Atomic Force Microscopy for Surface Mapping

Atomic force microscopy is used to map the surface details of materials. It can examine ceramics, glass, polymers, and biological samples. The method gives far more resolution than an optical imaging system and produces three-dimensional surface profiles instead of flat 2D images.

The probe is th...

原子力显微镜（AFM）利用纳米探针扫描样品表面，以纳米级分辨率提供样品的形貌信息。

虽然光学显微镜的放大倍数最高可达1000倍，但原子力显微镜（AFM）的放大潜力可达1,000,000倍。

原子力显微镜可以对固定和活体样品进行成像，从而能够捕捉肌动蛋白动态等动态细胞过程。

原子力显微镜的纳米探针连接在柔性悬臂的末端，二者共同对样品进行扫描。探针随着样品表面的轮廓上下移动，从而引起悬臂的偏移。

在一种原子力显微镜中，激光束照射在悬臂上，当悬臂移动时，激光的反射光也随之移动。

一个位置敏感型光电探测器记录激光束的偏转。

数据被发送到计算机，软件可对数据进行处理，以生成样品表面的三维图像。