Журнал
/
/
Анализ отказов батарей с использованием синхротронного основе жесткого рентгеновского микротомография
Failure Analysis of Batteries Using Synchrotron-based Hard X-ray Microtomography
JoVE Journal
Инженерия
Для просмотра этого контента требуется подписка на Jove  Войдите в систему или начните бесплатную пробную версию.
JoVE Journal Инженерия
Failure Analysis of Batteries Using Synchrotron-based Hard X-ray Microtomography

Анализ отказов батарей с использованием синхротронного основе жесткого рентгеновского микротомография

English

Сгенерировано автоматически

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

8,816 Views

08:11 min

August 26, 2015

DOI:

08:11 min
August 26, 2015

4 Views
, ,

Резюме

Automatically generated

Synchrotron-based hard X-ray microtomography is used to image the electrochemical growth of dendrites from a lithium metal electrode through a solid polymer electrolyte membrane.

Видео по теме

Read Article