Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / Paralel plaka Waveguide Sensor Kullanımı…
JoVE Journal
Engineering

A subscription to JoVE is required to view this content.

JoVE Journal Engineering
Paralel plaka Waveguide Sensor Kullanımı Terahertz Mikroakışkan Algılama
Measurement of X-ray Beam Coherence along Multiple Directions Using 2-D Checkerboard Phase Grating
Journal (Engineering)
Measurement of X-ray Beam Coherence along Multiple Directions Using 2-D Checkerboard Phase Grating
In Situ Time-dependent Dielectric Breakdown in the Transmission Electron Microscope: A Possibility to Understand the Failure Mechanism in Microelectronic Devices
Journal (Engineering)
In Situ Time-dependent Dielectric Breakdown in the Transmission Electron Microscope: A Possibility to Understand the Failure Mechanism in Microelectronic Devices
 
Click here for the English version

Paralel plaka Waveguide Sensor Kullanımı Terahertz Mikroakışkan Algılama

Article DOI: 10.3791/4304-v • 07:28 min • August 30th, 2012
August 30th, 2012 •
1, 1, 1, 1
1Department of Electrical and Computer Engineering, Rice University

Chapters

Summary
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Bir yivli paralel plaka dalga geometrisine göre Terahertz frekansları için bir kırılma endeksi algılayıcı uygulanması için işlem burada tarif edilmektedir. Yöntem dalga yapısının rezonans frekansındaki kaymalar izlenmesi yoluyla sıvı küçük bir hacim kırılma indeksi ölçümü verir

Tags

Fizik Sayı 66 Elektrik Mühendisliği Bilgisayar Mühendisliği Terahertz radyasyonu algılama mikroakışkan kırılma endeksi sensörü dalga kılavuzu optik algılama
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter