Engineering
Se requiere una suscripción a JoVE para ver este contenido. Inicie sesión o comience su prueba gratuita.
Capítulos
Resumen
Please note that all translations are automatically generated.
Kryogen fokuserad jonstråle (FIB) och svepelektronmikroskopi (SEM) tekniker kan ge viktiga insikter i kemi och morfologi av intakta fast-flytande gränssnitt. Metoder för att förbereda högkvalitativa spektroskopiska kartor över sådana gränssnitt av hög kvalitet Energy Dispersive X-ray (EDX) är detaljerade, med fokus på energilagringsenheter.