Son yıllarda, elektron mikroskopisi teknikleri çeşitli alanlar için hızla gelişmiştir. Özellikle fizik bilimlerinde, hem örnekler hakkında yeni bilgilerin elde edilmesini hem de yeni örnek türlerinin karakterize edilmesini sağlayan çok sayıda teknik geliştirilmiştir. Bu teknikler; atomik ölçekteki üç boyutli yapı, pikometre hassasiyetinde nanoölçekli gerinim dağılımları, elektromanyetik alan dağılımları ve lokalize vibrasyonel ve optik özellikler gibi geniş bir yelpazedeki malzeme özelliklerinin ölçülmesine olanak tanımıştır. Ek olarak, diğer teknikler standart sapma düzeltmesinin sağladığının ötesinde gelişmiş uzaysal çözünürlüğe imkan sağlamış ve düşük sıcaklıklı elektronik fazlar ile bozulmamış katı-sıvı ara yüzeyleri gibi faz diyagramlarının yeni bölgelerine erişim sunmuştur. Bu koleksiyon; tomografi, diferansiyel faz kontrastı, ptikografi, monokromatize EELS ve kriyojenik FIB/SEM ile STEM dahil olmak üzere, çok çeşitli bilimsel alanlarda önemli katkılar sağlamaya hazır olan bu yetenekleri sunan elektron mikroskopisi tekniklerini kapsayacaktır.
0 Views
•
Cited by 3
•
2021
•
0 Views
•
2021
•
Kinga A. Unocic1, Dale K. Hensley1, Franklin S. Walden2, Wilbur C. Bigelow3, Michael B. Griffin4, Susan E. Habas4, Raymond R. Unocic1, Lawrence F. Allard5
1Center for Nanophase Materials Sciences, Oak Ridge National Laboratory, 2Protochips Inc., 3Department of Materials Science & Engineering, University of Michigan, 4Catalytic Carbon Transformation & Scale-up, National Renewable Energy Laboratory, 5Materials Science & Technology Division, Oak Ridge National Laboratory
Entegre Diferansiyel Faz Kontrast STEM (iDPC-STEM): Pratik yönler ve koşullar
Ivan Lazić*1,
Eric G.T. Bosch2,
Stefano Vespucci2
1Thermo Fisher Scientific, Achtseweg Noord 5, 5651 GG Eindhoven, The Netherlands,
2Thermo Fischer Scientific, Achtseweg Noord 5, 5651 GG Eindhoven, The Netherlands
4D-STEM ile gerinim kantifikasyonu
Raymond Unocic*1,
Debangshu Mukherjee*1
1Center for Nanophase Materials Sciences, Oak Ridge National Laboratory