17.5K צפיות
•
צוטט 8 פעמים
•
08:53 דק׳
•
9 באוקטובר 2012
9 באוקטובר 2012
•המטרה הכללית של שיטה זו היא לקבוע את המבנה האלקטרוני האנרגיה נמוכה של מוצקים בטמפרטורות נמוכות במיוחד באמצעות ספקטרוסקופיה Photoemission angle-resolved עם קרינת סינכרוטרון.
Chapters in this video
0:05
כותרת
2:18
הרכבת הדגימה
3:01
השגת ואקום גבוה במיוחד ובידוד תרמי
4:02
מיקום וקירור הדגימה
4:55
איסוף נתונים
5:30
תוצאות: מבנה אלקטרוני ברזולוציה גבוהה של גבישים
7:23
סיכום
Related Videos
זכויות יוצרים © 2026 MyJoVE Corporation. כל הזכויות שמורות.