Name: Sıralı Kızılötesi Termografi ile Konveyör Bant Fırınında Situ Yüzey Sıcaklığı Ölçümü (Video) | JoVE Journal
Uploaded: 2020-05-30T13:00:00.000+00:00
Duration: 7 min 3 s
Description: Keşfedin, konveyör bant fırınında kızılötesi termografi kurulumunu ve silikon güneş hücrelerinde temassız, gerçek zamanlı yüzey sıcaklığı ölçümünü. Bu yöntem üretim sürecini kesintiye uğratmadan hassas sıcaklık izleme sağlar.

ai_agent_IP

ai_agent

maintenance

instantTrialDurationMinutes

isBiopharma

enableNewMyJoveSectionDesign

educationFeatures

seoMetaApi

ai_copilot_institution_blacklist

ai_chat_institution_blacklist

freeAccessWindow

ssoRoleCapture

scheduledMaintenanceBanner

joveLabsFeatures

disable_autoplay_for_bots

extended_trial_duration

5 minutes

playerTrialDesktop

Bu çalışma, "Feuerdrache" (0324205B) projesi kapsamında Almanya Federal Ekonomik İşler Bakanlığı tarafından desteklenmiştir. Yazarlar bu çalışmada emeği geçen iş arkadaşlarına ve proje ortaklarına (InfraTec, Rehm Thermal Systems, Heraeus Noblelight, Trumpf Photonic Components) ortak finansman ve olağanüstü destek sağladıklarından dolayı teşekkür eder.

