September 26th, 2014
无序的结构提供了功能性缺陷的设计形成光子带隙和前所未有的自由的新机制。规避无序系统中的计算,我们构建新的类PBG材料的模块化宏观样品,并使用微波来表征它们的尺度不变光子性质,以简单且廉价的方式。
以下实验的总体目标是使用介电固体的微波尺度样品来研究无序光子带隙材料的光子特性。这是通过构建由介电元件制成的测试样品来实现的,这些样品插入 3D 打印的底座模板中,孔和槽排列成特定的有序或无序图案。作为第二步,将样品放在一对微波喇叭天线之间的旋转台上,并在很宽的频率范围内对不同的入射角进行传输测量,这将允许确定结构的带隙特性。
接下来,修改结构以形成功能缺陷并进行传输测量,以研究修改后结构的波导和谐振特性。通过分析测得的透射光谱,获得的结果显示了结构带隙的频率范围和角度依赖性,以及它们的功能缺陷的性能。这种数值模拟和亚微米级实验方法技术的主要优点是,该技术避免了使用大量的竞争资源和昂贵的亚微米制造,因此可以快速且廉价地构建无序的光子带隙材料,通过任意缺陷设计对其进行修改并直接表征它们的光子特性。
该技术的影响延伸到任何光子系统,包括可见光区域和红外区域。因为微观方程是按变量缩放的,所以当 zaper 缩小 10, 000 倍时,完全相同的设计和结果可以应用于可见光。见解。本视频在设计了二维超均匀无序介电结构并制造了其基座之后开始。
底座由透明树脂制成,并有孔和槽,无序结构将组装在其上。还制作了第二个方形晶格基座以进行比较。每个底座高 2 厘米,准备好这些元素。
将注意力转移到将用于构建结构的构建块上。获得 Illumina 杆和薄壁,它们在这里至少是几个波长的高度,10 厘米。所有杆的直径为 5 毫米,壁厚始终为 0.38 毫米,宽度不同。
接下来,构建一个无缺陷的测试结构,该结构具有近乎圆形的边界,用于带隙测量。通过将杆和墙插入到所需的结构架构的底座中来做到这一点。这是超均匀的无序结构。
施工后以相同的方式产生方形晶格结构。这是方形晶格的最终结果。在工作台上设置实验。
使用合成的扫荡式微波发生器提供 45 兆赫兹至 50 千兆赫兹范围内的辐射,分辨率为 1 赫兹。将其连接到 S 参数测试集以测量传输参数,以测量和处理来自 S 参数测试集的信号。连接微波矢量网络分析仪,然后使用高质量的半柔性同轴电缆将 S 参数测试仪端口与输入和输出波导连接,以确保 E 场的线性极化。
使用连接到顺金属喇叭天线的矩形单模波导和适配器。天线位于旋转舞台的两侧,该结构将放置在旋转舞台上。接下来,在控制面板上为实验设置仪器参数。
对于矢量网络分析仪,请在此处选择要测量的频率范围,即 7 GHz 至 15 GHz。然后选择一个平均因子来控制杂色。最后,对于这个 7 到 15 GHz 的测量,选择所需的数据点数量以实现 10 兆赫兹的频率分辨率。
安排一台计算机来自动测量和数据记录。通过校准系统开始带隙测量。首先,将喇叭垂直和水平对齐,使它们在大约 40 厘米的距离上彼此相对,大约是扫描平均波长的 15 倍,与测量设置相同,但喇叭之间没有样品。
开始微波扫描以测量通过自由空间的传输。在 1 到 2 分钟内完成扫描后,将结果保存为矢量网络分析仪中的校准集。这是通过自由空间传输与频率的典型关系图。
首先,确保将载物台的角度刻度归零。现在,在两个喇叭之间的旋转台上将一个具有近乎圆形边界的无缺陷结构居中。在这种情况下,超均匀无序结构用于准备用于测量的矢量网络分析仪。
打开保存的校准集,以允许测量通过样品的相对透射率。在扫描完成并保存数据后,开始微波扫描以收集数据。安排辐射从另一个方向入射到结构上。
为此,请将载物台逆时针旋转 2 度,为下一次测量做准备,并使用保存的校准数据对相对透射进行另一次测量。完成 0 到 180 度之间的所有测量后,从天线之间移除结构。将每个喇叭旋转 90 度以实现不同的场极化。
极化正在从横向磁变为横向电。对结构进行校准和测量。同样,在带隙测量之后,准备用于波导测量的结构。
利用模块化设计,通过移除元件来快速创建波导。在这种情况下,将无缺陷的超均匀结构转换为有通道穿过的结构。改用更小的喇叭天线进行波导测量。
然后将天线尽可能靠近通道开口。这种天线相对于信道的布置确保了良好的耦合,关闭矢量网络分析仪中的校准并开始微波扫描。矢量网络分析仪将显示并记录检测到的功率与源功率的原始传输比。
测量完成后。将两个角旋转 90 度。为了能够表征极化、结构的依赖性,测量这种新配置中的透射率。
这就是超均匀结构的 TE 极化传输。在一个角度处,纵轴以分贝为单位。横轴是频率。
以 GHz 为单位,在 8.5 GHz 和 9.5 GHz 之间下降超过两个数量级表示存在阻带区域。大约 13 GHz 的下降是由于天线性能造成的。这些是通过方格和超均匀缺陷结构的传输的极坐标图。
沿径向是光速在晶格间距上的频率(以单位为单位)。角度对应于事件的角度。由于吹嘘,方形晶格阻带的低透射率区域为蓝色,散射沿着方形 BRI 和边界出现。
相比之下,超均匀缺陷结构、终止间隙形成和各向同性光子带隙。这是一个带有直通道波导的超均匀无序样品。通道的宽度是平均内杆间距的两倍。
这是通过通道的 TM 波的检测到的功率与源功率的测量比率,以平均内杆间距上的光速为单位。粉红色区域是没有通道的样品的 TM 带隙。引入通道后,宽带将引导通过样品。
一旦掌握,如果在开发后正确执行,模块化样品的设计、构造和传输测量可以在几个小时内完成。这项技术为研究人员探索无序材料的光子特性及其可能的应用铺平了道路。
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本研究利用微波尺度样品探索无序光子带隙材料的光子特性。通过构建模块化样品并采用微波表征,该研究旨在揭示光子带隙形成的新机制。
This microwave-based technique enables rapid, low-cost characterization of photonic bandgap properties in disordered dielectric structures, offering a scalable alternative to nanofabrication for early-stage photonic material screening. By leveraging scale invariance, results from centimeter-scale microwave samples directly inform infrared and optical device design, accelerating target validation in photonic integrated circuits and sensing applications. The method supports mechanistic de-risking by enabling iterative defect engineering and waveguide prototyping before committing to expensive lithographic processes.
The method fits within the discovery continuum from early target validation through lead identification, where photonic material properties are screened prior to preclinical prototyping of diagnostic or therapeutic devices.