Realizzazione di un interferometro di riferimento per Nanodetection

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26 aprile 2014

10.3791/51133-v

26 aprile 2014

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Una tecnica interferometro di riferimento, che è progettato per rimuovere rumore indesiderabile jitter laser per nanodetection, è utilizzata per sondare un fattore microcavità ultra-alta qualità. Istruzioni per l'assemblaggio, l'installazione e l'acquisizione dei dati sono forniti, accanto al processo di misurazione per specificare il fattore di qualità della cavità.

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Title

1:36

Reference Interferometer Construction

3:57

Fiber Pulling

3:01

Free Spectral Range Measurement

6:46

Preparation and Delivery of Solutions

12:43

System Configuration and Interconnections

14:45

Post-processing of Data

14:06

Nanoparticle Detection

15:32

Conclusion

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