本文介绍了一种研究冷冻断裂植物组织的方法。将高压冷冻的叶片样品进行冷冻断裂并双层镀膜,获得保存良好的冷冻水合样品,随后使用冷冻扫描电子显微镜在高倍率下成像,且电子束损伤最小。
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标题
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叶片组织的高压冷冻固定
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冷冻断裂与双层镀膜
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低温扫描电子显微镜
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结果:冷冻断裂叶片组织中光合膜的低温扫描电子显微镜分析
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结论
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