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संश्लेषण और प्लाज्मा द्वारा उच्च सी अक्ष जेडएनओ पतली फिल्म की विशेषता रासायनिक वाष्प जमाव प्रणाली और इसके यूवी Photodetector आवेदन बढ़ी
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संश्लेषण और प्लाज्मा द्वारा उच्च सी अक्ष जेडएनओ पतली फिल्म की विशेषता रासायनिक वाष्प जमाव प्रणाली और इसके यूवी Photodetector आवेदन बढ़ी

Article DOI: 10.3791/53097-v • 08:18 min • October 3rd, 2015
October 3rd, 2015 •
1, 1
1Institute of Manufacturing Technology and Department of Mechanical Engineering, National Taipei University of Technology (TAIPEI TECH)

Chapitres

Tags

इंजीनियरिंग अंक 104 जेडएनओ पतली फिल्म, प्लाज्मा बढ़ाया रासायनिक वाष्प जमाव diethylzinc (DEZn) सेंसर पं interdigitated इलेक्ट्रोड Ohmic संपर्क यूवी फोटोडिटेक्टर
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