Name: 原子探针层析成像研究在Cu（铟，镓）硒 2晶界 (视频) | JoVE Journal
Uploaded: 2013-04-22T12:00:00.000+00:00
Duration: 9 min 51 s
Description: 了解原子探针层析成像技术用于研究CIGS太阳能电池晶界化学成分与结构的相关性。该方法通过制备特定晶界结构的探针尖端，实现纳米尺度精确分析，有助于优化太阳能电池设计并提升转换效率。

ai_agent_IP

ai_agent

maintenance

instantTrialDurationMinutes

isBiopharma

enableNewMyJoveSectionDesign

educationFeatures

seoMetaApi

ai_copilot_institution_blacklist

ai_chat_institution_blacklist

freeAccessWindow

ssoRoleCapture

scheduledMaintenanceBanner

joveLabsFeatures

disable_autoplay_for_bots

extended_trial_duration

5 minutes

本工作由德国研究基金会（DFG）（合同编号 CH 943/2-1）资助。作者感谢巴登-符腾堡州太阳能与氢研究中心的 Wolfgang Dittus 和 Stefan Paetel 为本研究制备了 CIGS 吸收层。

1. CIGS 层沉积
<ol>
 <li>在3 mm厚的钠钙玻璃基板（SLG）上溅射沉积500 nm的钼（背电极层）。</li>
 <li>在在线多级CIGS工艺中共同蒸发2 μm的CIGS24。在钼背电极上沉积得到的CIGS层如图1所示。</li>
 <li>采用X射线荧光光谱法（XRF）测量CIGS层的整体成分。所得CIGS成分如表1所示。</li>
</ol>
2. 用于APT分析的特定位置样品制备
<ol>
 <li>将透射电镜钼网格切成两半，以获得一排作为后续样品支撑的针状结构。将透射电镜半网格安装到样品台上，随后在5 wt. % NaOH溶液中通过电化学抛光对针尖进行修整，直至尖端直径达到 &lt;2 μm。该过程可通过体视显微镜进行合理控制。然后将电化学抛光后的网格安装到另一个样品台上，该样品台经过优化，适用于连续进行聚焦离子束（FIB）、透射电子显微镜（TEM）、电子背散射衍射（EBSD）和原子探针断层扫描（APT）表征。</li>
 <li>使用聚焦离子束（FIB）在CIGS薄膜上铣出两条沟槽，以形成底切结构图2a在块的左侧做一个初始的自由切口。</li>
 <li>通过离子束诱导的化学气相沉积法沉积铂焊点，将微操纵器固定在样品块上。随后，在对侧完成最终的切割，提起并取出自支撑的样品块（图2b).</li>
 <li>将TEM钼半网格的尖锐针状突起切割成楔形（直径2-3 μm），确保与提取的样品块形成良好接触。使用铂沉积将样品块固定在针上。图 2c）。进行一次自由切割，最终仅在Mo针顶端保留一小部分样品（约2 μm）。随后将网格支架倒置，并用Pt填充Mo针与所固定样品之间的间隙。对剩余的样品部分采用相同的步骤处理。有关提取操作的更多细节，读者可参考以下文献 18,25.</li>
 <li>将网格竖直放置，并选择铂金焊接较薄的区域，使用较低的加速电压和束流（5 kV 和 &lt;50 pA）时，FIB中的样品表面更光滑，且由于镓引起的污染更少。+ 进行EBSD测量所需的植入。</li>
 <li>从在横截面上进行的EBSD测量中选择一个感兴趣的晶界。该晶界的取向最好垂直于原子探针中的分析方向（z轴），以减小局部放大效应 26，这在讨论部分有更详细的描述。已用高亮标出包含GB的一个适当区域 图 2d.</li>
 <li>在第 2.6 步选定的晶界区域进行环形铣削，以形成尖锐的针尖。曲率半径应足够小（&lt;100 nm）以进行后续透射电子显微镜（TEM）观察。为实现此目标，需逐步减小环形铣削图案的内径图2e）并同时通过二次电子（SE）观察针尖成形过程。因此，可校正束流偏移或调整铣削图案，以消除针尖上的不规则形貌，例如由不同溅射产额引起的波纹或材料再沉积，以及阴影效应等问题。 等等.</li>
