可变角度全内反射荧光显微镜下细胞黏附的纳米拓扑结构

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09:14 分钟

2012年10月2日

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通过变角全内反射荧光显微镜(VA-TIRFM),可实现对细胞在基底上黏附拓扑结构的纳米级精度测量。

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Chapters in this video

0:05

Title

1:40

Seeding and Incubation of Cells

2:47

VA-TIRFM

5:26

Data Analysis

6:45

Results: Calculation of Cell-substrate Distances in Glioblastoma Cells

8:32

Conclusion

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