1. Ir kameranın konveyör bant fırınına montajı
<ol><li>Fırının hangi bölümünün IR kamera ile ölçüleceğine karar verin. NOT: Burada, ateşleme işleminin en yüksek bölgesi seçilir (Bkz. Şekil 1A'nınateşleme alanındaki turuncu vurgulu bölge).</li>
	<li>IR kamerasının tespit etmesi gereken sıcaklık aralığını tanımlayın (örneğin, 700−900 °C, ateşleme işleminin tipik en yüksek sıcaklık aralığı).</li>
	<li>İlgi sıcaklığı (belirli bir kamera açısı altında) için en yüksek emisyon aralığını belirlemek için (deneyler veya literatür yoluyla), ilgi alanının (örn. silikon güneş pili) sıcaklığını, spektral ve açısal bağımlı emisyonlarını belirleyin veya en azından tahmin edin. NOT: Burada emisyon, önceki literatür3 ve radpro10adlı bir yazılıma göre tahmin edilmektedir, bu yazılım ilgi çekici malzemeler için spektral, açısal ve ısıya bağlı emissivity hesaplar.</li>
	<li>IR kamera türüne karar verme NOT: Burada bir orta dalga kızılötesi (MWIR) indiyum antimonid (InSb) kamera(Malzeme Tablosu)kullanılır.<ol>
<li>İlgi nin sıcaklık aralığını algılayabilen bir kamera seçin.</li>
		<li>Algılama dalga boyu aralığı, ilgi nin sıcaklık aralığındaki ilgi çekici nesnenin en yüksek emisyon dalga boyu aralığıyla eşleşen bir kamera seçin.</li>
		<li>Kamera görüş alanına radyasyon yayan veya yansıtan nesnelerden kaçınarak kamera tarafından mümkün olduğunca çok parazitik radyasyon tespitinden kaçının (örn. fırındaki IR lambaları).</li>
		<li>Kameranın gerekli mekansal ve zamansal çözünürlüğüne karar verin (örn. 640 px x 512 px ve burada kullanılan kamera için 125 Hz [tam görüntü] ).</li>
	</ol>
</li>
	<li>IR kameradan nesneye yeterli optik yolu gerçekleştirin (Bkz. Şekil 1B).<ol>
<li>Optik yolda rahatsız edici nesnelerden kaçının (örneğin, doğrudan veya yansıyan ışığa neden olan IR lambaları).</li>
		<li>Mümkünse kamerayı fırın odasının dışına yerleştirin. NOT: Çoğu kameranın çalışma sıcaklıkları düşüktür (örn. 50 °C'ye kadar). İstenirse kamera konumunun değiştirileebileceğinden önceden emin olun.</li>
		<li>Optik yolun olması gereken konumdafırın duvarını ve izolasyonu çıkarın ve deliği yalıtımlı bir IR penceresi ile değiştirin.<ol>
<li>Aşağıdaki talepleri karşılayan pencere için uygun malzemeyi seçin: 1) kameranın algılama dalga boyu (λ) aralığı için mümkün olduğunca saydam (örneğin, ~0,2 μm < λ < 3 μm için kuvars cam pencere, ~0,4 μm < λ < 4,2 μm) ve 2) fırın odasını termal olarak izole edebilir. NOT: Pencerenin ortaya çıkan sıcaklıkları pencere iletimini etkileyebilir.</li>
			<li>IR penceresinin zarar görmesini önleyebilirsiniz. Isı genleşmesi sırasında kırılmayı önlemek için pencereyi sıkmayın. NOT: Pencere malzemesi ısıtıldığında genişletmek için yeterli miktarda alana sahip olmalıdır.</li>
		</ol>
</li>
	</ol>
</li>
	<li>IR kamera yazılımı aracılığıyla termografi görüntüsünü inceleyerek IR kameranın ortaya çıkan görüş alanını (FOV) kontrol edin. Termografi görüntüsünde hedeflenen nesneyi ve sıcaklığını tanımlayın. Gerekirse FOV'u ayarlayın.</li>
