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09:14 分钟
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2012年10月2日
2012年10月2日
•通过变角全内反射荧光显微镜(VA-TIRFM),可实现对细胞在基底上黏附拓扑结构的纳米级精度测量。
Chapters in this video
0:05
Title
1:40
Seeding and Incubation of Cells
2:47
VA-TIRFM
5:26
Data Analysis
6:45
Results: Calculation of Cell-substrate Distances in Glioblastoma Cells
8:32
Conclusion
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