 <li>通过使用透射电子显微镜（TEM）工具，确定晶界相对于针尖顶端的精确位置（参见 图 2f），需知晓与其他材料（如超合金）相比，CIGS晶界在扫描电镜（SEM）中不可见。</li>
 <li>精确定位APT针尖内晶界（GB）的位置后，将样品重新转移至聚焦离子束（FIB）设备，并继续对样品进行铣削，使晶界位于针尖顶端下方不超过200 nm的位置。此阶段的铣削采用极低加速电压（5 kV）和低电流（&lt;50 pA）。实际上，目标不仅是将GB更靠近针尖顶端定位，还要尽量减小Ga+ 在此过程中防止APT针尖受损。在低电压铣削的同时，通过SEM观察APT针尖的形状，并控制从针尖顶端去除的材料量（图2g).</li>
 <li>将样品再次转移至透射电子显微镜中，检查晶界相对于针尖顶端的位置。对样品拍摄一张概览图像（图2h）以精确获取晶界位置、样品直径演变以及半柄角的信息，这对于实现原子探针断层扫描（APT）数据的最佳重构至关重要。此外，应使用低倍率和缩短曝光时间，以尽量减少电子束引起的损伤和碳污染，从而降低APT测量的失败率。</li>
</ol>
3. 在 CAMECA LEAP 3000X HR 系统中进行 APT 分析
<ol>
 <li>将样品安装到APT样品杆中，然后将样品座安装至四个可用的转盘之一上。</li>
 <li>将装有样品杆的样品架插入装载锁中，并开始对装载锁抽真空。当装载锁内的真空度达到约 10-7 将转子插入缓冲室内的转盘中。</li>
 <li>等待后 ca1 小时以恢复缓冲室中的真空（约 7x10⁻⁴ mbar）-9 Torr），将样品从缓冲室转移至主分析室。此操作通过一根手动操作的水平转移杆完成。</li>
 <li>在开始APT内的测量之前，将温度冷却至60 K。该低温可避免分析过程中原子在样品表面发生扩散。需要指出的是，60 K是设定温度，而非APT针尖处实际测得的温度；由于样品受到激光加热，实际温度应更高。此方法由Kellog提出 等. 27，该温度可通过考虑相对电荷态比率来估算。然而，在本研究中，由于CIGS材料的场蒸发行为尚不明确，无法准确计算针尖的实际温度。</li>
 <li>APT 实验采用激光模式进行，使用波长约为 532 nm、脉冲长度为 12 psec 的绿色激光。</li>
</ol>
4. APT 数据的重建
<ol>
 <li>使用CAMECA集成可视化与分析软件（IVAS 3.6.2）打开RHIT文件（APT测量后直接获得的原始数据），该软件通常用于重建三维图谱28。</li>
 <li>通过以下八个步骤进行三维图谱的重建28：
 <ol>
 <li>步骤1—设置，此为只读面板，提供有关所选研究的性质和内容的全部详细信息。</li>
 <li>步骤2—选择离子序列范围。此步骤定义在重建数据中相对于样品电压所选择的离子序列范围。</li>
 <li>步骤3—选择探测器感兴趣区域（ROI）。此步骤可用于移除位于探测器ROI之外的离子（探测器事件直方图中的黑色椭圆区域）。</li>
 <li>步骤4—飞行时间（TOF）校正。此步骤计算用于分析的电压、飞行时间（TOF）以及探测器的平面性（“碗状校正”）校正。</li>
 <li>步骤5—质量校准。将分析的质量谱中测得的峰位置与已知的同位素/电荷态进行校准。</li>
 <li>步骤6—离子峰归属。在此步骤中，将质量谱中的峰分配至相应的元素同位素范围。</li>
 <li>步骤7—重建。此步骤对采集的数据应用三种重建方法之一：电压法、锥角法或尖端轮廓法。本研究采用最后一种方法重建三维图谱。该方法需要尖端的扫描电镜（SEM）或透射电镜（TEM）图像，如图2g和图2h所示。重建过程中任意点的尖端半径由SEM图像中定义的一系列点之间的线性插值得到。</li>
 <li>步骤8—确认。在此步骤中，重建选项卡中生成的预览将被转换为已保存的分析结果。</li>
 </ol>
 </li>
</ol>

<ol><li>Stanbery, B. J. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Copper+indium+selenides+and+related+materials+for+photovoltaic+devices%5BTitle%5D)+AND+%22Crit.+Rev.+Solid+State%22%5BJournal%5D)">Copper indium selenides and related materials for photovoltaic devices.</a> Crit. Rev. Solid State. 27, 73-117 (2002).</li>
<li>Kemell, M., Ritala, M., Leskelä, M. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Thin+film+deposition+methods+for+CuInSe2+solar+cells%5BTitle%5D)+AND+%22Crit.+Rev.+Solid+State%22%5BJournal%5D)">Thin film deposition methods for CuInSe2 solar cells.</a> Crit. Rev. Solid State. 30, 1-31 (2005).</li>
<li>Kazmerski, L. L. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Solar+photovoltaics+R%26D+at+the+tipping+point%3A+a+2005+technology+overview%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Electron+Spectrosc%22%5BJournal%5D)">Solar photovoltaics R&D at the tipping point: a 2005 technology overview.</a> J. Electron Spectrosc. 150 (2-3), 105-135 (2006).</li>
<li>Empa - MM-CIGS-Weltrekord [Internet]. , Empa. Available from:
		
	 <a target="_blank" href="http://www.empa.ch/plugin/template/empa/3/131438/---/l=2">http://www.empa.ch/plugin/template/empa/3/131438/---/l=2</a> (2013).</li>
<li>Sadewasser, S., Glatzel, T., Schuler, S., Nishiwaki, S., Kaigawa, R., Lux-Steiner, M. C. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Kelvin+probe+force+microscopy+for+the+nano+scale+characterization+of+chalcopyrite+solar+cell+materials+and+devices%5BTitle%5D)+AND+%22Thin+Solid+Films%22%5BJournal%5D)">Kelvin probe force microscopy for the nano scale characterization of chalcopyrite solar cell materials and devices.</a> Thin Solid Films. 431-432, 257-261 (2003).</li>
<li>Jiang, C. S., Noufi, R., AbuShama, J. A., Ramanathan, K., Moutinho, H. R., Pankow, J., Al-Jassim, M. M. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Local+built-in+potential+on+grain+boundary+of+Cu%28In%2CGa%29Se2+thin-films%5BTitle%5D)+AND+%22Appl.+Phys.+Lett%22%5BJournal%5D)">Local built-in potential on grain boundary of Cu(In,Ga)Se2 thin-films.</a> Appl. Phys. Lett. 84, 3477-1-3477-3 (2004).</li>
<li>Abou-Ras, D., Koch, C. T., Küstner, V., van Aken, P. A., Jahn, U., Contreras, M. A., Caballero, R., Kaufmann, C. A., Scheer, R., Unold, T., Schock, H. W. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Grain-boundary+types+in+chalcopyrite-type+thin+films+and+their+correlations+with+film+texture+and+electrical+properties%5BTitle%5D)+AND+%22Thin+Solid+Films%22%5BJournal%5D)">Grain-boundary types in chalcopyrite-type thin films and their correlations with film texture and electrical properties.</a> Thin Solid Films. 517, 2545-2549 (2009).</li>
<li>Nichterwitz, M., Abou-Ras, D., Sakurai, K., Bundesmann, J., Unold, T., Scheer, R., Schock, H. W. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Influence+of+grain+boundaries+on+current+collection+in+Cu%28In%2CGa%29Se2+thin-film+solar+cells%5BTitle%5D)+AND+%22Thin+Solid+Films%22%5BJournal%5D)">Influence of grain boundaries on current collection in Cu(In,Ga)Se2 thin-film solar cells.</a> Thin Solid Films. 517, 2554-2557 (2009).</li>
<li>Abou-Ras, D., Schorr, S., Schock, H. W. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Grain+sizes+and+grain+boundaries+in+chalcopyrite-type+thin+films%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Appl.+Cryst%22%5BJournal%5D)">Grain sizes and grain boundaries in chalcopyrite-type thin films.</a> J. Appl. Cryst. 40, 841-848 (2007).</li>
<li>Niles, D. W., Al-Jassim, M., Ramanathan, K. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Direct+observation+of+Na+and+O+impurities+at+grain+surfaces+of+CuInSe2+thin+films%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Vac.+Sci.+Technol.+A%22%5BJournal%5D)">Direct observation of Na and O impurities at grain surfaces of CuInSe2 thin films.</a> J. Vac. Sci. Technol. A. 17, 291-296 (1998).</li>
<li>Rockett, A., Granath, K., Asher, S., Al Jassim, M. M., Hasoon, F., Matson, R., Basol, B., Kapur, V., Britt, J. S., Gillespie, T., Marshall, C. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Na+incorporation+in+Mo+and+CuInSe2+from+production+processes%5BTitle%5D)+AND+%22Sol.+Energy%22%5BJournal%5D)">Na incorporation in Mo and CuInSe2 from production processes.</a> Sol. Energy. 59, 255-264 (1999).</li>