</ol>2. Bir üretim kalibre IR kamera küresel müşteri sıcaklığı düzeltme
DİkKAT: IR kameranın imalatında radyometrik kalibrasyon içerdiği varsayılmaktadır.
<ol><li>Yansıma ve arka plan radyasyonu gibi yerel optik yapıları tespit edin.</li>
	<li>Ir kamera ile termokupl da dahil olmak üzere gofret kaydederken nesnenin klasik termokupl ölçümlerini gerçekleştirin.<ol>
<li>Kullanılan termokuplların geçerliliğini kontrol edin. İşlenmiş nesnenin sıcaklık profilinde açıkça tespit edilebilen bilinen karakteristik sıcaklık noktalarını arayın (örn. düzgün bir çizgide bozulma). Termokupl bu sıcaklık noktalarını doğru şekilde ölçerse, termokupl büyük olasılıkla doğru kalibre edilir.</li>
		<li>Silikon güneş pilleri kullanarak örnek<ol>
<li>Termokupl gofret arka alüminyum tarafında yerleştirin. Standart bir ateşleme işlemi için sıcaklık profili alın11.</li>
			<li>577 °C'lik Al-Si eutectic sıcaklığının etrafındaki 2.2.2.1 adımdan sıcaklık profilinde bir bozulma olup olmadığını daha düz bir eğri şeklinde belirleyerek termokuplları doğrulayın (Şekil 2D'deolduğu gibi). NOT: Bozulma 577 °C civarında ki sıcaklıkta meydana gelirse, termokupltarafından sıcaklık ölçümünün doğru olduğunun bir işaretidir. Aşağıdaki adımlar için yalnızca doğrulanmış termokupllar kullanın.</li>
		</ol>
</li>
		<li>Zaman-sıcaklık profilleri elde etmek için aynı nesne noktasında (istatistiksel nedenlerle birden çok kez) sıcaklık aralığında termokupl ölçümleri gerçekleştirin, sonra mekansal olarak çeşitli rastgele noktalarda (istatistiksel nedenlerle) gerçekleştirin.</li>
	</ol></li>
	<li>Termokupl ölçümlerinden termokuplların altındaki yerel düzeltilmemiş termografi nesne sıcaklığını 2.2.3 adımdan belirleyin ve termokuplun nesnenin üst tarafına yerleştirin.<ol>
<li>Temas eden termokuplun etrafında olası bir yerel sıcaklık düşüşü olup olmadığını kontrol edin (ısı dağılımı ve gölgeleme nedeniyle). Yerel bir sıcaklık düşüşü yoksa, termokuplun çevresindeki sıcaklığı doğrudan termokuplun altındaki nesne sıcaklığı olarak kabul edin.</li>
		<li>Yerel bir sıcaklık düşüşü varsa aşağıdaki adımları gerçekleştirin.<ol>
<li>Termokupl tarafından kapsanmayan kısımdaki mevcut sıcaklık düşüşünün mekansal sıcaklık gradyanını belirleyin. NOT: Sıcaklık düşüşü (radyal) etrafında birden fazla noktada degradebelirlemek ve ortalama bir degrade belirlemek için tavsiye edilir.</li>
			<li>Termokupl tarafından indüklenen olası optik eserlerin katkısını tahmin edin (örneğin, si güneş pillerinde olduğu gibi hücre derinliği yönü boyunca homojen sıcaklığın varsayıldığı bir durum için protokol).<ol>
<li>Termokupl'u ölçülen yüzeyin karşısındaki yüzeye yerleştirin ve termopl ve termografi ölçümünü bu konfigürasyonda tekrarlayın (Şekil 3A'dagösterildiği gibi). Termokupl da dahil olmak üzere nesneyi, termokuplun kamera ile nesne arasındaki optik yolda olmaması için döndürün. NOT: Yerel sıcaklık düşüşünün degradesi, termokuplun optik yolun içinde ve dışında olması yla aynıysa (örneğin, ölçülen veya karşı yüzeye bağlı), termokuplun büyük olasılıkla optik objeleri tetiklemediğinin bir işaretidir.</li>
