek hazırlama <ol><li> bir in mikro saklayıntahliye kurutucu deneyden önce havadaki nem ile temas azaltmak için. </li><li> Bir cam slayt üzerine mikropartiküllerin küçük bir kısmını dökün ve hemen geri desikatörde üreticinin şişe koymak. </li><li> Bir cam kılcal boru ile mikro bazı al. lamel üzerinde kılcal tutarken yavaşça kılcal dokunarak alt tabaka üzerinde parçacıkları Dağılım. </li><li> Bir karanlık alan mikroskobu kullanarak alt tabaka üzerine miktar ve biriken parçacıkların dağılımını kontrol edin. Not: numune hazırlama aşamasında, parçacık sadece bir lamel dağınık ve PZT ve PZT tutucu arasındaki yerleştirmeden önce genel düzenleme doğrulamak için bir optik mikroskop (dağınık mikropartikül ile bir lamel) ile görüntülenmiş. yüzeye yapışma alt tabaka üzerinde bireysel mikroparçacıklar tutmak için yeterince güçlü olduğundan önemli dış kuvvet uygulandığında sürece, uyulması parçacıklar sıkıca sabitlenir. </li></ol&gt; </li><li> Piezoelektrik başlatıcısı montaj <ol><li> düz dipli levha, film PZT, cam lamel, bir bakır yüzük, PZT tutucu, iki M6 vida ve örnek muhafaza yalıtım: piezoelektrik başlatıcısı tüm bileşenlerini elde edin. </li><li> PZT izole alt plaka üzerinde ince bir film (ya da bant) uygulayın. cam lamel yığınının üst izole eder. </li><li> lamel, bakır yüzük ve PZT sahibi tarafından takip şimdi bant ile izole düz plaka üstüne PZT, merkezleme yığınını birleştirin. Birlikte tutucu olarak Şekil 2c ve 2d gösterilen yürütülmesinden ise sahibine PZT kısa devre önlemek için PZT merkezleme muhafaza yığınını vidalayın. bakır halka plastik PZT sahipleri için yığını eşit olarak dağıtılmış mekanik ön yük sağlar. </li><li> Son olarak, yığına örnek muhafaza tutkal ve mikroskopta bir XYZ translasyonel sahnede montaj monte. </li></ol></li><li> PZT başlatıcısı Yapılandırma NOT: yüksek gerilim sinyali ile PZT Sürüş potansiyel elektrik tehlikeleri vardır. deneyden önce güvenlik personeli danışın. Tüm elektrik bağlantıları deneyden önce güvence altına alınmalıdır. amplifikatör kapatın ve kesin PZT mümkün olduğunca yol açar. <ol><li> PZT gerilim amplifikatör yol açar bağlayın ve gerilim amplifikatörü bir giriş portuna fonksiyon jeneratörü bağlayın. </li><li> fonksiyon jeneratörü açın ve tüm bağlantıların doğrulanması ve güvencesindedir kadar gerilim sinyali üretmek etmeyin 1 V bir çıkış voltajı sürekli kare dalgalar oluşturmak için yapılandırın. </li><li> Gerilim amplifikatörü açın ve çıkış sağlayarak çıkış gerilimi 1 V kare dalga üretir. </li><li> bir osiloskop amplifikatör izleme çıkış portu (çıkış gerilimi 200 V) bağlayın. çevirerek 200 V / V kazanç var amplifikatör yapılandırmaÖn paneldeki düğmeyi kazanır. osiloskop ile ölçülen izleme çıkış voltajı 1 V bir genliği olduğunu doğrulayın. </li><li> fonksiyon jeneratörü ve amplifikatör yapılandırıldığında, gerçek zamanlı video mikroskop görüntüleri parçacıkları yapışmış iken sürüş sinyalinin modülasyon frekansı tarayarak PZT başlatıcısı rezonans frekansı bulmak. mikropartikül hareket maksimum kadar tarama tekrarlayın. parçacıkları serbest bırakmak için bu frekansı (burada 64 kHz) kullanın. NOT: modülasyon frekansı manuel olarak rezonans frekansı bulmak için 150 kHz sıfırdan (taranmış) değiştirilir. </li><li> patlama modunda döngü belirli bir sayı ile bir kare dalga üretmek için fonksiyon jeneratörü yapılandırın. Ön paneldeki &quot;Burst&quot; tuşuna basınız ve &quot;N Döngüsü Burst&quot; seçeneğini seçin. </li><li> &quot;# Cycles&quot; yumuşak tuşuna basarak patlama sayısını seçin ve 10 veya 20 sayısını ayarlayın. </li><li> gerilim sinyallerini üretmek için bir kare dalga yapılandırma600 V amplitüd bir önceki adımdan bulmuştur 64 kHz rezonans frekansında (üç kez sürekli uyarım için kullanılan gerilim). darbe sinyali partikülleri her darbe sonrası hareket sağlayarak tekrarlanabilir bir şekilde hedef parçacığı serbest emin olun. </li></ol></li><li> Seçici optik tuzak yükleme NOT: PZT başlatıcısı düzeneği manuel doğrusal çeviri xy sahnede yüklenir. parçacıklar translasyonel sahne hareket ettirerek sabit ışın odak göre tercüme edilebilir. <ol><li> Mikroskop taret (Şekil 3a) çevirerek yakalama