Se requiere una suscripción a JoVE para ver este contenido. Inicie sesión o comience su prueba gratuita.
Capítulos
Resumen
Please note that all translations are automatically generated.
Magnetisk kraftmikroskopi (MFM) benytter en vertikalt magnetisert atomkraftmikroskopisonde for å måle prøvetopografi og lokal magnetfeltstyrke med nanoskalaoppløsning. Optimalisering av MFM romlig oppløsning og følsomhet krever balansering av redusert løftehøyde mot økende driv (oscillasjon) amplitude, og drar nytte av å operere i en inert atmosfærehanskeboks.