Un sistema micro-electro-mecánico (MEMS) es un componente ampliamente utilizado en muchas industrias, incluyendo energía, biotecnología, medicina, comunicaciones y automoción. Sin embargo, se necesitan sistemas de metrología de inspección y caracterización eficaces para garantizar la fiabilidad funcional de los MEMS. En este estudio se presenta un sistema basado en la holografía digital como herramienta para la metrología MEMS. La holografía digital ha ganado cada vez más atención en los últimos 20 años. Con el rápido desarrollo y la disminución del costo de las matrices de sensores, la resolución de dichos sistemas ha aumentado, ampliando las aplicaciones potenciales. Por lo tanto, ha atraído la atención tanto de la investigación como de la industria como una herramienta potencialmente confiable para la metrología industrial. De hecho, al registrar el patrón de interferencia entre el haz de un objeto (que contiene información de altura de muestra) y un haz de referencia en una cámara CCD, se puede recuperar la información cuantitativa de fase de un objeto. Sin embargo, la mayoría de los sistemas holográficos digitales son voluminosos y, por lo tanto, no son fáciles de implementar en las líneas de producción de la industria. La novedad del sistema presentado es que no tiene lentes y, por lo tanto, es muy compacto. En este estudio, se demuestra que el Microscopio Holográfico Digital Compacto (CDHM) puede ser utilizado para evaluar varias características típicamente consideradas como criterios en las inspecciones MEMS. Se presentan los perfiles de superficie de los MEMS en condiciones estáticas y dinámicas. Se investiga la comparación con AFM para validar la precisión del CDHM.