TEM Workflows, Results Analysis, and Data Management Using a Machine-Vision Approach

Summary

Automatic Translation

• English (Original)
• العربية (Arabic)
• 中文 (Chinese)
• dansk (Danish)
• Nederlands (Dutch)
• français (French)
• Deutsch (German)
• עברית (Hebrew)
• हिंदी (Hindi)
• italiano (Italian)
• 日本語 (Japanese)
• 한국어 (Korean)
• norsk (Norwegian)
• português (Portugese)
• русский (Russian)
• español (Spanish)
• svenska (Swedish)
• Türkçe (Turkish)

Ici, nous présentons un protocole permettant d’utiliser un logiciel de vision industrielle pour stabiliser les processus dynamiques pendant l’imagerie TEM, tout en indexant simultanément plusieurs flux de métadonnées sur chaque image dans une chronologie navigable. Nous démontrons comment cette plateforme permet l’étalonnage et la cartographie automatisés de la dose d’électrons au cours d’une expérience.