How TEM Reveals Tiny Structures

Transmission electron microscopy uses electrons to reveal very small structures inside a specimen. The technique grew from the first electron microscope prototype developed in 1931 by physicist Ernst Ruska. He built on the idea that magnetic fields can direct an electron beam, just as lenses direct light in an optical micros...

透射电子显微镜（TEM）用于研究样品的内部结构和组成。

该仪器由一个发射电子束的电子枪组成。然后使用两个或多个电磁聚光镜将电子束聚焦到样品上。

穿过样品的电子由物镜收集并聚焦，形成中间像。该中间像再通过额外的中间镜和投影镜进一步放大。

最终图像可使用对电子敏感的成像设备捕获，例如磷光屏或CCD相机。

透射电子显微镜（TEM）可形成样品的二维黑白图像。较暗的区域代表密度较高的部分，这些区域透过的电子很少或完全不透过；而较亮的区域则表示有较多电子透过的区域。

透射电子显微镜（TEM）还可用于分析样品的成分。电子束与样品相互作用会产生特征X射线，可用于鉴定和定量样品中存在的不同元素。