Electron Microscopy: TEM vs SEM

Electron microscopy uses electrons instead of visible light to make images with much higher detail than a light microscope. Visible light limits the resolution of light microscopes, which usually magnify up to 1000X, and sometimes up to 1500X. Electrons have a much shorter wavelength, about 0.005 nm, so they can produce reso...

光学显微镜利用可见光照射物体，其透镜可将图像放大至多2000倍。  电子显微镜则使用波长极短的电子束代替光线，可将物体放大200万至5000万倍。

电子发射灯丝产生电子束，静电和电磁透镜将电子束聚焦到样品上。电子显微镜内部环境保持真空状态，因为空气分子可能偏转电子束。

根据电子束与样品相互作用方式的不同，电子显微镜可分为两种类型——透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）。

在透射电子显微镜（TEM）中，电子穿过薄样品后被用于生成二维图像。当电子束穿过样品时，可利用TEM获取样品内部成分和结构的信息。

在扫描电子显微镜（SEM）中，电子束扫描样品表面，然后利用反射的电子生成有关表面三维形貌和成分的信息。