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09:14 分钟
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2012年10月2日
2012年10月2日
•通过变角全内反射荧光显微镜(VA-TIRFM),可实现对细胞在基底上黏附拓扑结构的纳米级精度测量。
Chapters in this video
0:05
标题
1:40
细胞的接种与孵育
2:47
可变角全内反射荧光显微镜
5:26
数据分析
6:45
结果:胶质母细胞瘤细胞与基底距离的计算
8:32
结论
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