14.14
ICP הוא מקור מועדף עבור AES בשל יציבותו הגבוהה, רעש נמוך והיעדר הפרעות בתנאי ניסוי מדויקים.
זה בדרך כלל מנתח דוגמאות תמיסה. בנוסף, דגימות מוצקות מנותחות ישירות באמצעות אידוי אלקטרותרמי או לייזר ואבלציה של ניצוצות.
ספקטרומטריית פליטת פלזמה יכולה לזהות ולכמת איכותית כ-60 יסודות מהטבלה המחזורית.
עם זאת, יסודות כמו בורון, פחמן, חנקן, זרחן וגופרית דורשים ספקטרומטר ואקום מכיוון שקווי הפליטה שלהם נופלים מתחת ל-180 ננומטר, מה שיוצר הפרעות מרכיבים אטמוספריים.
גילוי מתכות אלקליות מציב אתגרים מתנאי הפעלה לא מתאימים ומקווי הפליטה התת-אדומים הקרובים שלהם.
בספקטרוסקופיית פליטת פלזמה, עקומות כיול הן חלקות ליניאריות של אותות חשמליים ביחס לעוצמת הקו כנגד ריכוז האנליט.
לצורך ניתוח כמותי, תקנים חיצוניים או תקנים פנימיים - עם קווי פליטה דומים והפרעות כימיות לאנליט - משמשים בדרך כלל.
עם זאת, תקנים פנימיים מועדפים כאשר גורמים כמו טמפרטורת מקור עירור ויעילות אטומיזציה משפיעים על עוצמת הפליטה ללא שליטה.
ספקטרוסקופיית פליטת אטומים (AES) היא שיטה אנליטית חזקה, במיוחד בשימוש עם מקורות פלזמה, המייצרים ספקטרות עשירות בקווי פליטה אופייניים. הפלזמה המצומדת א…
זכויות יוצרים © 2026 MyJoVE Corporation. כל הזכויות שמורות.