ışınının odak belirlemek için lazer çizgisi filtresini çıkarın. odak optimize etmek için görünür resmin en iyi odak etrafında dikey ileri geri motorlu odaklama blok taşıyın. </li><li> odak konumu doğrulandıktan sonra, yakalama kiriş müdahalesi olmaksızın net bir gerçek-zamanlı video vermek için geri filtre koymak. </li><li> p örnek Çeviryakalama lazer odak pozisyonunda seçilen bir parçacık dantel. görüntü parçacık üzerindeki parçacık üzerindeki kaldırma pozisyonu bırakarak yaklaşık bir buçuk yarıçapı ile parçacık merkezinin altında anma yakalama konumunu yerleştirir seçilen bir parçacığın, merkezi odaklanın. </li><li> Optik yakalama gücünü ayarlamak için elektro-optik modülatör (EOM) sürücü bağlı güç kaynağını ayarlayın. optimal güç parçacık boyutu ve malzemeye göre değişir. optik güç kiriş dışarı atma olmadan parçacık havaya kaldırmak için yeterli güç belirlemek için tekrarlanan denemeler yoluyla tespit edildi. Burada, 20 mikron çapında polistiren (PS) parçacıklar yakalamak için objektif arka odak düzlemi 140 mW bir optik gücünü kullanın. </li><li> Seçilen parçacığın merkezi hizalanmış sonra, birkaç darbeleri ile piezoelektrik başlatıcısı harekete. Hareketli bir bulanık görüntü statik odaklı görüntüden parçacık görüntüsünün değişimi lev başarılı yükleme gösterirtasyon konumu. </li><li> Mümkün yüzey etkileşimleri önlemek için yukarı objektif lens hareket ettirerek alt tabaka üzerinde bir milimetrenin yaklaşık dikey levitated parçacık çevirmek. Sonra daha kararlı olan anma yakalama pozisyonu (Şekil 3c) içine levitated parçacık (Şekil 3b) geçiş optik güç azaltır. Not: tutucu lazer optik gücü, bir elektro-optik modülatör (EOM) ile modüle edilebilir. EOM dijital güç kaynağı ile sağlanan bir önyargı gerilimi ile çıkış gücünü düzenler. Bir yavaşça optik gücünü azaltır iken CCD yoluyla konumunu yakalama için havalanma geçişi gözlemleyebilirsiniz. </li><li> Pozisyon ölçümü için (örnek muhafaza ortasına yukarıdaki 9 mm parçacık çevirmek için, 3d Şekil 3c gösterildiği gibi, dikkatli bir şekilde optik eksene PZT sahibinin merkezini taşımak ve daha sonra (dikey) objektif lens yukarı taşımak substrsaçak elektrik alan minimize nerede) yedik. </li><li> aşağıda tarif edildiği gibi ölçüm yaptıktan sonra, parçacık substratı dokunana kadar aşağı hedefi hareket ettirerek tabaka üzerinde parçacık yerleştirin. parçacıkların çoğu köşelerine yakın uygulanır beri, tuzağa parçacık kolayca tanınır edilebilir ve yeniden tuzak merkez bölgesinde yerleştirildiğinde. Bu tür parçacığın ve yüzey temas etkileşimleri gibi tek bir bindirme olayı ötesinde meydana gelen değişiklikleri ölçmek için geri dönüşümlü tuzak yüklenmesini sağlar. </li></ol></li></ol> 3. Veri Toplama <ol><li> kondenser ve tuzak bir parçacık QPD &quot;SUM&quot; sinyali maksimize etmek için odaklama lensi aynı hizaya getirin. </li><li> Şekil 4c&#39;de gösterildiği gibi, QPD X ve Y kanal nominal sıfıra odaklama lensi hizalayın. </li><li> kondenser ayarlanması ve Fourier dönüştürülmüş pozisyon sinyalleri dek odaklama lensi (ya da güç spektrumu yoğunluğu tekrarlayın<html> X (PSD) araziler) ve Y kanalları dengeli hassasiyeti göstermeye üst üste. Şekil 4B&#39;de gösterildiği gibi uygun şekilde hizalanmış QPD sinyalleri (X ve Y), hemen hemen aynı davranışı gösterir. </li><li> QPD hizalama doğrulandıktan sonra, iki İTO plakalarına gerilim amplifikatörü bağlayın. adım uyarma sinyali ve eşzamanlı uyarılan parçacık yörüngesini kaydetmek için DAQ sistemine amplifikatör gerilim izleme çıkış sinyalini bağlayın. </li><li> 500 nm&#39;de (Şekil 4e) tarafından optik eksene enine parçacık hareket eden bir elektrik alanı (Şekil 4d) oluşturmak için 400 V sürekli bir kare dalga kaynağı. QPD kullanılarak tuzağa parçacığın adım tepkisini ölçün. </li><li> Gerektiğinde ortalama birden dönemleri Brown hareketi etkilerini azaltmak için. neden olduğu hareket ısı dalgalanmaları daha hareket daha geniş bir aralığı üzerinde, optik gücü ölçmek için kullanılabilir. 12,ef &quot;&gt; 17 Şekil 4d ve 4e gösterileri uygulanan gerilim ve adım uyarma 50 yineleme üzerinde uyarılan parçacık yörüngesi sinyalleri ortalama. </li></ol>

