הדמיה גבוהה באמצעות מיקרוסקופיה קונפוקלית ספקטרלית כדי למזער פלואורסצנטיות רקמות לא ספציפיות

1.5K צפיות

10:28 דק׳

28 באוקטובר 2025

1.5K צפיות

Saven Denha^*¹^,² , Vitoria M. Olyntho^*¹^,² , Jake Colautti¹^,² , Dima Traboulsi¹^,² , Dan Stevens³ , Susan Waserman² , Doron D. Sommer⁴ , Manel Jordana¹^,² , Joshua F.E. Koenig¹^,²

¹McMaster Immunology Research Centre, Department of Medicine, Faculty of Health Sciences, McMaster University, ²Schroeder Allergy and Immunology Research Institute, Faculty of Health Sciences, McMaster University, ³Carl Zeiss Canada MicroImaging, ⁴Division of Otolaryngology, Department of Surgery, McMaster University Medical Centre, McMaster University Medical Centre

^* These authors contributed equally

הלבנה איטרטיבית ספקטרלית מרחיבה ריבוי (IBEX) מתבססת על טכניקת IBEX הבסיסית על ידי הוספת חסימת הפרין כדי למזער קשירה לא ספציפית ומינוף זיהוי ספקטרלי עם פירוק חישובי כדי לדכא אוטופלואורסצנטיות. גישה זו מאיצה את רכישת התמונה תוך הפחתת מקורות הרקע, ומאפשרת ניתוחים פרוטאומיים מרחביים רב-עגולים ובעלי פרמטרים גבוהים.