Waiting
登录处理中...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Engineering

需要订阅 JoVE 才能查看此 内容. 登录或开始免费试用。

Çok ölçekli Üç boyutlu Mikroelektronik paketleri Soruşturma Sinkrotron Radyasyon Microtomography kullanma
 
Click here for the English version

Çok ölçekli Üç boyutlu Mikroelektronik paketleri Soruşturma Sinkrotron Radyasyon Microtomography kullanma

Article DOI: 10.3791/53683-v 08:46 min April 13th, 2016
April 13th, 2016

章节

总结概括

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Bu çalışma, senkrotron radyasyonu mikro tomografi, yıkıcı olmayan, üç boyutlu görüntüleme tekniği için, 16 X 16 mm'lik bir enine kesit alanına sahip bütün bir mikroelektronik paketi araştırmak için kullanılır. Sinkrotron yüksek akı ve parlaklık örnek bir 8.7 mikron mekansal çözünürlükte sadece 3 dakika içinde görüntülendi.

Tags

Mühendislik Sayı 110 Sinkrotron ışınımı mikro tomografi x-ışını görüntüleme bilgisayarlı tomografi tahribatsız arıza analizi ücretsiz lehimler kurşun ve üç boyutlu mikroelektronik paketler
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter