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Nanotopology de adhesión celular en ángulo variable total microscopía de fluorescencia de reflexión interna (VA-TIRFM)
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09:14 min.
2 de octubre de 2012
Topología de la adhesión celular sobre un sustrato se mide con una precisión nanométrica de ángulo variable total de microscopía de fluorescencia de reflexión interna (VA-TIRFM).
Chapters in this video
0:05
Título
1:40
Siembra e incubación de células
2:47
VA-TIRFM
5:26
Análisis de datos
6:45
Resultados: Cálculo de las distancias célula-sustrato en células de glioblastoma
8:32
Conclusión
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