18.3K مشاهدة
•
استشهد بها 17
•
14:58 دقيقة
•
يونيو 3, 2015
يونيو 3, 2015
•Chapters in this video
0:05
Title
3:11
Creation of the Field Oxide Layer, Ohmic Contacts, and the Gate Oxide
7:10
Gate Patterning
9:20
Device Integrity Tests
10:57
Results: Device Integrity Test Results and Millikelvin Measurements
12:13
Conclusion
Related Videos
حقوق الطبع والنشر © 2026 MyJoVE Corporation. جميع الحقوق محفوظة.