<ol><li>Ashkin, A. <a target="_blank" href="http://journals.aps.org/prl/abstract/10.1103/PhysRevLett.24.156">Acceleration and Trapping of Particles by Radiation Pressure.</a> Phys. Rev. Lett. 24 (4), 156-159 (1970).</li>
<li>Gieseler, J., Novotny, L., Quidant, R. <a target="_blank" href="http://www.nature.com/nphys/journal/v9/n12/full/nphys2798.html">Thermal nonlinearities in a nanomechanical oscillator.</a> Nat. Phys. 9 (12), 806-810 (2013).</li>
<li>Gieseler, J., Deutsch, B., Quidant, R., Novotny, L. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Subkelvin+Parametric+Feedback+Cooling+of+a+Laser-Trapped+Nanoparticle%5BTitle%5D)+AND+%22Phys.+Rev.+Lett%22%5BJournal%5D)">Subkelvin Parametric Feedback Cooling of a Laser-Trapped Nanoparticle.</a> Phys. Rev. Lett. 109 (10), 103603(2012).</li>
<li>Chang, D. E., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Cavity+opto-mechanics+using+an+optically+levitated+nanosphere%5BTitle%5D)+AND+%22Proc.+Natl.+Acad.+Sci%22%5BJournal%5D)">Cavity opto-mechanics using an optically levitated nanosphere.</a> Proc. Natl. Acad. Sci. 107 (3), 1005-1010 (2010).</li>
<li>Arita, Y., Mazilu, M., Dholakia, K. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Laser-induced+rotation+and+cooling+of+a+trapped+microgyroscope+in+vacuum%5BTitle%5D)+AND+%22Nat.+Commun%22%5BJournal%5D)">Laser-induced rotation and cooling of a trapped microgyroscope in vacuum.</a> Nat. Commun. 4, 2374(2013).</li>
<li>Ashkin, A., Dziedzic, J. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Optical+trapping+and+manipulation+of+viruses+and+bacteria%5BTitle%5D)+AND+%22Science%22%5BJournal%5D)">Optical trapping and manipulation of viruses and bacteria.</a> Science. 235 (4795), 1517-1520 (1987).</li>
<li>Svoboda, K., Block, S. M. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Biological+Applications+of+Optical+Forces%5BTitle%5D)+AND+%22Annu.+Rev.+Biophys.+Biomol.+Struct%22%5BJournal%5D)">Biological Applications of Optical Forces.</a> Annu. Rev. Biophys. Biomol. Struct. 23 (1), 247-285 (1994).</li>
<li>Mehta, A. D. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Single-Molecule+Biomechanics+with+Optical+Methods%5BTitle%5D)+AND+%22Science%22%5BJournal%5D)">Single-Molecule Biomechanics with Optical Methods.</a> Science. 283 (5408), 1689-1695 (1999).</li>
<li>Arvanitaki, A., Geraci, A. A. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Detecting+High-Frequency+Gravitational+Waves+with+Optically+Levitated+Sensors%5BTitle%5D)+AND+%22Phys.+Rev.+Lett%22%5BJournal%5D)">Detecting High-Frequency Gravitational Waves with Optically Levitated Sensors.</a> Phys. Rev. Lett. 110 (7), 071105(2013).</li>
<li>Moore, D. C., Rider, A. D., Gratta, G. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Search+for+Millicharged+Particles+Using+Optically+Levitated+Microspheres%5BTitle%5D)+AND+%22Phys.+Rev.+Lett%22%5BJournal%5D)">Search for Millicharged Particles Using Optically Levitated Microspheres.</a> Phys. Rev. Lett. 113 (25), 251801(2014).</li>
<li>Li, T., Kheifets, S., Medellin, D., Raizen, M. G. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Measurement+of+the+instantaneous+velocity+of+a+Brownian+particle%5BTitle%5D)+AND+%22Science%22%5BJournal%5D)">Measurement of the instantaneous velocity of a Brownian particle.</a> Science. 328 (5986), 1673-1675 (2010).</li>
<li>Park, H., LeBrun, T. W. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Parametric+Force+Analysis+for+Measurement+of+Arbitrary+Optical+Forces+on+Particles+Trapped+in+Air+or+Vacuum%5BTitle%5D)+AND+%22ACS+Photonics%22%5BJournal%5D)">Parametric Force Analysis for Measurement of Arbitrary Optical Forces on Particles Trapped in Air or Vacuum.</a> ACS Photonics. 2 (10), 1451-1459 (2015).</li>
<li>Summers, M. D., Burnham, D. R., McGloin, D. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Trapping+solid+aerosols+with+optical+tweezers%3A+A+comparison+between+gas+and+liquid+phase+optical+traps%5BTitle%5D)+AND+%22Opt.+Express%22%5BJournal%5D)">Trapping solid aerosols with optical tweezers: A comparison between gas and liquid phase optical traps.</a> Opt. Express. 16 (11), 7739-7747 (2008).</li>
<li>Anand, S., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Aerosol+droplet+optical+trap+loading+using+surface+acoustic+wave+nebulization%5BTitle%5D)+AND+%22Opt.+Express%22%5BJournal%5D)">Aerosol droplet optical trap loading using surface acoustic wave nebulization.</a> Opt. Express. 21 (25), 30148-30155 (2013).</li>
<li>Lee, W. M., Reece, P. J., Marchington, R. F., Metzger, N. K., Dholakia, K. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Construction+and+calibration+of+an+optical+trap+on+a+fluorescence+optical+microscope%5BTitle%5D)+AND+%22Nat.+Protoc%22%5BJournal%5D)">Construction and calibration of an optical trap on a fluorescence optical microscope.</a> Nat. Protoc. 2 (12), 3226-3238 (2007).</li>
<li>Pesce, G., et al. <a target="_blank" href="https://www.osapublishing.org/josab/abstract.cfm?uri=josab-32-5-B84">Step-by-step guide to the realization of advanced optical tweezers.</a> J. Opt. Soc. Am. B. 32 (5), B84(2015).</li>
<li>Thornton, S. T., Marion, J. B. <a target="_blank" href="http://scholar.google.com/scholar?hl=en&safe=off&q=author%3aThornton%2C+ST+%22Classical+Dynamics+of+Particles+and+Systems%22">Classical Dynamics of Particles and Systems</a>. , Brooks/Cole. (2003).</li>
<li>Ashkin, A. <a target="_blank" href="http://aip.scitation.org/doi/abs/10.1063/1.1655064">Stability of optical levitation by radiation pressure.</a> Appl. Phys. Lett. 24 (12), 586-588 (1974).</li>
<li>Chandrasekhar, S. <a target="_blank" href="http://journals.aps.org/rmp/abstract/10.1103/RevModPhys.15.1">Stochastic Problems in Physics and Astronomy.</a> Rev. Mod. Phys. 15 (1), 1-89 (1943).</li>
<li>Li, T. <a target="_blank" href="http://scholar.google.com/scholar?hl=en&safe=off&q=author%3aLi%2C+T+%22Fundamental+Tests+of+Physics+with+Optically+Trapped+Microspheres%22">Fundamental Tests of Physics with Optically Trapped Microspheres</a>. , New York. 9-21 (2013).</li>
<li>Chai, Z., Liu, Y., Lu, X., He, D. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Reducing+Adhesion+Force+by+Means+of+Atomic+Layer+Deposition+of+ZnO+Films+with+Nanoscale+Surface+Roughness%5BTitle%5D)+AND+%22ACS+Appl.+Mater.+Interfaces%22%5BJournal%5D)">Reducing Adhesion Force by Means of Atomic Layer Deposition of ZnO Films with Nanoscale Surface Roughness.</a> ACS Appl. Mater. Interfaces. 6 (5), 3325-3330 (2014).</li>
<li>Park, H., LeBrun, T. W. <a target="_blank" href="http://proceedings.spiedigitallibrary.org/proceeding.aspx?articleid=2501139">Measurement and accumulation of electric charge on a single dielectric particle trapped in air.</a> SPIE OPTO. 9764, (2016).</li>
</ol>

