JoVE Journal
Engineering
Engineering
Se requiere una suscripción a JoVE para ver este contenido. Inicie sesión o comience su prueba gratuita.
Capítulos
Resumen
Please note that all translations are automatically generated.
Hvidt lysmikroskop interferometri er en optisk, noncontact og hurtig fremgangsmåde til måling af topografien af overflader. Det vises, hvorledes fremgangsmåden kan anvendes mod mekanisk slid analyse, hvor slid ar på tribologiske testprøver analyseres, og i materialevidenskab til bestemmelse ionstråle katodeforstøvning eller laserablation volumener og dybder.