				<li>Termokuplun altındaki nesnenin sıcaklığını elde etmek için ölçülen yüzeye (yani optik yol içinde) temas etmesi durumunda sıcaklık düşüşünün degradesini hesaplayın.</li>
				<li>Adım 2.2.3'ten her ölçüm için 2.3.2.2.2'yi tekrarlayın.</li>
			</ol>
</li>
		</ol>
</li>
	</ol></li>
	<li>2.3'e Alternatif: Termokupl ölçümlerinden termokuplların altındaki yerel düzeltilmemiş termografi nesne sıcaklığını 2.2.3 adımdan belirleyin ve termokuplu nesnenin alt tarafına yerleştirin. Termokupl altında yerel düzeltilmemiş termografi güneş pili sıcaklığını belirlemek için, termokupl konumunda yerel sıcaklık ayıklayın. NOT: Termokuplun arka tarafta tutulması, termokuplun kamera tarafından nesnenin görüşünü engellemesini önler. Bu nedenle, bir yandan, sıcaklık düzeltme önemli ölçüde basittir. Öte yandan, termokupllar genellikle ateşleme işlemi sırasında nesnenin alt tarafında konumlandırılmış değildir, bu nedenle operasyonel komplikasyonlara yol açabilir, bu nedenle bu alternatif ekstra dikkatli yapılması gerekir.</li>
	<li>Düzeltilmemiş termografi görüntüsünü, 2.3 veya 2.4 adımlarından elde edilen verilerle termokupl ölçülen sıcaklıklara göre düzeltin.<ol>
<li>Ölçülen sıcaklıkları termokupllar aracılığıyla düzeltilmemiş IR termografisi ile belirlenen sıcaklıklara göre çizin. Bir eğri uydurma gerçekleştirin.</li>
		<li>Düzeltilmemiş termografi görüntüsü için elde edilen eğriyi genel bir tekdüze küresel düzeltme formülü olarak uygulayın.</li>
	</ol></li>
	<li>Özellikle optik parametreler farklı olduğunda, her yeni nesne türü veya yapılandırma için sıcaklık düzeltmesini tekrarlayın.</li>
</ol>3. IR termografisi ile mekansal yüzey sıcaklık dağılımının değerlendirilmesi
NOT: Ateşleme koşullarının bu bölüm için aynı olduğu varsayılır.
<ol><li>İki boyutlu bir pik sıcaklık dağılım haritası oluşturulması (Bkz. Şekil 4A)<ol>
<li>Tüm kamera FOV boyunca her nesne yüzey nokta için yüzey nesne sıcaklığı nı izlemek için uygun bir programlama dili ile bir komut dosyası yazın, yani aynı anda tüm nesne noktalar yerleştirilir bir "sanal termokupl" olarak hareket. NOT: Burada, komut dosyası MATLAB yazılmıştır.</li>
		<li>Her nesne noktası için maksimum değeri, yani en yüksek sıcaklığı ayıklayın ve bu sıcaklıkları ilgili 2B dağıtım haritasında çizin.</li>
	</ol>
</li>
	<li>Nesne üretim yönüne dik ve ortalama sıcaklık dağılımı (Bkz. Şekil 4B)<ol>
<li>Üretim yönünde: elde etme yönüne ters olan boyuttaki 2B sıcaklık dağılımının ortalaması. Geriye kalan, üretim yönünde ortalama 1D sıcaklık dağılımıdır.</li>
		<li>Üretim yönüne dik: üretim yönünde olan boyuttaki 2B sıcaklık dağılımının ortalaması. Geriye kalan, üretim yönüne dik ortalama 1D sıcaklık dağılımıdır. NOT: Nesne kenarındaki optik yapılar ortaya çıkan sıcaklık ortalamasını tahrif edebileceğinden, ortalama kenarın son santimetresini (en az) dışarıda bırakmanız önerilir.</li>
	</ol>
</li>
</ol>

