JoVE Journal
Engineering
Engineering
Se requiere una suscripción a JoVE para ver este contenido. Inicie sesión o comience su prueba gratuita.
Capítulos
Resumen
Please note that all translations are automatically generated.
Presenteras här är ett protokoll för att analysera nanostrukturella förändringar under in situ biasing med transmissionselektronmikroskopi (TEM) för en staplad metallisolator-metall struktur. Den har betydande tillämpningar för resistiv omkoppling av tvärstänger för nästa generations programmerbara logikkretsar och neuromimicking hårdvara, för att avslöja deras underliggande driftsmekanismer och praktiska tillämplighet.
