Зондирование C

10.7K просмотров

Цитируется: 1

13:58 мин.

28 сентября 2016 г.

10.3791/54235-v

28 сентября 2016 г.

10.7K просмотров

Mon-Shu Ho¹ , Chih-Pong Huang² , Jyun-Hwei Tsai³ , Che-Fu Chou¹ , Wen-Jay Lee³

¹Department of Physics and Institute of Nanoscience, National Chung Hsing University, ²Metallurgy Section, Materials & Electro-Optics Research Division, National Chung-Shan Institute of Science and Technology, ³National Center for High-Performance Computing

В этой статье сообщается о производстве наноматериала фуллереновой подложки из кремния, проверенной и проверенной с помощью наноизмерений и молекулярно-динамического моделирования.

Больше видео

Моделирование методом молекулярной динамики

условия сверхвысокого вакуума

полеэмиссионные свойства

наномеханическая жесткость

анализ поверхностного магнетизма

топография с атомным разрешением

измерение ширины запрещенной зоны

анализ спектров фотолюминесценции

Chapters in this video

0:05

Заголовок

1:21

Изготовление гексагонально-плотноупакованного (ГПУ) поверхностного слоя C₈₄ в кремниевой подложке

2:57

Измерение электронных свойств кремниевой подложки с внедренными молекулами C₈₄

5:07

Измерение поверхностного магнетизма

6:17

Измерение наномеханических свойств методом АСМ

6:49

Измерение наномеханических свойств методом моделирования молекулярной динамики

11:05

Результаты: Характеристика кремниевой подложки с внедренными молекулами C₈₄ с помощью наноизмерений и моделирования молекулярной динамики

12:46

Заключение