Angle-resolved ספקטרוסקופיה Photoemission בטמפרטורות נמוכות במיוחד

המטרה הכוללת של הניסוי הבא היא לקבוע את המבנה האלקטרוני באנרגיה נמוכה של מוצקים בטמפרטורות נמוכות במיוחד באמצעות ספקטרוסקופיה של פליטת צילום זווית או ARRP PEZ עם קרינת סינכרוטרון. במתקני הקרינה הסינכרוטרונים, תא ואקום גבוה במיוחד המחובר לקו האלומה, נחתך גביש בודד של החומר הנחקר, וחושף משטח נקי מבחינה אטומית כשלב שני. הדגימה מקוררת מתחת לקלווין אחד, מה שמבטיח הרחבת טמפרטורה מינימלית וקרבה למצב הקרקע של החומר.

לאחר מכן, עוצמת פליטת הצילום נרשמת כפונקציה של הטיה, זווית ואנרגיה וגיאומטריה סטטית. על ידי סיבוב ניתן לאסוף מידע מדגם מחלק גדול של שטח אנרגיית המומנטום הדרוש להשגת מפת פני השטח המיצוק ופיזורים קרובים לרמת המוצק מתקבלות תוצאות המראות כי ניתן לקבוע מבנה אלקטרוני באנרגיה נמוכה של חומרים מורכבים בבהירות וברזולוציה חסרות תקדים. שימוש במניפולטור הליום שלוש קריו ותוצאת זווית מבוססת סינכרוטרון עבור ספקטרוסקופיית הפליטה היא טכניקה המבוססת על אפקט פוטואלקטרי פשוט, שהתגלה והוסבר לפני יותר ממאה שנה.