Engineering
Ein Abonnement für JoVE ist erforderlich, um diesen Inhalt ansehen zu können. Melden Sie sich an oder starten Sie Ihre kostenlose Testversion.
Kapitel
Summary
Please note that all translations are automatically generated.
Vi beskriver en beamline setup tänkt att utföra snabba tvådimensionell x-ray fluorescens och röntgen microdiffraction kartläggning av enskilda kristaller eller pulver prover med hjälp av Laue (polykromatiska strålning) eller pulver (monokromatisk strålning) diffraktion. De resulterande kartorna ger information om stam, orientering, fas distribution och plastisk deformation.