<ol><li>Xu, J., Zhang, J., Kuang, K. <a target="_blank" href="http://scholar.google.com/scholar?hl=en&safe=off&q=author%3aXu%2C+J+%22Conveyor+Belt+Furnace+Thermal+Processing%22">Conveyor Belt Furnace Thermal Processing</a>. , Springer. Heidelberg, Germany. (2018).</li>
<li>Breitenstein, O., Warta, M. W. <a target="_blank" href="http://scholar.google.com/scholar?hl=en&safe=off&q=author%3aBreitenstein%2C+O+%22Langenkamp+Lock-in+Thermography%3A+Basics+and+Use+for+Evaluating+Electronic+Devices+and+Materials%22">Langenkamp Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials</a>. , Springer. Heidelberg, Germany. (2010).</li>
<li>Ravindra, N. M., Ravindra, K., Mahendra, S., Sopori, B., Fiory, A. T. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Modeling+and+Simulation+of+Emissivity+of+Silicon-Related+Materials+and+Structures%5BTitle%5D)+AND+%22Journal+of+Electronic+Materials%22%5BJournal%5D)">Modeling and Simulation of Emissivity of Silicon-Related Materials and Structures.</a> Journal of Electronic Materials. 32 (10), 1052-1058 (2003).</li>
<li>Ourinson, D., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((In+Situ+Solar+Wafer+Temperature+Measurement+during+Firing+Process+via+Inline+IR+Thermography%5BTitle%5D)+AND+%22Physica+Status+Solidi+%28RRL%29+-+Rapid+Research+Letters%22%5BJournal%5D)">In Situ Solar Wafer Temperature Measurement during Firing Process via Inline IR Thermography.</a> Physica Status Solidi (RRL) - Rapid Research Letters. 13 (10), 1900270(2019).</li>
<li>Ourinson, D., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((In-situ+wafer+temperature+measurement+during+firing+process+via+inline+infrared+thermography%5BTitle%5D)+AND+%22AIP+Conference+Proceedings%22%5BJournal%5D)">In-situ wafer temperature measurement during firing process via inline infrared thermography.</a> AIP Conference Proceedings. 2156, 020013(2019).</li>
<li>Cooper, I. B., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Understanding+and+Use+of+IR+Belt+Furnace+for+Rapid+Thermal+Firing+of+Screen-Printed+Contacts+to+Si+Solar+Cells%5BTitle%5D)+AND+%22IEEE+Electron+Device+Letters%22%5BJournal%5D)">Understanding and Use of IR Belt Furnace for Rapid Thermal Firing of Screen-Printed Contacts to Si Solar Cells.</a> IEEE Electron Device Letters. 31 (5), 461-463 (2010).</li>
<li>Schubert, G., Huster, F., Fath, P. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Physical+understanding+of+printed+thick-film+front+contacts+of+crystalline+Si+solar+cells-Review+of+existing+models+and+recent+developments%5BTitle%5D)+AND+%22Solar+Energy+Materials+and+Solar+Cells%22%5BJournal%5D)">Physical understanding of printed thick-film front contacts of crystalline Si solar cells-Review of existing models and recent developments.</a> Solar Energy Materials and Solar Cells. 90 (18-19), 3399-3406 (2006).</li>
<li>Rauer, M., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Aluminum+Alloying+in+Local+Contact+Areas+on+Dielectrically+Passivated+Rear+Surfaces+of+Silicon+Solar+Cells%5BTitle%5D)+AND+%22IEEE+Electron+Device+Letters%22%5BJournal%5D)">Aluminum Alloying in Local Contact Areas on Dielectrically Passivated Rear Surfaces of Silicon Solar Cells.</a> IEEE Electron Device Letters. 32 (7), 916-918 (2011).</li>
<li>Pawlik, M., Vilcot, J. -P., Halbwax, M., Gauthier, M., Le Quang, N. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Impact+of+the+firing+step+on+Al+2+O+3+passivation+on+p-type+Czochralski+Si+wafers%3A+Electrical+and+chemical+approaches%5BTitle%5D)+AND+%22Japanese+Journal+of+Applied+Physics%22%5BJournal%5D)">Impact of the firing step on Al 2 O 3 passivation on p-type Czochralski Si wafers: Electrical and chemical approaches.</a> Japanese Journal of Applied Physics. 54 (8), 21(2015).</li>
<li>Lee, B. J., Zhang, Z. M. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((RAD-PRO%3A+Effective+Software+for+Modeling+Radiative+Properties+in+Rapid+Thermal+Processing%5BTitle%5D)+AND+%222005+13th+International+Conference+on+Advanced+Thermal+Processing+of+Semiconductors%22%5BJournal%5D)">RAD-PRO: Effective Software for Modeling Radiative Properties in Rapid Thermal Processing.</a> 2005 13th International Conference on Advanced Thermal Processing of Semiconductors. , Santa Barbara, CA. (2005).</li>
<li>Temperature Measurements. , Available from: 
 <a target="_blank" href="https://meettechniek.info/measuring/temperature.html">https://meettechniek.info/measuring/temperature.html</a> (2020).</li>
<li>Blakers, A. W., Wang, A., Milne, A. M., Zhao, J., Green, M. A. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((22.8%25+efficient+silicon+solar+cell%5BTitle%5D)+AND+%22Applied+Physics+Letters%22%5BJournal%5D)">22.8% efficient silicon solar cell.</a> Applied Physics Letters. 55 (13), 1363-1365 (1989).</li>
<li>Dullweber, T., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((PERC%2B%3A+industrial+PERC+solar+cells+with+rear+Al+grid+enabling+bifaciality+and+reduced+Al+paste+consumption%5BTitle%5D)+AND+%22Progress+in+Photovoltaics%3A+Research+and+Applications%22%5BJournal%5D)">PERC+: industrial PERC solar cells with rear Al grid enabling bifaciality and reduced Al paste consumption.</a> Progress in Photovoltaics: Research and Applications. 24 (12), 1487-1498 (2016).</li>
<li>Ourinson, D., Emanuel, G., Lorenz, A., Clement, F., Glunz, S. W. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Evaluation+of+the+burnout+phase+of+the+contact+firing+process+for+industrial+PERC%5BTitle%5D)+AND+%22AIP+Conference+Proceedings%22%5BJournal%5D)">Evaluation of the burnout phase of the contact firing process for industrial PERC.</a> AIP Conference Proceedings. 2147 (1), 040015(2019).</li>
</ol>

