神经科学中透射电镜切片取样的无偏方法

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10:56 分钟

2019年4月13日

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我们介绍一种用于脑组织电子显微镜研究的新型工作流程。该方法可使用户以无偏倚的方式观察神经元特征。对于元素分析,我们还提供了一个脚本,可自动完成随机取样工作流程的大部分步骤。

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SerialEM

Chapters in this video

0:04

Title

1:02

TEM Preparation Embedding, Ultra-Thin Sectioning and Staining

2:05

Imaging of Corresponding ROIs on the Reference and Look-Up Sections on TEM with Software Packages

5:25

Analyze the TEM images with ImageJ to Document Ultrastructural Features

7:10

Using SerialEM Script to Optimize Elemental Analysis in Brain Samples in Combination with DigitalMicrograph

9:19

Results: Unbiased Approach of Sampling TEM Sections

10:25

Conclusion

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