Waiting
Elaborazione accesso...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Engineering

È necessario avere un abbonamento a JoVE per visualizzare questo Contenuto. Accedi o inizia la tua prova gratuita.

Använda Synchrotron Radiation Microtomography att undersöka Multi skala Tredimensionella Microelectronic paket
 
Click here for the English version

Använda Synchrotron Radiation Microtomography att undersöka Multi skala Tredimensionella Microelectronic paket

Article DOI: 10.3791/53683-v 08:46 min April 13th, 2016
April 13th, 2016

Capitoli

Riepilogo

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

För denna studie synkrotronstrålning mikro-tomografi, en icke-förstörande tredimensionell avbildningsteknik, används för att undersöka en hel mikroelektroniska paket med en tvärsnittsarea på 16 x 16 mm. På grund av synkrotron höga flöde och ljusstyrka provet avbildades på bara tre minuter med en 8,7 um rumslig upplösning.

Tags

Engineering Synkrotronljus mikro tomografi röntgen datortomografi icke-förstörande felanalys blyfri lod och tre-dimensionella mikro paket
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter