DOI: 10.3791/61955-v
Please note that some of the translations on this page are AI generated. Click here for the English version.
Kriyojenik Odaklı İyon Işını (FIB) ve Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) teknikleri, bozulmamış katı-sıvı arayüzlerinin kimyası ve morfolojisi hakkında önemli bilgiler sağlayabilir. Bu tür arayüzlerin yüksek kaliteli Enerji Dağıtıcı X-ışını (EDX) spektroskopik haritalarını hazırlama yöntemleri, enerji depolama cihazlarına odaklanarak detaylandırılmıştır.
Kriyo-SEM ve FIB yöntemi, numunelerin doğal yapısını korurken katı-sıvı arayüzlerini ve biyolojik numuneleri incelemek için kullanılabilir. Bu tekniğin temel avantajı, kriyo-SEM'in kullanıcının onlarca nanometre çözünürlüğe sahip madeni para hücresi pil elektrotları gibi makroskopik cihazların arayüzünü hızlı bir şekilde incelemesine izin vermesidir. Bir kriyo-SEM aşaması ve bir antikontaminant takarak başlayın.
SEM odasını boşaltın ve gaz enjeksiyon sistemini, CBS'yi, platin kaynağını ayarlayın, böylece yerleştirildiğinde, kaynak numune yüzeyinden yaklaşık beş milimetre uzağa oturacaktır. CBS sıcaklığını 28 santigrat dereceye ayarlayın ve fazla malzemeyi temizlemek için sistemi 30 saniye boyunca havalandırmak için deklanşörü açın. Ardından, SEM odasının en az sekiz saat boyunca tahliye edilmesine izin verin.
07:37
Related Videos
13.3K Views
10:54
Related Videos
27.2K Views
13:15
Related Videos
11.5K Views
10:25
Related Videos
17.5K Views
10:29
Related Videos
13.1K Views
11:59
Related Videos
9.7K Views
10:28
Related Videos
9.5K Views
08:20
Related Videos
4K Views
08:31
Related Videos
3.8K Views
10:53
Related Videos
13.5K Views