Yazarlar herhangi bir rakip mali çıkar beyan etmemektedir.

piezoelektrik başlatıcısı Seçilen PZT dinamik performansını optimize etmek için tasarlanmıştır. PZT malzeme ve ultrasonik titreşimlerin yönetiminin doğru seçimi başarılı bir deney verim önemli adımlardır. PZTs farklı özelliklere dönüştürücünün tipine bağlı olarak (toplu olarak veya yığın) ve onu oluşturan malzemeler (sert veya yumuşak) bulunur. sert piezoelektrik malzemeden imal edilmiş bir yığın tipi PZT aşağıdaki nedenlerle tercih edilir. İlk olarak, sert piezoelektrik malzemeler düşük dielektrik kayıpları ve yumuşak ...

Ashkin fizik ve biyofizik temel çalışmalar için birincil araç olarak optik yakalama tekniklerinin geliştirilmesi teşvik 1970 1 romanı başarıda hızlanma ve radyasyon basıncı ile mikropartiküllerin yakalama bildirdi. Bugüne kadar, 2, 3, 4, 5, optik yakalama uygulama, sıvı ortamlarda esas olarak odaklanmıştır, tek biyomoleküllerin mekanik özellikleri koloitlerin davranışından, sistemler çok geniş bir çalışma için kullanılmıştır. 6, 7, gaz ortama optik yakalama 8 Uygulama Bununla birlikte, birçok yeni teknik sorunları çözmek gerekir. Son zamanlarda, hava / vakum optik yakalama giderek temel araştırma uygulanmıştır. Optik levi yanatation potansiyel optik levitated parçacık, küçük nesnelerin 4 ölçüm yüksek frekanslı yerçekimsel dalgalar, 9 kuantum zemin durumlarını inceleyerek ve fraksiyonel ücret karşılığında aramak için ideal bir laboratuvar haline gelir, çevreye bir sistemin neredeyse tamamlama izolasyonu sağlar. 10 Üstelik, hava / vakum düşük viskoziteli biri Brown parçacığın 11 anlık hızını ölçmek için ataleti kullanmak ve doğrusal yay gibi rejimin ötesinde hareket geniş bir yelpazede üzerinde balistik hareket oluşturmanıza olanak sağlar. 12 Bu nedenle, detaylı teknik bilgi ve gaz medyada optik tuzakları uygulamalar geniş bir araştırma topluluğuna daha değerli hale gelmiştir. Yeni deneysel teknikler gaz medyada optik tuzaklar içine nano / mikro parçacıkları yüklemek için gereklidir. Bir piezoelektrik transdüser (PZT), elektro dönüştüren bir cihaz,Mekanik-akustik enerjiye ic enerji, optik havalanma ilk gösterisinden bu yana hava / vakum 5 12 optik tuzaklar içine küçük parçacıkların teslim etmek için kullanılır olmuştur. 1 O zamandan beri, çeşitli yükleme teknikleri, ticari bir püskürtücü 13 veya akustik dalga üreteci tarafından üretilen uçucu aerosoller kullanarak daha küçük parçacıklar yüklemek için ileri sürülmüştür. 14 katı kapanımlar (partiküller) ile yüzen aerosoller rastgele odak yakın geçmek ve tesadüfen tutulur. Aerosol tuzak sonra, çözücü dışarı buharlaşır ve parçacık optik tuzak kalır. Ancak, bu yöntemler de, bir numune içinde istenen parçacıkları tanımlamak seçilen bir parçacık yüklemek ve tuzak salınan eğer onun değişiklikleri izlemek için uygun değildir. Bu protokol deney dahil havada seçici optik tuzak yükleme, yeni uygulayıcılara ayrıntıları sağlamayı amaçlamaktadıral kurulumu, hem frekans ve zaman etki parçacık hareketi analizi ile ilgili bir PZT tutucu ve örnek muhafaza, tuzak yükleme ve veri toplama imalatı. sıvı ortamda bindirme için protokoller de yayınlanmıştır. 15, 16 genel bir deney düzeneği ticari ters optik mikroskop üzerinde geliştirilmiştir. Odaklanmış ışını ile seçilmiş parçacık kaldırma, dinlenme mikro serbest hareketini ölçmek ve tekrar alt-tabaka üzerine yerleştirilmesi: Şekil 1, seçici optik tuzak yükleme aşamaları göstermek için kullanılan düzeneğin şematik bir diyagramını göstermektedir. İlk olarak, çeviri aşamaları (enine ve dikey) bir objektif lens ile odaklanmış bir yakalama lazer (dalga boyu 1064 nm) odak tabaka üzerinde seçilen bir mikropartikul getirmek için kullanılır (yakın-kızılötesi düzeltilmiş uzun çalışma mesafesi amacı: NA 0.4, büyütme 20X, çalışma dsaydam bir zemin ile 20 mm) istance. Sonra, bir piezoelektrik fırlatıcı (mekanik önceden yüklenmiş halka tipi PZT) mikropartiküller ve bir alt tabaka arasındaki yapışmayı kırmak için ultrasonik titreşimler oluşturur. Böylece, herhangi bir serbest parçacık seçilen parçacık odaklanmış tek ışınlı gradyan lazer tuzağı ile kaldırılabilir. Parçacık yakalandığında, elektrostatik uyarma için iki paralel iletken plakalar içeren örnek muhafazanın merkezi çevrilmiştir. Son olarak, bir veri toplama (DAQ) sistemi aynı anda çeyrek hücre fotodetektör (QPD) tarafından yakalanan parçacık hareketi, ve uygulanan elektrik alan kaydeder. ölçüm bittikten sonra, parçacık kontrol edilebilir bir geri bir şekilde daha tuzak böylece alt-tabakanın üzerine yerleştirilir. Bu genel işlem birkaç yakalama döngüsü boyunca ortaya çıkan bu tür iletişim elektrifikasyon gibi değişiklikler ölçmek için parçacık kaybı olmadan yüzlerce kez tekrar edilebilir. Bizim son makale f bakınveya ayrıntılar. 12