Yazarların açıklayacak bir şeyi yok.

Genellikle, termografi sıcaklığı ölçme ve nesnenin optik parametreleri adapte, transmissive pencere ve yol ve nesnenin çevre sıcaklığı ve transmissive pencere2düzeltilir. Alternatif bir yöntem olarak, termokupl ölçümlerine dayalı bir sıcaklık düzeltme tekniği bu protokolde tanımlanmıştır. İkinci yöntem için, yukarıda belirtilen parametrelerin bilgisi gerekli değildir. Burada gösterilen uygulama için bu yöntem yeterlidir. Ancak, termokupl yönteminin konveyör bant fırınındaki tüm termografi uygulama...

Konveyör bant fırın1'de işlenen nesnelerin proses1 kontrolü ve kalite güvencesi, nesnenin yüzey sıcaklığının ölçülmesi ile önemlidir ve gerçekleştirilir. Şu anda, sıcaklık genellikle bir termokupl1ile ölçülür. Termokupl ölçümleri nesneyle temas gerektirdiğinden, termokupllar kaçınılmaz olarak nesneye zarar verir. Bu nedenle, sıcaklık ölçümleri için bir toplu iş temsili örnekleri seçmek yaygındır, onlar zarar beri daha fazla işlenmez. Bu hasarlı nesnelerin ölçülen sıcaklıkları daha sonra daha fazla işlenir toplu kalan örnekleriçin genelleştirilmiştir. Buna göre termokupl ölçümleri için üretimin kesilmesi gerekmektedir. Ayrıca, temas yerel, her ölçümden sonra düzeltilmesi gerekir ve yerel sıcaklığı etkiler.
Kızılötesi (IR) termografi2 klasik termokupl ölçümlerine göre bir takım avantajlara sahiptir ve temassız, yerinde, gerçek zamanlı, zaman kazandıran ve mekansal olarak çözülmüş sıcaklık ölçüm yöntemini temsil eder. Bu yöntem kullanılarak, daha fazla işlenmiş olanlar da dahil olmak üzere toplu işlemin her örneği üretimi kesintiye uğratmadan ölçülebilir. Buna ek olarak, yüzey sıcaklık dağılımı ölçülebilir, bu da işlem sırasında sıcaklık homojenliğine ışık sağlar. Gerçek zamanlı özellik, sıcaklık ayarlarının anında düzeltilmesine olanak tanır. Şimdiye kadar, konveyör bant fırınlarında IR termografisi kullanılmaması için olası nedenler 1) sıcak nesnelerin bilinmeyen optik parametreleri (özellikle ametaller için3)ve 2) fırında parazitik çevresel radyasyon (yani, nesneden yayılan radyasyona ek olarak IR kamera tarafından tespit yansıyan radyasyon), hangi yanlış sıcaklıkçıkışı2 yol açar .
Burada, bir konveyör bant fırınında IR termografisinin temsili bir kanıtı olarak, endüstriyel Si güneş pillerinin temas ateşleme işlemi sırasında kullanılan IR lambası ile çalışan güneş fırınına(Şekil 1)bir sıralı termografi sistemi kurduk (Şekil 2A,B)4,5. Ateşleme süreci endüstriyel güneş piliüretimi6 sonunda önemli bir adımdır. Bu adımda hücrenin kontakları7,8oluşur ve yüzey pasifasyonu9'daaktive edilir. İkincisini başarılı bir şekilde başarmak için, ateşleme işlemi sırasındaki zaman sıcaklığı profilinin(Şekil 2C)doğru bir şekilde gerçekleştirilmesi gerekir. Bu nedenle yeterli ve verimli sıcaklık kontrolü gereklidir. Bu protokol, bir konveyör bant fırınına ir kamera nın nasıl yerleştirilmeyeceği, fabrikada kalibre edilmiş bir IR kameranın müşteri düzeltmesinin nasıl yapılacağını ve hedef nesnenin mekansal yüzey sıcaklık dağılımının nasıl değerlendirilebildiğini açıklar.

<table><tbody><tr>Termal bariyer <td>Datapaq Ltd.</td> <td>dahil veri kaydedici</td><td></td><td></td></tr><tr><td>IR termografi kamerası "Image IR 8300"</td><td>InfraTec GmbH</td><td></td><td></td></tr><tr><td>IR termografi yazılımı "IRBIS Professional 3.1"</td><td>InfraTec GmbH</td><td></td><td></td></tr><tr><td>Güneş pilleri</td><td>Fraunhofer ISE</td><td></td><td></td></tr><tr><td>Güneş ateşleme fırını "RFS 250 Plus"</td><td>Rehm Thermal Systems GmbH</td><td></td><td></td></tr><tr><td>K</td> <td>tipi kılıf termokupllarıTMH GmbH</td><td></td><td></td></tr><tr><td>Termokupl kuvars çerçevesi</td><td>Heraeus Noblelight GmbH</td><td></td><td></td></tr></tbody></table>

sıralı kızılötesi termografi ile konveyör bant fırınında situ yüzey sıcaklığı Ölçümü

In Situ Surface Temperature Measurement in a Conveyor Belt Furnace via Inline Infrared Thermography

Konveyör bant fırınlarında işlenen nesnelerin yüzey sıcaklığının ölçülmesi, proses kontrolü ve kalite güvencesinde önemli bir araçtır. Şu anda konveyör bant fırınlarında işlenen nesnelerin yüzey sıcaklığı genellikle termokupllar ile ölçülür. Ancak, kızılötesi (IR) termometre, temassız, gerçek zamanlı ve uzamsal olarak çözümlenmiş bir yöntem olduğu için termokupl ölçümlerine göre birden fazla avantaj sunar. Burada, temsili bir kanıt-of-kavram örnek olarak, bir satırlı termografi sistemi başarıyla endüstriyel Si güneş hücrelerinin temas ateş süreci için kullanılan bir IR lamba sıyrık güneş ateş fırını, yüklenir. Bu protokol, bir konveyör bant fırınına ir kamera nın nasıl yerleştirilmeyeceği, fabrikada kalibre edilmiş bir IR kameranın müşteri düzeltmesinin nasıl yapılacağını ve hedef bir nesne üzerindeki mekansal yüzey sıcaklığı dağılımının değerlendirmesini nasıl gerçekleştireceklerini açıklar.

