Engineering
Ein Abonnement für JoVE ist erforderlich, um diesen Inhalt ansehen zu können. Melden Sie sich an oder starten Sie Ihre kostenlose Testversion.
Kapitel
Summary
Please note that all translations are automatically generated.
Kryogen fokuseret ionstråle (FIB) og scanningselektronmikroskopi (SEM) teknikker kan give vigtig indsigt i kemi og morfologi af intakte fast-flydende grænseflader. Metoder til fremstilling af højkvalitets Energy Dispersive X-ray (EDX) spektroskopiske kort over sådanne grænseflader er detaljerede med fokus på energilagringsenheder.