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Capitoli
Riepilogo
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La microscopie à force magnétique (MFM) utilise une sonde de microscopie à force atomique magnétisée verticalement pour mesurer la topographie de l’échantillon et l’intensité du champ magnétique local avec une résolution à l’échelle nanométrique. L’optimisation de la résolution spatiale et de la sensibilité MFM nécessite d’équilibrer la diminution de la hauteur de levage par rapport à l’augmentation de l’amplitude d’entraînement (oscillation), et les avantages d’un fonctionnement dans une boîte à gants à atmosphère inerte.