<table><tbody><tr><td>ScotchBlue Ressam Bandı Orijinal</td><td>3M</td><td>3M2090</td><td></td></tr><tr><td>Scotch 810 Sihirli Bant</td><td>3M</td><td>3M810</td><td></td></tr><tr><td>Fonksiyon/Keyfi Dalga Biçimi üreteci</td><td>Agilent</td><td>HP33250A</td><td></td></tr><tr><td>Güç kaynağı/Dijital voltaj tedarikçisi</td><td>Agilent</td><td>E3634A</td><td></td></tr><tr><td>Halka tipi piezoelektrik dönüştürücü</td><td>Amerikan Piezo Şirketi</td><td>item91</td><td></td></tr><tr><td>Elektro-optik modülatör</td><td>Con-Optics</td><td>350 ve eksi; Elektro-optik</td> modülatör Con-Optics için 80-LA <td></td></tr><tr><td>Amplifikatör</td><td></td><td>302RM</td><td></td></tr><tr><td>Mitutoyo NIR sonsuzluk Düzeltilmiş Objektif</td><td>Edmund optics</td><td>46-404</td><td>Mitutoyo tarafından üretilmiştir ve Edmund optics tarafından dağıtılır</td></tr><tr><td>LOCTITE SÜPER YAPIŞTIRICI UZUN BOYUNLU ŞİŞE</td><td>Loctite</td><td>230992</td><td></td></tr><tr><td>3D yazıcı</td><td>MakerBot</td><td>Replicator 2</td><td></td></tr><tr><td>Polilaktik asit (PLA) filament</td><td>MakerBot</td><td>True Red PLA Küçük Makara</td><td></td></tr><tr><td>Veri Toplama sistemi</td><td>National Instruments</td><td>780114-01</td><td></td></tr><tr><td>Çeyrek hücreli fotodedektör</td><td>Newport</td><td>2031</td><td></td></tr><tr><td>Translasyon aşaması</td><td>Newport</td><td>562-XYZ</td><td></td></tr><tr><td>Ters optik mikroskop</td><td>Nikon Instruments</td><td>EclipsTE2000</td><td></td></tr><tr><td>Floresan filtresi (yeşil)</td><td>Nikon Instruments</td><td>G-2B</td><td></td></tr><tr><td>Flea3/CCD kamera</td><td>Nokta Gri</td><td>FL3-U3-13S2M-CS</td><td>Tuzak lazer Diyot</td></tr><tr><td>pompalanan neodimyum itriyum vanadat (Nd: YVO 4 )</td> <td>Spectra Physics</td><td>J20I-8S-12K / BL-106C</td><td></td></tr><tr><td>İndiyum kalay oksit (ITO) Kaplamalı lameller</td><td>SPI malzemeleri</td><td>06463B-AB</td><td>Polistiren mikropartiküller</td></tr><tr><td>Hızlı Kuruyan Gümüş Boya</td><td>Tedpella</td><td>16040-30</td><td></td></tr><tr><td>Dri-Cal boyut standartları</td><td>Thermo Scientific</td><td>DC-20</td><td></td></tr><tr><td>Optik Fiber</td><td>Thorlabs</td><td>P1 & eksi; 1064PM-FC-5</td><td>alt plaka</td></tr><tr><td>Alüminyum levha&nbsp;</td><td>Thorlabs</td><td>CP4S</td><td></td></tr><tr><td>Yüksek voltajlı güç amplifikatörü</td><td>TREK</td><td>PZD700A M/S</td><td></td></tr></tbody></table>

