Waiting
Traitement de la connexion…

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / Meting van Quantum Interference in een Silicon…
JoVE Journal
Engineering

Un abonnement à JoVE est nécessaire pour afficher ce contenu. Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.

JoVE Journal Engineering
Meting van Quantum Interference in een Silicon Ring Resonator Photon Source
Experiments on Ultrasonic Lubrication Using a Piezoelectrically-assisted Tribometer and Optical Profilometer
Journal (Engineering)
Experiments on Ultrasonic Lubrication Using a Piezoelectrically-assisted Tribometer and Optical Profilometer
Fabric Moisture Uniform Control to Study the Influence of Air Impingement Parameters on Fabric Drying Characteristics
Journal (Engineering)
Fabric Moisture Uniform Control to Study the Influence of Air Impingement Parameters on Fabric Drying Characteristics
 
Click here for the English version

Meting van Quantum Interference in een Silicon Ring Resonator Photon Source

Article DOI: 10.3791/55257-v • 12:19 min • April 4th, 2017
April 4th, 2017 •
1, 1,2, 1, 2,3,4, 2, 1, 2
1Microsystems Engineering, Rochester Institute of Technology, 2Air Force Research Laboratory, Rome, NY, 3Department of Physics, Florida Atlantic University, 4Quanterion Solutions Incorporated

Chapitres

résumé
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Silicon fotonische chips hebben het potentieel om complexe geïntegreerde quantum systemen te realiseren. Hier voorgesteld is een werkwijze voor het bereiden en testen van een silicium chip voor fotonische quantum metingen.

Tags

Engineering Silicon Photonics Quantum Interferentie Ring Resonator Photon Source
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter