Зондирование C

10.7K просмотров

Цитируется: 1

13:58 мин.

28 сентября 2016 г.

10.3791/54235-v

28 сентября 2016 г.

10.7K просмотров

В этой статье сообщается о производстве наноматериала фуллереновой подложки из кремния, проверенной и проверенной с помощью наноизмерений и молекулярно-динамического моделирования.

Больше видео

Моделирование методом молекулярной динамики

Chapters in this video

0:05

Title

1:21

Fabrication of Hexagonal-closed-packaged (HCP) Overlayer of C84 in Si Substrate

2:57

Measurements of Electronic Properties of C84-embedded Si Substrate

5:07

Measurements of Surface Magnetism

6:17

Measurements of Nanomechanical Properties by AFM

6:49

Measurement of Nanomechanical Properties by Molecular Dynamics Simulation

11:05

Results: Characterization of C84-embedded Silicon Substrate by Nanomeasurements and Molecular Dynamic Simulation

12:46

Conclusion

Related Videos