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Journal / Engineering / 스캐닝 프로브 단일 전자 용량 분광학
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스캐닝 프로브 단일 전자 용량 분광학
Measuring Material Microstructure Under Flow Using 1-2 Plane Flow-Small Angle Neutron Scattering
Journal (Engineering)
Measuring Material Microstructure Under Flow Using 1-2 Plane Flow-Small Angle Neutron Scattering
Data Acquisition Protocol for Determining Embedded Sensitivity Functions
Journal (Engineering)
Data Acquisition Protocol for Determining Embedded Sensitivity Functions
 
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스캐닝 프로브 단일 전자 용량 분광학

Article DOI: 10.3791/50676-v • 10:53 min • July 30th, 2013
July 30th, 2013 •
1, 1, 1,2, 1,3, 4, 1
1Department of Physics and Astronomy, Michigan State University, 2Department of Chemistry & Biochemistry/Physics, Mercyhurst University, 3Department of Physics, Saint Louis University, 4Department of Physics, Massachusetts Institute of Technology

Capítulos

Resumen
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스캐닝 프로브 단일 전자 용량 분광 지역화 된 지하 지역에서 단일 전자 운동의 연구를 용이하게합니다. 민감한 충전 감지 회로는 반도체 시료의 표면 아래에 도펀트 원자의 작은 시스템을 조사하기 위해 극저온 스캐닝 프로브 현미경에 통합됩니다.

Tags

물리 제 77 생물 물리학 분자 생물학 세포 생물학 현미경 주사 프로브 나노 기술 물리 전자 수용체 (고체 상태) 기증자 (고체 상태) 고체 물리학 터널링 현미경 주사 정전 용량 현미경 지하 충전 축적 이미징 용량 분광기 스캐닝 프로브 현미경 단일 전자 분광 이미징
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