Subsurface Defect Localization by Structured Heating Using Laser Projected Photothermal Thermography

Erik Thiel; Mathias Ziegler

doi:10.3791/55733

레이저 조사 형 광열 열 분석을 이용한 구조 가열에 의한 지층 결함 국산화

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Subsurface Defect Localization by Structured Heating Using Laser Projected Photothermal Thermography

레이저 조사 형 광열 열 분석을 이용한 구조 가열에 의한 지층 결함 국산화

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11:34 min

May 15, 2017

DOI: 10.3791/55733-v

Erik Thiel¹, Mathias Ziegler¹

¹Department for Non-Destructive Testing, Thermographic Methods,Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Please note that some of the translations on this page are AI generated. Click here for the English version.

이 방법은 수직 표면 하의 결함을 찾는 것을 목표로합니다. 여기서 우리는 레이저를 공간 광 변조기와 결합시키고 비디오 입력을 트리거하여 고분해능 열 화상을 얻는 동안 2 개의 반대 위상 변조 선으로 결정 성있게 시료 표면을 가열합니다. 결함 위치는 열파 간섭 최소값을 평가하여 검색됩니다.

이 방법의 전반적인 목표는 비파괴 및 비접촉 방식으로 구조화된 가열과 고해상도의 열화상을 사용하여 강철 샘플 표면에 수직으로 배치된 표면 아래 결함을 찾는 것입니다. 이 방법은 열화상 분야의 주요 질문에 답하는 데 도움이 될 수 있습니다. 예를 들어, 감지하기 위해 결함이 얼마나 작고 얼마나 깊을 수 있는지 등이 있습니다.

이 기술의 주요 장점은 관찰 평면에서 전파되는 열파장을 생성할 수 있어 접근 방식이 수직 방향의 결함에 매우 민감하다는 것입니다. 이 레이저 투영 광열 열화상 시스템은 벤치 탑 브레드보드에 배치됩니다. 이 시스템은 실험에 사용하는 데 필요한 대부분의 준비 단계를 거쳤습니다.

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