<li>Heske, C., Eich, D., Fink, R., Umbach, E., Kakar, S., van Buuren, T., Bostedt, C., Terminello, L. J., Grush, M. M., Callcott, T. A., Himpsel, F. J., Ederer, D. L., Perera, R. C. C., Riedl, W., Karg, F. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Localization+of+Na+impurities+at+the+buried+CdS%2FCu%28In%2C+Ga%29Se2+heterojunction%5BTitle%5D)+AND+%22Appl.+Phys.+Lett%22%5BJournal%5D)">Localization of Na impurities at the buried CdS/Cu(In, Ga)Se2 heterojunction.</a> Appl. Phys. Lett. 75, 2082-2084 (1999).</li>
<li>Braunger, D., Hariskos, D., Bilger, G., Rau, U., Schock, H. W. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Influence+of+Na+on+the+growth+of+polycrystalline+Cu%28In%2CGa%29Se2+thin+films%5BTitle%5D)+AND+%22Thin+Solid+Films%22%5BJournal%5D)">Influence of Na on the growth of polycrystalline Cu(In,Ga)Se2 thin films.</a> Thin Solid Films. 361, 161-166 (2000).</li>
<li>Cerezo, A., Godfrey, T. J., Sijbrandij, S. J., Smith, G. D. W., Warren, P. J. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Performance+of+an+energy-compensated+three-dimensional+atom+probe%5BTitle%5D)+AND+%22Rev.+Sci.+Instrum%22%5BJournal%5D)">Performance of an energy-compensated three-dimensional atom probe.</a> Rev. Sci. Instrum. 69, 49-58 Forthcoming.</li>
<li>Blavette, D., Bostel, A., Sarrau, J. M., Deconihout, B., Menand, A. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((An+atom-probe+for+three+dimensional+tomography%5BTitle%5D)+AND+%22Nature%22%5BJournal%5D)">An atom-probe for three dimensional tomography.</a> Nature. 363, 432-435 (1993).</li>
<li>Gault, B., Vurpillot, F., Vella, A., Gilbert, M., Menand, A., Blavette, D., Deconihout, B. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Design+of+a+femtosecond+laser+assisted+tomographic+atom+probe%5BTitle%5D)+AND+%22Rev.+Sci.+Instrum%22%5BJournal%5D)">Design of a femtosecond laser assisted tomographic atom probe.</a> Rev. Sci. Instrum. 77, 043705-1-043705-8 (2006).</li>
<li>Kelly, T. F., Miller, M. K. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Atom+probe+tomography%5BTitle%5D)+AND+%22Rev.+Sci.+Instrum%22%5BJournal%5D)">Atom probe tomography.</a> Rev. Sci. Instrum. 78, 031101-1-031101-20 (2007).</li>
<li>Thompson, K., Lawrence, D., Larson, D. J., Olson, J. D., Kelly, T. F., Gorman, B. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((In+situ+site-specific+specimen+preparation+for+atom+probe+tomography%5BTitle%5D)+AND+%22Ultramicroscopy%22%5BJournal%5D)">In situ site-specific specimen preparation for atom probe tomography.</a> Ultramicroscopy. 107 (2-3), 131-139 (2007).</li>
<li>Cadel, E., Barreau, N., Kessler, J., Pareige, P. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Atom+probe+study+of+sodium+distribution+in+polycristalline+Cu%28In%2CGa%29Se2+thin+film%5BTitle%5D)+AND+%22Acta+Material%22%5BJournal%5D)">Atom probe study of sodium distribution in polycristalline Cu(In,Ga)Se2 thin film.</a> Acta Material. 58, 2634-2637 (2010).</li>
<li>Schlesiger, R., Oberdorfer, C., Würz, R., Greiwe, G., Stender, P., Artmeier, M., Pelka, P., Spaleck, F., Schmitz, G. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Design+of+a+laser-assisted+tomographic+atom+probe+at+M%C3%BCnster+University%5BTitle%5D)+AND+%22Rev.+Sci.+Instr%22%5BJournal%5D)">Design of a laser-assisted tomographic atom probe at Münster University.</a> Rev. Sci. Instr. 81, 043703(2010).</li>
<li>Cojocaru-Mirédin, O., Choi, P., Abou-Ras, D., Schmidt, S. S., Caballero, R., Raabe, D. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Characterization+of+grain+boundaries+in+Cu%28In%2CGa%29Se2+films+using+atom-probe+tomography%5BTitle%5D)+AND+%22IEEE+J.+Photovolt%22%5BJournal%5D)">Characterization of grain boundaries in Cu(In,Ga)Se2 films using atom-probe tomography.</a> IEEE J. Photovolt. 1 (2), 207-212 (2011).</li>
<li>Cojocaru-Mirédin, O., Choi, P., Wuerz, R., Raabe, D. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Atomic-scale+characterization+of+the+CdS%2FCuInSe2+interface+in+thin-film+solar+cells%5BTitle%5D)+AND+%22Appl.+Phys.+Lett%22%5BJournal%5D)">Atomic-scale characterization of the CdS/CuInSe2 interface in thin-film solar cells.</a> Appl. Phys. Lett. 98, 103504-1-103504-3 (2011).</li>
<li>Couzinie-Devy, F., Cadel, E., Barreau, N., Arzel, L., Pareige, P. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Atom+probe+study+of+Cu-poor+to+Cu-rich+transition+during+Cu%28In%2CGa%29Se2+growth%5BTitle%5D)+AND+%22Appl.+Phys.+Lett%22%5BJournal%5D)">Atom probe study of Cu-poor to Cu-rich transition during Cu(In,Ga)Se2 growth.</a> Appl. Phys. Lett. 99, 232108-1-232108-3 (2011).</li>
<li>In-line Cu(In,Ga)Se2 co-evaporation process on 30 cm x 30 cm substrates with multiple deposition stages. Voorwinden, G., Jackson, P., Kniese, R., Powalla, M. Proceedings of the 22nd European Photovoltaic Solar Energy Conference, , 2115-2118 (2007).</li>
<li>Miller, M. K., Russell, K. F., Thompson, K., Alvis, R., Larson, D. J. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Review+of+atom+probe+FIB-based+specimen+preparation+methods%5BTitle%5D)+AND+%22Microscopy+Microanal%22%5BJournal%5D)">Review of atom probe FIB-based specimen preparation methods.</a> Microscopy Microanal. 13 (6), 428-436 (2007).</li>
<li>J, D. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Modeling+image+distortions+in+3DAP%5BTitle%5D)+AND+%22Microscopy+and+Microanalysis%22%5BJournal%5D)">Modeling image distortions in 3DAP.</a> Microscopy and Microanalysis. 10 (3), 384-390 (2008).</li>
<li>Kellog, G. L. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Determining+the+field+emitter+temperature+during+laser+irradiation+in+the+pulsed+laser+atom+probe%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Appl.+Phys%22%5BJournal%5D)">Determining the field emitter temperature during laser irradiation in the pulsed laser atom probe.</a> J. Appl. Phys. 52, 5320(1981).</li>
<li><a target="_blank" href="http://scholar.google.com/scholar?hl=en&safe=off&q=%22IVASTM+3.6.2+User+Guide+2012%22">IVASTM 3.6.2 User Guide 2012</a>. , CAMECA Instruments, Inc. (2012).</li>
<li>Persson, C., Zunger, A. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Compositionally+induced+valence-band+offset+at+the+grain+boundary+of+polycrystalline+chalcopyrites+creates+a+hole+barrier%5BTitle%5D)+AND+%22Appl.+Phys.+Lett%22%5BJournal%5D)">Compositionally induced valence-band offset at the grain boundary of polycrystalline chalcopyrites creates a hole barrier.</a> Appl. Phys. Lett. 87, 211904-1-211904-3 (2005).</li>
<li>Zhang, S. B., Wei, S. -H., Zunger, A., Katayama-Yoshida, H. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Defect+physics+of+the+CuInSe2+chalcopyrite+semiconductor%5BTitle%5D)+AND+%22Phys.+Rev.+B%22%5BJournal%5D)">Defect physics of the CuInSe2 chalcopyrite semiconductor.</a> Phys. Rev. B. 57, 9642-9656 (1998).</li>
<li>Johnson, W. C., Blakely, J. M. <a target="_blank" href="http://scholar.google.com/scholar?hl=en&safe=off&q=author%3aCahn%2C+JW+%22Interfacial+Segregation%22">Interfacial Segregation</a>. , American Society of Metals. Metals Park, OH. 3-23 (1979).</li>
<li>Miller, M. K., Jayaram, R. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Some+factors+affecting+analysis+in+atom+probe%5BTitle%5D)+AND+%22Surf.+Sci%22%5BJournal%5D)">Some factors affecting analysis in atom probe.</a> Surf. Sci. 266, 458-462 (1992).</li>
<li>Wuerz, R., Eicke, A., Kessler, F., Paetel, S., Efimenko, S., Schlegel, C. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((CIGS+thin-film+solar+cells+and+modules+on+enamelled+steel+substrates%5BTitle%5D)+AND+%22Sol.+Energy%22%5BJournal%5D)">CIGS thin-film solar cells and modules on enamelled steel substrates.</a> Sol. Energy. 100, 132-137 (2012).</li>
<li>De Geuser, F., Lefebvre, W., Danoix, F., Vurpillot, F., Forbord, B., Blavette, D. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((An+improved+reconstruction+procedure+for+the+correction+of+local+magnification+effects+in+three-dimensional+atom-probe%5BTitle%5D)+AND+%22Surf.+Interf.+Anal%22%5BJournal%5D)">An improved reconstruction procedure for the correction of local magnification effects in three-dimensional atom-probe.</a> Surf. Interf. Anal. 39, 268-272 (2007).</li>
<li>Kingham, D. R. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((The+post-ionization+of+field+evaporated+ions%3A+A+theoretical+explanation+of+multiple+charge+states%5BTitle%5D)+AND+%22Surf.+Sci%22%5BJournal%5D)">The post-ionization of field evaporated ions: A theoretical explanation of multiple charge states.</a> Surf. Sci. 116, 273-301 (1982).</li>
<li>Letellier, L. <a target="_blank" href="http://scholar.google.com/scholar?hl=en&safe=off&q=%22Etude+des+joints+de+grains+et+interphases+dans+les+superalliages+Astroloy+par+microscopie+electronique+et+tomographie+atomique+%5B%5D%22">Etude des joints de grains et interphases dans les superalliages Astroloy par microscopie electronique et tomographie atomique [dissertation]</a>. , Rouen Univ., Groupe Physique des Materiaux. Rouen, France. (1994).</li>
<li>Hoummada, I., Mangelinck, K., Chow, D., Lee,, Bernardini, J. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Original+methods+for+diffusion+measurements+in+polycrystalline+thin-films%5BTitle%5D)+AND+%22Defect+and+Diffusion+Forum%22%5BJournal%5D)">Original methods for diffusion measurements in polycrystalline thin-films.</a> Defect and Diffusion Forum. 322, 129-150 (2012).</li>
</ol>

