Collection-image

TOPICAL COLLECTIONS

Fiziksel Bilimler Araştırmaları için Son Teknoloji Elektron Mikroskobu
Submit Abstract

Guest Editor

Michael Zachman

Michael Zachman

Oak Ridge National Laboratory, Center for Nanophase Materials Sciences

Dr. Zachman, Oak Ridge Ulusal Laboratuvarı'ndaki Nanofaz Malzeme Bilimleri Merkezi'nde bir Uzman Bilim İnsanıdır . Lisans derecesini 2012 yılında Purdue Üniversitesi'nde Fizik bölümünden, doktora derecesini ise 2018 yılında Cornell Üniversitesi'nde Uygulamalı Fizik bölümünden almıştır . Michael'ın araştırma ilgi alanları, kuantum ve enerji malzemelerinin yapısını ve özelliklerini atomik ölçeğe kadar anlamayı mümkün kılacak elektron mikroskobu tekniklerini geliştirmek üzerinedir. Doktora çalışması, sıvıların bozulmadan kaldığı durumlarda, katı-sıvı arayüzey süreçlerini yüksek uzaysal çözünürlükle incelemek için kriyojenik odaklanmış iyon demeti ve analitik kriyojenik taramalı geçirimli elektron mikroskobu teknikleri geliştirme üzerine yoğunlaşmıştır . Lityum metal pillerdeki dendrit ve katı-elektrolit arayüzey tabakası oluşumu gibi süreçlere dair benzersiz bilgiler edinmek amacıyla bu teknikleri enerji malzemelerine ve enerji depolama cihazlarına uygulamıştır. Michael'ın doktora sonrası araştırmaları, iki boyutlu ve pil malzemelerinin nanometre ve atomik ölçeklerdeki yapılarını ve özelliklerini incelemek için çok boyutlu STEM tekniklerini ve monokromatize elektron enerji kaybı spektroskopisini geliştirip uygulamaya odaklanmıştır . Michael'ın araştırmaları şu anda, yeni malzemelerin geliştirilmesini ve mevcut malzemelerin iyileştirilmesini sağlamak amacıyla yakıt pili malzemelerinin performansını ve bozunmasını yöneten süreçlerin anlaşılmasını artırmak için bu tür teknikleri uyarlamaya ve eşleştirmeye odaklanmaktadır    .

Collection Overview

Son yıllarda, elektron mikroskopisi teknikleri çeşitli alanlar için hızla gelişmiştir. Özellikle fizik bilimlerinde, hem örnekler hakkında yeni bilgilerin elde edilmesini hem de yeni örnek türlerinin karakterize edilmesini sağlayan çok sayıda teknik geliştirilmiştir. Bu teknikler; atomik ölçekteki üç boyutli yapı, pikometre hassasiyetinde nanoölçekli gerinim dağılımları, elektromanyetik alan dağılımları ve lokalize vibrasyonel ve optik özellikler gibi geniş bir yelpazedeki malzeme özelliklerinin ölçülmesine olanak tanımıştır. Ek olarak, diğer teknikler standart sapma düzeltmesinin sağladığının ötesinde gelişmiş uzaysal çözünürlüğe imkan sağlamış ve düşük sıcaklıklı elektronik fazlar ile bozulmamış katı-sıvı ara yüzeyleri gibi faz diyagramlarının yeni bölgelerine erişim sunmuştur. Bu koleksiyon; tomografi, diferansiyel faz kontrastı, ptikografi, monokromatize EELS ve kriyojenik FIB/SEM ile STEM dahil olmak üzere, çok çeşitli bilimsel alanlarda önemli katkılar sağlamaya hazır olan bu yetenekleri sunan elektron mikroskopisi tekniklerini kapsayacaktır.

Editorial

Fizik Bilimleri Araştırmaları için Son Teknoloji Elektron Mikroskobu

Fizik Bilimleri Araştırmaları için Son Teknoloji Elektron Mikroskobu

0 Views

•

2023

•

Articles

Kriyo-Odaklı İyon Işını Frezelemeyi Taramalı Elektron Mikroskobu ve Spektroskopi ile Birleştirerek Sıvı-Katı Arayüzlerinin Nano Ölçekli Karakterizasyonu
11:03

Abstracts

Entegre Diferansiyel Faz Kontrast STEM (iDPC-STEM): Pratik yönler ve koşullar

Ivan Lazić*1,

Eric G.T. Bosch2,

Stefano Vespucci2

1Thermo Fisher Scientific, Achtseweg Noord 5, 5651 GG Eindhoven, The Netherlands,

2Thermo Fischer Scientific, Achtseweg Noord 5, 5651 GG Eindhoven, The Netherlands

4D-STEM ile gerinim kantifikasyonu

Raymond Unocic*1,

Debangshu Mukherjee*1

1Center for Nanophase Materials Sciences, Oak Ridge National Laboratory