14.11
כמו AAS, ספקטרוסקופיית פליטה אטומית, או AES, מושפעת מהפרעות ספקטרליות ואנליטיות, אך טמפרטורת האטומיזציה הגבוהה של AES משנה את מאזן ההשפעה שלהן.
אטומייזרים בטמפרטורה גבוהה מעוררים מגוון רחב יותר של יסודות ומייצרים פליטות מורכבות בעצמם, מה שהופך הפרעות ספקטרליות הנובעות מקווי פליטה חופפים או רצועות לדאגה גדולה יותר.
לכן, AES ממזער הפרעות אלה עם רזולוציית מכשירים גבוהה, מיקום גלאים אופטימלי באזורים בעלי רקע נמוך, שיטות תיקון רקע יעילות וזיהוי קווי פליטה חלופיים.
הפרעות כימיות, לעומת זאת, נובעות מאינטראקציות בין אנליטים למינים אחרים ליצירת תרכובות יציבות.
מכיוון שפחות מינים יציבים בתנאי פלזמה, אניונים אנאורגניים, ממיסים אורגניים ומינים מומסים אחרים תורמים פחות הפרעה.
מקורות פלזמה יש גם אלקטרונים בשפע כדי לקזז הפרעות יינון, והחדרת אלמנטים קלים ליינון לתוך דגימות ותקנים עוד יותר מנטרל הפרעות כימיות ומשפר את הרגישות.
יתר על כן, ספיגה עצמית של קרינה הנפלטת על ידי אטומי אנליטה במצב הקרקע לפני גילוי היא גם פחות סבירה בפלזמה בגלל אורך המסלול הקצר יותר והטמפרטורה האחידה יותר.
בספקטרוסקופיית פליטה אטומית (AES), אטומיזרים בטמפרטורה גבוהה מעוררים מגוון רחב של יסודות ומולקולות, המייצרים פליטות מורכבות ממקורות כגון תחמוצות, הידר…
זכויות יוצרים © 2026 MyJoVE Corporation. כל הזכויות שמורות.