Şekil 3B−D'degösterildiği gibi, örnek nesne (burada, silikon bir güneş pili; kesinlikle konuşursak, pasif bir yayımlayıcı ve arka hücre [PERC]12; Şekil 2A,B) farklı konfigürasyonlarda IR kamera tarafından açıkça tespit edilebilir4. Farklı konfigürasyonlar monofacially metallized (Şekil 3B), bifacially metallized13 (<strong class...

Bu protokol, bir konveyör bant fırınına kızılötesi kamera nın nasıl yerleştirilmeyeceği, fabrikada kalibre edilmiş bir IR kameranın müşteri düzeltmesinin nasıl yürütüldürün ve ilgi çekici bir nesnenin mekansal yüzey sıcaklığı dağılımının nasıl değerlendirilecece açıklanmaktadır. Örnek nesneler endüstriyel silikon güneş pilleri vardır.

Sıralı Kızılötesi Termografi ile Konveyör Bant Fırınında Situ Yüzey Sıcaklığı Ölçümü

Measuring the surface temperature of objects that are processed in conveyor belt furnaces is an important tool in process control and quality assurance. ...

Sıralı fırınlarda işlenen nesnelerin sıcaklığını ölçmek çok önemli olduğundan, burada termokupllar tarafından klasik sıcaklık ölçümlerine umut verici bir alternatif olarak sıralı termografi sıyoruz. Termokupllar nesneye zarar verir, sıcaklığı yerel olarak ölçer ve üretim kesintisi gerektirir. Ancak inline termografi kameramız nesne sıcaklığını temassız, gerçek zamanlı, uzamsal olarak çözülmüş bir şekilde ölçer.Biz silikon güneş hücrelerinin temas ateş için sıralı fırınlar kullanın. Bu nedenle, bu avantajları araştırmak için fırınımıza sıralı bir termografi kamera yerleştirdik. İlgi sıcaklığı aralığındaki ilgi alanının en yüksek emisyonunun dalga boyu aralığıyla eşleşen algılama dalga boyu aralığına sahip bir kamera seçin.Kamerayı fırın odasının dışına yerleştirmek için, optik yolun bulunması gereken konuma fırın duvarını ve izolasyonu çıkarın ve optik yolda kızılötesi lambalar gibi rahatsız edici nesnelerden kaçının. Kameranın algılama dalga boyu aralığı için mümkün olduğunca şeffaf olurken fırın odasını termal olarak izole eden bir pencereyle deliği kapatın. Ardından, kamerayı pencerelerin üzerine yerleştirin, böylece kamera hareketli kemerüzerinde bir görseldir.Kameranın algılama

in-situ-surface-temperature-measurement-conveyor-belt-furnace-via

Research

JoVE Journal

Engineering

Mühendislik

Öropiyum thenoyltrifluoroacetonate (EuTFC) aktivasyon verimliliği sıcaklığı ile büyük ölçüde azalır azalmaz 612 nm'de bir optik lüminesans hattı vardır. Bu materyalin ince bir film ile kaplanmış bir örnek mikro görüntüsü ise, 612 nm ışık yayan yanıt yoğunluğu, numune yüzey sıcaklığının doğrudan harita haline dönüştürülebilirler.

Öropiyum Şelat Lüminesans Kaplamaları Kullanma yüksek çözünürlüklü Termal Mikro görüntüleme

Bu hava jetleri karıştırma sıcaklık alanını eşleştirmek için bir fiber optik sensör dağıtılmış kullanımını göstermektedir. Rayleigh saçılması tabanlı sensör gibi termokupllar gibi geleneksel sensörleri ile ulaşılamaz istisnai uzaysal çözünürlüğü sağlamak için tek bir fiber boyunca veri noktaları binlerce üretir.

Yüksek çözünürlüklü Sıcaklık Alan Haritalama için Fiber Optik Sensörler Dağıtılmış

Bu yöntem dikey yüzey altı kusurların bulunmasını amaçlamaktadır. Burada, bir lazeri bir alansal ışık modülatörüyle birleştirip, iki aşamalı modüle edilmiş çizgi ile deterministik olarak bir örnek yüzeyini ısıtmak için video girdisini tetikleyip çok çözünen termal görüntüler elde ediyoruz. Arıza konumu, termal dalga girişim minimum değerinin değerlendirilmesinden alınır.

