可变角度全内反射荧光显微镜下细胞黏附的纳米拓扑结构

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09:14 分钟

2012年10月2日

10.3791/4133-v

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通过变角全内反射荧光显微镜(VA-TIRFM),可实现对细胞在基底上黏附拓扑结构的纳米级精度测量。

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可变角度全内反射显微镜

Chapters in this video

0:05

标题

1:40

细胞的接种与孵育

2:47

可变角全内反射荧光显微镜

5:26

数据分析

6:45

结果:胶质母细胞瘤细胞与基底距离的计算

8:32

结论

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