VMXm Beamline'da Mikrokristaller için Örnek Hazırlama Boru Hattı

4.2K görüntüleme

10 kez atıf

09:00 dk

17 Haziran 2021

10.3791/62306-v

17 Haziran 2021

4.2K görüntüleme

Verilerin sinyal-gürültü oranı, mikrokristallerden X-ışını kırınım ölçümlerinin yapılmasında en önemli hususlardan biridir. VMXm kiriş çizgisi, bu tür deneyler için düşük gürültülü bir ortam ve mikrobülans sağlar. Burada, VMXm ve diğer mikro odak makromoleküler kristalografi kiriş hatları için mikrokristallerin montajı ve soğutulmasından dolayı örnek hazırlama yöntemlerini açıklıyoruz.

Daha fazla video keşfet

Mikrokristal Haz rlama

Chapters in this video

0:05

Introduction

0:42

Instrument and Blotting Parameter Set-up

2:53

Crystal Harvest Process

4:01

Light Microscopy for Sample Density Assessment

4:30

Scanning Electron Microscopy for Sample Assessment

5:38

Grid Preparation for the Diffraction Experiments at VMXm

6:47

Results: Analysis of the Microcrystals on the Grids

8:24

Conclusion

Related Videos