Lazerle Projeksiyonlu Fototermal Termografi Kullanılarak Yapısal Isıtma Yöntemiyle Alt Yüzey Kusurlu Lokalizasyonu

Bir indüksiyon ısıtmalı manyetik küre küçük çevreleyen su sıcaklığı ölçmek için 1150 Ve 1412 nm dalga boyu kullanan bir yöntem sunulur.

Yakın kızılötesi sıcaklık ölçüm tekniği bir indüksiyon ısıtmalı manyetik küre küçük çevreleyen su için

Bu el yazması itibariyle Yerel anlık konvektif ısı transfer katsayıları tek veya iki aşamalı boru akışı ölçme amaçlı yöntemleri açıklar. Uzunluğu ve sabit bir hızda hareket uzun (taş) hava kabarcığı yayılma hızı belirlemek için basit bir optik yöntem de sunulmaktadır.

Yerel anlık konvektif ısı transferi boru - tek ve iki aşamalı akış ölçümleri

Burada sunulan bir örnek konteyner dikey mikroskop üzerine monte edilmesini sağlayan bir sıcaklık kontrollü mikroskop aşaması kullanarak bir protokoldür.

Sıcaklık kontrol fonksiyonlu dikey gözlem için mikroskop aşamasının imalatı

Bu kağıt, iç termal sıcak noktaların dağıtılmış durum izleme amacıyla fiber Bragg ızgara (FBG) termal sensörleri ile rasgele yara elektrik bobinleri enstrümantetasyon sağlayan bir protokol sunuyor.

FBG Sensör Lüplama kullanılarak Elektrikli Bobinlerde Situ Termal Sıcak Noktalar İzlemesi Için Tasarım, Enstrümantasyon ve Kullanım Protokolleri

CdSe-SnSe nanokompozitler, yüzey mühendisliği SnSe parçacıklarının birleştirilmesiyle üretilir. SnSe parçacıkları üretmek için basit bir sulu sentez kullanılır. SnSe parçacıklarının CdSe moleküler kompleksleri ile kaplanması, tane boyutunun kontrol edilmesine ve nanokompozitte bulunan kusur sayısının arttırılmasına izin verir, böylece termal iletkenliği düşürür.

Çözelti işlenmiş, yüzey mühendisliği, düşük ısı iletkenliği sergileyen polikristal CdSe-SnSe

Burada, elementel öncüler kullanılarak ultra hızlı (ikinci aralık), solvent içermeyen ve tek aşamalı mekanokimyasal sentez yoluyla termoelektrikler için uygun iki metal kalkojenit (Cu1.8S ve SnSe) sentezlemek için bir protokol sunuyoruz. Eş zamanlı olarak, yeni geliştirilen cihaz tarafından yerinde planet bilyalı frezeleme sırasında kavanozdaki sıcaklığın izlenmesini gösteriyoruz.

Termoelektriklere Uygun Metal Kalkojenitlerin Mekanokimyasal Sentezinin Basitliğini ve Yerinde Sıcaklık İzlemesini Gösterme

Bu makale, alternatif akım (AC) ve düz akım (DC) ile çalışan bir distillasyon kolon kazanında ısıtma elementinin termal davranışı ve enerji verimliliği üzerine karşılaştırmalı bir çalışma sunar; minimum ve maksimum sıcaklık, termal verilerin ortalaması ve varyasyon katsayısı gibi istatistiksel sonuçlardan performansını değerlendirir.

Kızılötesi termografi analizi kullanılarak bir damıtma kolonunda AC ile DC elektrik ısıtıcılığının ısınmasının termal davranışı ve güç verimliliği karşılaştırması

Keşfedin, konveyör bant fırınında kızılötesi termografi kurulumunu ve silikon güneş hücrelerinde temassız, gerçek zamanlı yüzey sıcaklığı ölçümünü. Bu yöntem üretim sürecini kesintiye uğratmadan hassas sıcaklık izleme sağlar.

Sıralı Kızılötesi Termografi ile Konveyör Bant Fırınında Situ Yüzey Sıcaklığı Ölçümü

Daha fazla video keşfet