havada dielektrik mikropartiküllerin optik tuzak yükleme

Optical Trap Loading of Dielectric Microparticles In Air

Tek ışınlı gradyan optik tuzaktan radyasyon basıncı kullanarak seçilen bir dielektrik mikroparçacığı havada yakalamak için bir yöntem gösteriyoruz. Bir cam alt tabakaya yapışan rastgele dağılmış dielektrik mikropartiküller, bir piezoelektrik dönüştürücü (PZT) tarafından üretilen ultrasonik titreşimler kullanılarak anlık olarak ayrılır. Daha sonra, seçilen bir parçacığa odaklanan optik ışın, titreşimle uyarılmış mikroparçacıklar alt tabakaya geri düşerken, onu optik tuzağa kaldırır. Bir parçacık, yakalama ışınının nominal odağında veya yerçekiminin geri yükleme kuvvetini sağladığı odağın üzerindeki bir konumda (burada havaya yükselme konumu olarak anılır) sıkışabilir. Ölçümden sonra, sıkışan parçacık, kontrollü bir şekilde alt tabaka üzerinde istenen bir konuma yerleştirilebilir. 
Bu protokolde, havada seçici optik tuzak yüklemesi için deneysel bir prosedür ana hatlarıyla belirtilmiştir. İlk olarak, deney düzeneği kısaca tanıtılmıştır. İkinci olarak, bir PZT tutucunun ve bir numune muhafazasının tasarımı ve imalatı ayrıntılı olarak gösterilmiştir. Seçilen bir mikropartikülün optik tuzak yüklemesi daha sonra numune hazırlama, tuzağa fırlatma ve tuzaktaki parçacık hareketini uyarmak ve yükü ölçmek için elektrostatik kuvvet kullanımı dahil olmak üzere adım adım talimatlarla gösterilir. Son olarak, Brownian'ın kaydedilmiş parçacık yörüngelerini ve havada hapsolmuş bir mikroparçacığın balistik hareketlerini sunuyoruz. Bu yörüngeler, sertliği ölçmek veya zaman alanı ve frekans alanı analizi yoluyla optik hizalamayı doğrulamak için kullanılabilir. Seçici tuzak yüklemesi, optik cımbızların bir parçacığı ve tekrarlanan tuzak yüklemeleri üzerindeki değişikliklerini tersine çevrilebilir bir şekilde izlemesini sağlar, böylece parçacık-yüzey etkileşimi çalışmalarına olanak tanır.

PZT başlatıcısı CAD yazılım paketi kullanılarak tasarlanmıştır. Şekil 2'de PZT tutucu ve örnek muhafaza materyal ve yöntemler, çeşitli imal edilebilir gösterilen Burada, ön yükleme (a PZT iki plakanın kelepçelenmiştir) için basit bir sandviç yapısı kullanmaktadır. Şekil 2d gösterildiği gibi hızlı bir gösteri için, termoplastik 3D baskı seçin. Yapı parçalarının göre, optik tuzak yükleme Şekil 3 'de gösterilmiştir. Bir kalibre CCD kamera d...

Seçilen dielektrik mikropartiküllerin havada fırlatılması ve kararlı bir şekilde yakalanması için bir protokol sunulmaktadır.

Havada Dielektrik mikropartiküllerin Optik Tuzak Yükleme

We demonstrate a method to trap a selected dielectric microparticle in air using radiation pressure from a single-beam gradient optical trap. Randomly ...

