Implementation of a Reference Interferometer for Nanodetection

Serge Vincent; Wenyan Yu; Tao Lu

doi:10.3791/51133

JoVE Journal
Engineering
Author Produced

A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.

JoVE Journal Engineering

Implementation of a Reference Interferometer for Nanodetection

Nanodetection에 대한 참조 간섭계의 구현

Full Text

9,825 Views

16:11 min

April 26, 2014

DOI: 10.3791/51133-v

Serge Vincent*¹, Wenyan Yu*¹, Tao Lu¹

¹Department of Electrical and Computer Engineering,University of Victoria

Please note that some of the translations on this page are AI generated. Click here for the English version.

nanodetection 대한 바람직하지 않은 레이저 지터 노이즈를 제거하도록 설계 기준 간섭계 기술은, 매우 높은 품질 계수의 마이크로 공동 프로빙에 이용된다. 어셈블리, 설정 및 데이터 수집을위한 지침은 캐비티 품질 계수를 특정하기위한 측정 과정과 함께 제공된다.

이 절차의 전반적인 목표는 Whispering Gallery 모드 감지를 사용하여 수십 나노미터 정도의 직경을 가진 입자를 감지하여 매우 높은 품질 계수를 제공하는 참조 간섭계를 만드는 것입니다. 속삭이는 갤러리 모드, 마이크로 캐비티 및 공명 광자가 그 안에서 수십만 번 순환합니다. 이것은 입자가 마이크로 캐비티에 떨어질 때 광학 특성이 눈에 띄게 변하게 합니다.

후방 산란이 충분히 강하고 캐비티 손실이 충분히 낮으면 파라 분할 모드가 실험적으로 나타납니다. 이것은 주파수 분할 효과를 생성하고 입자 흡수가 발생합니다. 그러면 주파수 이동이 발생합니다.

View the full transcript and gain access to thousands of scientific videos