バックミンスターフラーレンのナノ結晶のフェムト秒回折実験中長距離電子相関の測定

X 線の強い、フェムト秒パルスによるバックミンスターフラーレン (C₆₀) のナノ結晶における電子傷害をプローブする実験について述べる.実験は、驚いたことに、確率論的であることではなく、x 線照射 C₆₀のダイナミクスの相関が高まる、電子結晶¹内の単位セルの数百に及ぶ発見。