Bu video protokolünün amacı, havada mikro parçacık levitasyonu elde etmek için parçacık yapışmasının üstesinden gelmek ve alt tabakadan parçacık salınımını kolaylaştırmak için bir piezoelektrik fırlatıcının nasıl yapıldığını ve kullanıldığını göstermektir. Bir yüzeyden fırlatmanın avantajı, parçacığın boyut, şekil, optik özellikler veya yönelime göre seçilebilmesidir. Bu sonuncusu, asimetrik parçacıkları yakalamak için yararlı olabilir.Parçacığın tekrarlanan yakalanması ve inişi, parçacığın tekrar etkileşimi sırasında yüklü transfer gibi yüzey kimyasındaki soruları incelemek için yeni bir araç sağlayabilir. Parçacığın yüzeye geri döndürülmesi, aynı parçacığın taramalı elektron mikroskobu gibi diğer yöntemlerle daha sonraki ölçümlerine de izin verir ve ayrıca tekrarlanan yakalama ve iniş döngülerine izin verir. İlk olarak, piezoelektrik dönüştürücü için bir tutucuda dikdörtgen bir çerçeve 3D yazdırın.Şeffaf numune muhafazasını oluşturmak için çerçevenin dar kenarlarını indiyum kalay oksit kaplı camla ve geniş kenarlarını ve üstünü geleneksel camla yerleştirin. Daha sonra, 20 mikrometre çapındaki dielektrik mikro parçacıkların küçük bir kısmını bir cam slayt üzerine dökün. Kabı hemen bir desikatöre geri koyun.Bir cam kılcal boru kullanarak, slayttan bazı mikro parçacıkları alın. Kılcal boruya hafifçe vurarak parçacıkları bir kapak kızağına dağıtın. Alt tabaka üzerindeki dağılmış mikro parçacıkların miktarını ve dağılımını doğrulamak için bir mikroskop kullanın.Ardından, bir alüminyum plakaya yalıtım filmi uygulayarak piezo fırlatıcı düzeneğine başlayın. Halka tipi bir piezoelektrik dönüştürücüyü plaka üzerinde ortalayın ve plakadan yalıtım filmi ile ayrıldığından emin olun. Mikro parçacık dağılmış kapak fişini dönüştürücünün üzerine yerleştirin ve 3D baskılı tutucuya bir bakır halka takın.Dönüştürücüyü, 3D baskılı tutucu ve iki M6 vida ile plaka üzerindeki yerine sabitleyin. Numune muhafazasını anında yapıştırıcı ile tutucuya hafifçe yapıştırın. Tamamlanan fırlatıcı düzeneğini, ters çevrilmiş bir optik mikroskobun XYZ öteleme aşamasına monte edin.Piezoelektrik dönüştürücü uçlarını voltaj amplifikatörüne ve amplifikatörü fonksiyon üretecine bağlayın, tüm bağlantıların güvenli ve uygun şekilde topraklandığından emin olun. Dönüştürücü sürüş voltajı sinyalini izlemek için amplifikatör izleme çıkış portunu bir osiloskopa bağlayın. Fonksiyon üretecini, amplifikatöre sıfır ila bir volt arasında sürekli bir kare dalga gönderecek şekilde yapılandırın.Amplifikatör kazancını volt başına 200 volta ayarlayın. Mikro parçacıkları gerçek zamanlı olarak görüntülemek için mikroskobu ayarlayın. Ardından, mikro parçacık hareketini izlerken sürüş sinyalinin modülasyon frekansını 0 ila 150 kilohertz arasında manuel olarak tarayın.Piezoelektrik düzenek, rezonans genliğini yükseltmek ve arızayı azaltmak için dönüştürücüye mekanik ön yük uygulamak üzere tasarlanmıştır. Frekanslar, yüzeydeki parçacığı izleyerek dönüştürücünün rezonans frekansını belirlemeye yardımcı olabilir. Yapışmış parçacık olmadan mikro parçacık hareketinin maksimize edildiği frekans, fırlatıcı rezonans frekansıdır.Rezonans frekansını tam olarak belirlemek için taramayı daha düşük voltajlarda gerektiği kadar tekrarlayın. 600 volt genlikli rezonans frekansında bir voltaj sinyali oluşturmak için dalga formunu ayarlayın. Fonksiyon üretecini, seri çekim modunda 10 ila 20 döngülü bir kare dalga için yapılandırın.Her darbeden sonra parçacıkların serbest bırakıldığını kontrol edin. Parçacıklar serbest bırakılmazsa, genliği veya döngü sayısını artırın. CCD üzerindeki yakalama ışınının odağını bulmak için lazer kaplı filtreyi mikroskoptan çıkarın.Motorlu odaklama bloğunun dikey konumunu ayarlayarak odağı optimize edin. Filtreyi değiştirin ve numuneyi, seçilen bir parçacık yakalama lazer odak konumunda olacak şekilde çevirin. Parçacık merkezini görüntülemek için parçacığa odaklanın.Parçacığı başlatmak için piezoelektrik fırlatıcıyı birkaç voltaj darbesi ile çalıştırın ve elektro nesne modülatörünün güç kaynağını gerektiği gibi ayarlayın. Parçacık hafifçe bulanıklaştığında ve Brown hareketine başladığında, sıkışma meydana gelmiştir. Bindirme kirişinin odağı, başarılı tuzak yüklemesi için kritik öneme sahiptir.Pim odağını numune düzleminin birkaç mikron altına yerleştirmek, yakalama verimliliğini artırmaya yardımcı olur. Parçacık sadece hafifçe hareket ederse ve alt tabaka üzerinde odakta kalırsa, yakalama gücünü artırın. Parçacık yüzeyde yeni bir yere uçarsa, gücü azaltın.Parçacık başarılı bir şekilde yüklendikten sonra, yüzey etkileşimlerini önlemek için havaya kaldırılan parçacığı cam kapak kaymasının yaklaşık bir milimetre üzerine çevirmek için objektif merceği yukarı hareket ettirin. Ardından, havaya kaldırılan parçacığı daha kararlı nominal yakalama konumuna hareket ettirmek için optik gücü azaltın. Başlatıcıyı, dönüştürücü tutucu optik eksen üzerinde ortalanacak şekilde hareket ettirin.Parçacığı numune muhafazasına dikey olarak daha yükseğe çevirmek için objektif lensi hareket ettirin. Ölçümlere başlamak için, X ve Y kanallarının güç spektrumu yoğunluk grafikleri iyi eşleşene kadar kondansatörü ve odaklama lensini ayarlayın. Ardından numune muhafazasına yüksek voltaj kaynağı bağlayın.Tuzak özelliklerini ve parçacık yükünü ölçmek için, parçacığın balistik hareketini oluşturmak için bir elektrostatik alan uygulayın. İndüklenen parçacık yörüngesinde adım uyarma sinyalini kaydedin. Brown hareketinin etkilerini azaltmak için gerektiği kadar çok dönem için verilerin ortalamasını alın.Ölçümü gerçekleştirdikten sonra, parçacığı diğer parçacıklardan ayrı tutmak için cam kapak kaymasının merkezine yerleştirmek için objektif merceği aşağı doğru hareket ettirin. Piezoelektrik fırlatıcı düzeneği, havaya kaldırılan parçacığı hava akımlarından korumak için şeffaf bir muhafazadan ve parçacığı serbest bırakmak için alt tabakayı titreştiren bir piezoelektrik dönüştürücüden oluşur. Muhafaza tabanı açıktır, böylece alt tabaka doğrudan dönüştürücünün üzerine yerleştirilebilir.Mikro parçacıklar, odağın üzerindeki havaya yükselme konumunda veya optik kuvvetlerin parçacığı her yöne stabilize ettiği odağın yakınındaki yakalama konumunda yakalanabilir. Havaya yükselme konumunda, yerçekimi yukarı doğru radyasyon basıncına karşı koyar, böylece optik kuvvetler parçacığı yalnızca enine stabilize eder. Brown hareketi gibi küçük yer değiştirmeler için, optik kuvvet doğrusal bir yay olarak ele alınabilir.Rezonans frekansı, güç spektral yoğunluk grafiğinden belirlenebilir. Tuzağın doğrusal rejimdeki sertliği ve optik kuvveti daha sonra rezonans frekansı, bilinen kütle ve ölçülen yer değiştirmeden hesaplanabilir. Daha geniş yer değiştirme aralıkları üzerindeki kuvvetler, uygulanan elektrik alanındaki indüklenen balistik hareketten belirlenebilir.Geçici tepki yöntemi ile balistik yer değiştirmenin analizi, rezonans frekansını, sönümlemeyi ve kararlı durum yer değiştirmesini verir. Doğrusal olmayan kuvvetler parametrik kuvvet yöntemi ile belirlenebilir. Mikropartikülleri havaya kaldıran bu yaklaşım, boyut, şekil veya malzeme özellikleri için seçilen partikülleri kullanarak hassas ölçümlere olanak tanır ve ayrıca aynı partiküller üzerinde sonraki ölçümlere izin verir.Bu yöntemi kullanarak, bir parçacığın fırlatılması ve inmesi yüzlerce döngü boyunca tekrarlanabilir. Bu aynı zamanda, tek elektron duyarlılığı ile temas elektrifikasyonu gibi parçacık yüzeyi etkileşiminin hassas çalışmalarına da izin verecektir.

