通过清除技术对稻田进行深度荧光观察

本方案描述了一种用于稻芽的清除技术，由于组织的坚硬，厚厚或分层的性质，这些苗很难为内部结构观察做准备。这种方法有助于连续和深入的荧光观察，即使在成年水稻植物中也是如此。