Rendu SiO2/Si Surfaces omniphobes en sculptant des microtextures à gaz comprenant des cavités ou des piliers réentrants

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08:02 min

11 février 2020

10.3791/60403-v

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Ce travail présente des protocoles de microfabrication pour la réalisation de cavités et de piliers avec des profils de reentrant et doublement réentrants sur les plaquettes SiO2/Si utilisant la photolithographie et la gravure sèche. Les surfaces microtexturées résultantes démontrent la répulsivité liquide remarquable, caractérisée par le piégeage à long terme robuste de l’air sous les liquides mouillants, en dépit de la wettability intrinsèque de la silice.

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Piliers doublement rentrants

Chapters in this video

0:04

Introduction

1:08

Cavity Design and Wafer Cleaning

2:17

Photolithography

3:15

Silica (SiO2) and Silicon (Si) Layer Etching

4:30

Thermal Oxide Growth and Etching

6:00

Results: Representative Wetting Behaviors of Gas-Entrapping Microtextures (GEMs)

7:08

Conclusion

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