optical-trap-loading-of-dielectric-microparticles-in-air

Research

JoVE Journal

Engineering

Mühendislik

Bu makalede, hidrodinamik akış dayalı parçacık hapsi mikroakışkan tabanlı bir yöntem mevcut. Biz böylece entegre bir microdevice keyfi parçacıkların hapsi ve mikromanipülasyon sağlayan bir geribildirim kontrol mekanizması kullanılarak bir sıvı durgunluk noktasında kararlı parçacık yakalama göstermektedir.

Tek Parçacıklar için mikroakışkan tabanlı Hidrodinamik Tuzak

Plasmonic cımbız ve fotonik kristal nanoyapıların optik yakalama mikro ve nano-parçacıklar verimlilik ve yönlendirme kontrolü yararlı geliştirmeler üretmek için gösterilmiştir.

Gelişmiş mikro ve Nanopartikül Manipülasyon Plasmonic ve Fotonik Kristal Nanoyapıların Kullanımı

Dielektrik düşük güç optik hapsi aşağıdaki kurulum yaklaşımı ayrıntıları metal film bir çift nanohole kullanarak nanopartiküller.

Nanopartiküllerin Optik Yakalama

plasmonik cımbız katılan bir mikroçip üretim süreci burada sunulmuştur. Mikroçip maksimum sıkıştırma kuvvetinin ölçülmesi için bir tuzak parçacığın görüntülenmesine olanak sağlar.

Bir İzleme Ortamında plasmonik Yakalama ve Nanopartiküller Yayın

Biz optik mikro-parçacıklar nanoplasmonic optik kafes tuzak açıklayınız.

Nanoplasmonic optik kafes içinde mikro parçacıkların bindirme

Bu protokol, emülsiyonların enzimatik sindirimi sırasında damlacıklar arası kuvvetleri gerçek zamanlı olarak ölçmek için çift tuzaklı optik cımbız kullanır. Gıda bilimi ve farmasötik uygulamaları ile emülsiyon stabilitesi ve damlacık dinamiğinin incelenmesini kolaylaştırır.

Enzimatik parçalanma sırasında emülsiyon damlacıkları arasında gerçek zamanlı kuvvet ölçümü

Bu makale, dinamik, tekne şeklinde fotoforetik bir tuzak kullanarak havada büyük metalik parçacıkların uzun süreli, stabil tuzaklanması ve hassas konumlandırılması için deneysel yöntemi tanımlar. Bu sistem, plazmonik etkileşim çalışmaları için uygun kontrollü manipülasyonu mümkün kılar.

Doğrudan çekilen yan duvarlara sahip bir &#39;tekne&#39; tuzağı kullanarak havada büyük metal parçacıkların optik olarak hapsedilmesi

Lityum iyon pillerin sikke hücreleri oluşturmak ve test etmek için bir protokol tanımlanmıştır. , Bir çalışan elektrot, bir karşı elektrot hale hazırlanması, bir glovebox içindeki bir hücre montajı ve hücre test prosedürleri spesifik sunulmaktadır.

İnşaat ve Lityum İyon pillerin Coin Hücre Testi

Bir protokol çinko / hava hücresi için geliştirilen önceki teknolojisini kullanarak çoklu elektron metal / hava pil sistemlerinin çalışma sunulmuştur. Elektrokimyasal test sonra performansını değerlendirmek için fabrikasyon pil ile gerçekleştirilir.

VB Fabrikasyon<sub&gt; 2</subElektrokimyasal Test için&gt; / Hava Hücreleri

Yatay ve dikey elektrohidrodinamik sıvı köprüler yüksek yoğunluklu elektrik alanları ve polar dielektrik sıvıların etkileşimi keşfetmek için basit ve güçlü araçlardır. Temel aparat ve (örneğin, su, DMSO ve gliserol) sunulmuştur, üç sıvı için termografik görüntü dahil olmak üzere, çalışma örnekleri, bu yapı.

Polar Dielektrik Sıvılar gelen elektrohidrodinamik Köprülerin Hazırlanması

Öğrenin, piezoelektrik fırlatıcı ile havada dielektrik mikropartikülleri optik tuzaklama yöntemini. Yüzey kimyası çalışmaları için tekrarlanabilir ölçümler ve tek elektron hassasiyetinde temas elektriklendirme araştırmaları yapın.

Havada Dielektrik mikropartiküllerin Optik Tuzak Yükleme

Daha fazla video keşfet