作者无任何利益冲突需要披露。

在本研究中，我们展示了对用于光伏应用的化合物半导体材料CIGS中一个随机高角度晶界（HAGB）的原子探针断层扫描（APT）结果。此外，我们还表明，APT结合电子背散射衍射（EBSD）和透射电子显微镜（TEM）等互补技术，是阐明CIGS太阳能电池结构与成分之间关系的有力工具。遗憾的是，由于以下两个原因，无法实现APT与TEM中能谱仪（EDX）或电子能量损失谱（EELS）的关联分析：首先，EDX/EELS的空间分辨率不足以检测晶界处低浓度的Na和O元素；其次，EDX/EELS对所有元素并不都具有灵敏度，尤其对Na和O元素不敏感。
APT 是一种独特的技术，能够在纳米尺度上对界面进行化学表征，并以三维形式对其进行可视化14-17。由于质谱具有高信噪比，该技术可检测低至数十 ppm 的极稀杂质浓度。APT 技术的另一优势在于，若选择合适的测量参数，其检测灵敏度不依赖于具体元素。
需要指出的是，为了准确测量CIGS晶界及晶粒内部的成分含量，选择合适的APT分析条件（温度、激光能量、脉冲频率）至关重要。 等等...

以黄铜矿结构的化合物半导体Cu(In,Ga)Se2（CIGS）作为吸光材料的薄膜太阳能电池，因其高效率、抗辐射性强、长期性能稳定以及生产成本低等优点，已持续研发二十多年1-3。由于CIGS吸光层具有优异的光学特性，即直接带隙和高吸收系数，这类太阳能电池的材料消耗极少即可制备1,2。仅需几微米厚的吸光层即可产生高光电流。由于光生载流子向电极的扩散路径相对较短，CIGS吸光层可采用多晶形式制备。目前所实现的Cu(In,Ga)Se2（CIGS）太阳能电池最高效率为20.4%4，在所有薄膜太阳能电池中居于首位。
为了进一步发展铜铟镓硒（CIGS）薄膜光伏技术，降低生产成本和提高太阳能电池效率都至关重要。其中，电池效率在很大程度上取决于CIGS吸收层的微观结构和化学成分。吸收层内部的界面，特别是晶粒间界（GBs），起着关键作用，因为它们可能影响光生载流子的传输。
关于CIGS太阳能电池，一个尚未解决的主要问题是CIGS晶界（GBs）的良性特性。 即 多晶CIGS吸收层薄膜尽管具有高密度的晶界和晶格缺陷，仍能实现优异的电池效率。
多位作者研究了太阳能级CIGS薄膜中晶界（GBs）的电学性质5,6、结构特征与取向差7-9以及杂质偏析行为10-13。然而，迄今为止尚未建立这些性质之间的明确关联。特别是，关于晶界局部化学成分和杂质含量的信息仍严重缺乏。
在过去的二十年中，原子探针断层扫描技术（Atom Probe Tomography, APT）已成为一种极具前景的纳米分析技术14-17。直到最近，由于样品制备过程中的困难以及传统脉冲电压原子探针在分析半导体材料方面的能力有限，APT在太阳能电池研究中的应用一直受到较大限制。这些限制已随着基于聚焦离子束（FIB）铣削的“取出法”（lift-out method）的发展18以及脉冲激光APT的引入16而得到很大程度的克服。目前已发表多篇关于CIGS太阳能电池APT表征的研究论文19-23，这些成果极大地推动了该领域的进一步研究。
本文提供了利用原子探针断层扫描技术研究CIGS薄膜太阳能电池内部界面的指导方案。

原子探针断层扫描对 cu(in,ga)se2 晶界的研究

Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries

与现有技术相比，原子探针断层扫描技术能够以纳米级和三维方式对内部界面进行化学表征，具有独特优势。实际上，APT 具有高灵敏度（可达 ppm 数量级）和高空间分辨率（亚纳米级）。
本研究致力于制备含有特定结构晶界且位置明确的APT针尖样品。具体而言，本文介绍了一种结合聚焦离子束、电子背散射衍射和透射电子显微镜的定点样品制备方法。该方法可实现对Cu(In,Ga)Se2薄膜中具有已知结构和位置的特定晶界进行原子探针层析成像分析。
最后，我们讨论了使用原子探针断层扫描技术研究铜铟镓硒（Cu(In,Ga)Se2）薄膜太阳能电池晶界的优势与局限性。

图3展示了通过特定位置制备方法在图2中选定的随机大角度晶界（HAGB）28.5°-&lt;511&gt;cub的侧面（x-z截面）元素分布图。利用原子探针断层扫描技术（APT）直接观测到Na、K和O在CIGS大角度晶界处的共偏析。这些杂质很可能是在约600 °C沉积CIGS层期间从SLG衬底扩散进入吸收层的。
图4a 显示了沿所示晶界（GB）的 Cu、In、Ga 和 Se 浓度分布 图3晶界（GB）处的 Cu、In、Ga 和 Se 浓度与晶粒内部（GIs）不同。可以明显看出，该晶界处 Cu 和 Ga 发生贫化，而 In 则富集。这一现象与 Persson 提出的假设一致。 等. 29 根据 从头算 密度泛函理论（DFT）计算表明，Cu空位列优先在CIGS晶界处形成。In的富集和Cu的贫化可通过电荷中性缺陷对2V铜-+In<su...

本研究中，我们描述了采用原子探针断层分析技术研究CIGS太阳能电池吸收层中晶界的使用方法。同时，本文还介绍了一种制备含有特定结构晶界原子探针针尖的新方法。

原子探针断层扫描对 Cu(In,Ga)Se2 晶界的研究

与现有技术相比，原子探针断层扫描技术是一种能够对内部界面进行化学表征的独特技术，其分辨率可达……

本实验的总体目标是确定 CIGS 晶界化学成分与结构之间的相关性。首先从 CIGS 材料中提取一块样品，并将其部分固定在透射电子显微镜半网格的尖锐钼针上。第二步是在聚焦离子束系统中对 CIGS 样品的横截面进行预先清洗，随后开展电子背散射衍射测量。接下来，在选定的晶界区域进行环形铣削。此步骤的目的是最终获得直径约为50纳米的极尖锐针尖。最后一步是利用透射电子显微镜精确定位针尖内晶界的位置，并通过聚焦离子束工具将该晶界置于针尖顶端附近。最终，对制备好的针尖进行的原子探针断层扫描研究表明了所选晶界在纳米尺度上的化学成分。与现有的标准提拉法相比，该技术的主要优势在于能够将化学成分与结构信息（如晶界类型和取向差）直接关联起来。该方法有助于回答与CHS vol dykes相关的关键问题，例如在提高效率的同时降低生产成本。事实上，内部界面（如晶界）可发挥关键作用，因为它们会影响电荷的复合与传输。由于该方法原则上适用于所有晶粒尺寸大于500纳米且可通过APRO断层扫描技术进行表征的材料。通常情况下，由于该方法要求操作者熟练掌握聚焦离子束（FIB）电子背散射衍射及透射电子显微镜技术，因此对于刚进入该领域的研究人员而言具有较大挑战性。我们最初想到开发这种方法，是因为发现特定钠杂质的浓度在不同的CIGS晶界之间存在差异。首先，制备用于研究的CIGS材料样品。在本演示中，将500纳米厚的钼溅射到一块3毫米厚的钠钙玻璃基板上，然后在钼层上共蒸发2微米厚的CIGS。接下来，制备用于支撑样品的结构。将一个maum透射电子显微镜载网切成两片，把半片载网安装到特制的夹持器上，用聚焦离子束铣削仪在5%氢氧化钠溶液中对maum针进行电化学抛光，以获得直径小于2微米的尖锐探针。在CIGS薄膜中加工出两条沟槽，使一个约25微米长、2微米宽的区域底部被掏空。然后利用离子束切割该区域左侧，使其完全分离。现在在该区域沉积一个铂金焊点，并将微操纵器固定在此位置。在该区域右侧进行最终切割，以获得一段独立的材料。将半网格的尖针针尖切断，形成直径为两到三微米的表面，作为提取样品段的良好平台和连接部位。使用铂金焊接将提取的CIGS材料部分固定在针脚上。样品固定后，进行自由切割，仅在针脚顶部保留约两微米的CIGS片段。最后，用铂金填充针脚与所固定片段之间的间隙。将网格的针脚朝上放置。设置Dion电子束的加速电压为5千伏，束流电流小于50皮安。使用电子束对样品末端的横截面进行清洁处理。对清洗后的横截面进行电子束背散射衍射测量。根据所得数据，选择一个感兴趣的晶界。理想情况下，应选择一个垂直于原子探针分析方向的晶界。此处通过原子探针断层扫描针尖的示意图位置展示选择位置。设置聚焦离子束以进行环形铣削，在选定的晶界附近形成尖锐的针尖。最后执行环形铣削操作。尖端应适合进一步的透射电子显微镜观察。尖端形成后，使用透射电子显微镜确定晶界相对于其顶端的精确位置。定位到晶界后，将样品重新放入聚焦离子束中，以五千伏电压和小于50皮安的电流继续操作。继续研磨样品，使晶界位于最多200纳米的深度。在针尖顶端下方，使用二次电子显微镜监测该过程。现在回到透射电子显微镜，使用低倍率和缩短的曝光时间检查晶界相对于针尖的位置，以减少损伤。制作样品的概览图像以了解晶界情况。确定样品的直径和半柄角。开始操作时，将预处理过的特征样品安装到原子探针断层扫描仪的样品 holder 中。然后将样品台安装到三个可用的样品盘之一中。将样品盘插入进样室，并启动真空泵。当进样室内的压力降至约100纳托时，将样品盘插入缓冲室。接下来，将系统冷却至60开尔文以下，以避免分析过程中样品表面原子的扩散。系统冷却后，将设备设置为使用波长为532纳米、脉冲长度为12皮秒的绿色激光的激光模式，然后开始测量。最后将设备设为自动模式以进行数据分析。使用集成的可视化与分析软件。测量得到的原始数据包含在 RHIT 文件中。为重建三维图谱，请通过设置面板确认您已选择正确的文件。完成 Adam 的标准设置步骤。设置完成后，对探针层析数据进行重建，并选择尖端轮廓法。该方法将利用先前采集的透射电子显微镜数据。完成这些步骤后，确认在重建选项卡中生成的预览并保存分析结果。这是通过原子探针层析技术分析的 A-C-I-G-S 高角度晶界的三维侧视图。该晶界是通过特定位置制备方法选取的。本视频中显示，该绿色晶界的取向差角为28.5度。这些图谱清晰地分别展示了钠、氧和钾在晶界处的共偏析现象。这些杂质极有可能是在600摄氏度沉积CIGS层期间，从钠钙玻璃衬底中扩散进入吸收层的。左侧显示了硒、铜、铟和镓在同一样品中沿晶界的浓度深度分布。由于尺度不同，钠、氧和钾的浓度深度分布显示在右侧。晶界处（以灰色突出显示）的浓度与绿色内部区域相比有所不同。在此绿色边界处，铜和镓均发生耗尽，而铟则富集。这与非生物密度泛函理论计算结果一致。此外，钠在此边界处浓度最高，为1.7原子百分比，其次是氧和钾，浓度分别为0.4原子百分比和0.035原子百分比。一旦肌肉。如果操作得当，六个样品的定点样品制备可在 20 小时内完成。应用该技术需要具备四种不同技术的经验，即聚焦离子束铣削（FIB milling）、透射电子显微镜（TEM）、电子背散射衍射（EBSD），以及当然的原子层析成像（atom probe tomography）。在该方法的基础上，还可进行其他技术，例如阴极荧光（luminance），以回答其他问题，如所选晶界处的载流子复合、电荷蠕动活性等，从而进一步完善研究。该技术为材料科学领域的研究人员探索和理解纳米尺度的物理现象奠定了基础。观看本视频后，您将能够充分掌握如何为原子探针断层扫描技术制备特定位置的样品，尤其是在需要分析内部界面（如晶界）时。

