Angle-resolved ספקטרוסקופיה Photoemission בטמפרטורות נמוכות במיוחד

17.5K צפיות

צוטט 8 פעמים

08:53 דק׳

9 באוקטובר 2012

10.3791/50129-v

9 באוקטובר 2012

17.5K צפיות

המטרה הכללית של שיטה זו היא לקבוע את המבנה האלקטרוני האנרגיה נמוכה של מוצקים בטמפרטורות נמוכות במיוחד באמצעות ספקטרוסקופיה Photoemission angle-resolved עם קרינת סינכרוטרון.

גלה סרטונים נוספים

מבנה אלקטרוני

Chapters in this video

0:05

כותרת

2:18

הרכבת הדגימה

3:01

השגת ואקום גבוה במיוחד ובידוד תרמי

4:02

מיקום וקירור הדגימה

4:55

איסוף נתונים

5:30

תוצאות: מבנה אלקטרוני ברזולוציה גבוהה של גבישים

7:23

סיכום

Related Videos