Анализ отказов батарей с использованием синхротронного основе жесткого рентгеновского микротомография

8.4K просмотров

Цитируется: 7

08:11 мин.

26 августа 2015 г.

10.3791/53021-v

26 августа 2015 г.

8.4K просмотров

Katherine J. Harry¹^,² , Dilworth Y. Parkinson³ , Nitash P. Balsara²^,⁴^,⁵

¹Department of Materials Science and Engineering, University of California Berkeley, ²Materials Science Division, Lawrence Berkeley National Laboratory, ³Advanced Light Source Division, Lawrence Berkeley National Laboratory, ⁴Department of Chemical and Biomolecular Engineering, University of California Berkeley, ⁵Environmental Energy Technology Division, Lawrence Berkeley National Laboratory

Синхротронная жесткая рентгеновская микротомография используется для визуализации электрохимического роста дендритов от литий-металлического электрода через твердую полимерную электролитную мембрану.