Angle-Photoemissionsspektroskopie Bei extrem niedrigen Temperaturen

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9. Oktober 2012

10.3791/50129-v

9. Oktober 2012

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Das übergeordnete Ziel dieser Methode ist es, die Niedrig-Energie-elektronischen Struktur von Festkörpern bei extrem niedrigen Temperaturen mit Angle-Photoemissionsspektroskopie mit Synchrotronstrahlung zu bestimmen.

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Elektronische Struktur

Chapters in this video

0:05

Titel

2:18

Montage der Probe

3:01

Herstellung von Ultrahochvakuum und thermischer Isolation

4:02

Positionierung und Kühlung der Probe

4:55

Datenerfassung

5:30

Ergebnisse: Hochauflösende elektronische Struktur von Kristallen

7:23

Fazit

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