atom-probe-tomography-studies-on-the-cu-inga-se2-grain-boundaries

Research

科研

JoVE Journal

Engineering

工程

原子探针层析成像研究在Cu（铟，镓）硒<sub&gt; 2</sub&gt;晶界

片上互连堆叠中的时间相关介质击穿（TDDB）是微电子器件中最关键的失效机制之一。本文展示了以下实验流程： 原位 透射电子显微镜中的TDDB实验，为研究微电子产品的失效机制提供了可能。...

原位 时变介电击穿在透射电子显微镜中的研究：理解微电子器件失效机制的一种可能途径

本文详细描述了一种门电压可调的石墨烯器件的制备过程，该器件经库仑杂质修饰，可用于扫描隧道显微镜研究。在带电杂质存在的情况下，对石墨烯空间依赖的电子结构进行成像，揭示了其相对论性电荷载流子对局域库仑势的独特响应行为。...

制备可栅极调控的石墨烯器件用于扫描隧道显微镜研究库仑杂质

本文描述了在扫描透射电子显微镜中使用能量色散X射线断层成像技术，对单个纳米颗粒内元素分布进行三维表征的方法。...

用于单个纳米颗粒三维元素分布的X射线能量色散断层扫描

半导体材料中位错和晶界的光学、电学及结构特性可通过扫描电子显微镜中的实验来确定。电子显微技术已被用于研究阴极荧光、电子束感应电流以及背散射电子的衍射。...

利用扫描电子显微镜对半导体材料中扩展缺陷的全面表征

本文报道了通过纳米测量和分子动力学模拟检测与验证的富勒烯硅基底纳米材料的制备。...

使用扫描探针显微镜与分子动力学研究嵌入 C84 的硅基底

本文提供了一种利用配备标准电子背散射衍射系统的扫描电子显微镜来表征超细晶粒和纳米晶材料微观结构的详细方法。采用该技术分析了具有精细微观结构的金属合金和矿物，展示了其广泛应用的潜力。...

利用透射菊池衍射表征超细晶与纳米晶材料

使用宏观样品来分离电致辅助变形（EAD）中的电学效应和热学效应非常困难。已开发出金属样品的微纳米结构以及定制的测试程序，用于评估施加电流对样品中位错形成及演化的影响，且排除焦耳热的干扰。...

一种新方法 原位 纳米尺度样品的机电性能表征

本文简要概述了美国陆军研究实验室在块体纳米晶金属加工方面的持续研究工作，重点介绍了用于制备新型金属粉末的方法学。...

美国陆军研究实验室对块体纳米晶金属的加工

对出溶片晶的形态、成分和间距进行分析，可为理解与火山作用和变质作用相关的地质过程提供重要信息。本文展示了原子探针层析技术（APT）在表征此类片晶中的新应用，并将该方法与传统的电子显微镜及基于聚焦离子束（FIB）的纳米断层扫描技术进行比较。...

析出矿物相的原子探针层析分析

本文介绍了一种进行原位透射电子显微镜（in situ...

执行 原位 透射电子显微镜中的封闭腔体气体反应

开尔文探针力显微镜（KPFM）可测量表面形貌和表面电势差异，而扫描电子显微镜（SEM）及其相关谱学技术则可用于阐明表面形貌、成分、结晶性及晶体取向。因此，将SEM与KPFM进行共定位分析，有助于揭示纳米尺度成分和表面结构对腐蚀行为的影响。...

联用开尔文探针力显微镜与其他显微及谱学技术：在合金腐蚀表征中的若干应用

了解原子探针层析成像技术用于研究CIGS太阳能电池晶界化学成分与结构的相关性。该方法通过制备特定晶界结构的探针尖端，实现纳米尺度精确分析，有助于优化太阳能电池设计并提升转换效率。

原子探针断层扫描对 Cu(In,Ga)Se₂ 晶界的研究

探索更多视频