Scanning Electron Microscopic Evaluation of Surface Defect of Remover Retreatment File After Single and Multiple Uses (단일 및 다중 사용 후 제거제 재처리 파일의 표면 결함에 대한 주사 전자 현미경 평가)

1.2K views

Cited by 1

03:07 min

October 11th, 2024

10.3791/67329-v

October 11th, 2024

1.2K views

여기에서는 주사 전자 현미경을 사용하여 잠재적인 표면 결함을 식별하고 분석함으로써 재처리 절차에서 반복적으로 사용한 후 근관 재처리 파일의 표면 특성을 평가하기 위한 프로토콜을 제시합니다.

Explore More Videos

Scanning Electron Microscopy

Chapters in this video

0:00

Introduction

0:52

Retreatment Procedure for Remover Rotary Nickel-Titanium (NiTi) Files and Their Analysis

2:02

Representative Results

Related Videos