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JoVE Journal Engineering
Real-Time DC-dynamic Biasing Method for Switching Time Improvement in Severely Underdamped Fringing-field Electrostatic MEMS Actuators

Real-Time DC-dinâmico método de polarização para a mudança de melhoria no tempo em Severamente subamortecido Fringing-campo eletrostático MEMS Atuadores

Full Text
10,655 Views
11:44 min
August 15, 2014

DOI: 10.3791/51251-v

Joshua Small1, Adam Fruehling2, Anurag Garg3, Xiaoguang Liu1, Dimitrios Peroulis3

1Department of Electrical and Computer Engineering,University of California, Davis, 2Digital Light Projection (DLP) Technology Development,Texas Instruments, 3Birck Nanotechnology Center and the Department of Electrical and Computer Engineering,Purdue University

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Please note that some of the translations on this page are AI generated. Click here for the English version.

O design robusto dispositivo de franja-campo eletrostático atuadores MEMS resultados em condições de amortecimento de compressão de filme inerentemente baixos e longos tempos de sedimentação ao realizar operações de comutação usando polarização passo convencional. Em tempo real a mudança melhora o tempo com formas de ondas DC-dinâmicos reduz o tempo de estabilização de franjas em campo MEMS atuadores quando a transição entre-se para baixo e para baixo-à-up estados.

O objetivo geral do experimento a seguir é melhorar o tempo de estabilização de atuadores de sistema micro de campo de franja eletrostática severamente amortecidos. Isso é conseguido pela microfabricação do atuador eletrostático MAMs Como segundo passo, o substrato abaixo do atuador é gravado seletivamente, o que reduz significativamente o amortecimento do filme de compressão e aumenta severamente sob condições amortecidas. Em seguida, a forma de onda de polarização dinâmica é empregada em tempo real para determinar os parâmetros ideais da forma de onda para um tempo de estabilização rápido.

São obtidos resultados que mostram uma melhoria significativa no tempo de comutação com base na comparação com a polarização típica da etapa unitária. Embora o método seja usado para melhorar o tempo de comutação dos atuadores de campo de franja eletrostática, ele também pode ser aplicado a campos como micrometrologia para extrair parâmetros de filme fino, como módulo de Young, proporção de pance e tensão de tração biaxial. O primeiro passo na fabricação dos feixes MEMS de campo de franjas eletrostáticas é a litografia UV.

Comece com um substrato de silício oxidado e de baixa resistividade devidamente limpo, com 25 milímetros por 50 milímetros e 0,5 milímetros de espessura. Neste vídeo, representações esquemáticas da seção transversal do substrato e vista superior mostrarão o progresso da fabricação. Coloque o substrato no mandril de um revestimento giratório giratório fotorresistente, hexa metil dine e, em seguida, foto positiva.

Resista a cada um a 3.500 RPM por 30 segundos. Transfira a amostra para uma placa quente ajustada a 105 graus Celsius e asse suavemente a fotorresistência por 90 segundos. Esta é a visão esquemática da amostra neste momento.

Feito isso, mova a amostra para um alinhador de máscara. Empregue o dispositivo, mascare uma versão simplificada do que é mostrada e exponha a amostra à radiação UV com um comprimento de onda de 350 a 450 nanômetros e uma energia de exposição de 391 milijoules por centímetro quadrado. Em seguida, leve a lâmina para dois copos preparados, um com revelador à base de hidróxido de tetraetil amônio e outro com água deionizada, cada um com volume suficiente para submergir a amostra, submergir a amostra exposta no revelador por 12 a 20 segundos e agitá-la suavemente.

Em seguida, remova rapidamente a amostra e mergulhe-a na água de enxágue por 10 segundos. Depois que a amostra for bem enxaguada e depois seca com nitrogênio, inspecione a amostra ao microscópio para ver se é necessário um desenvolvimento adicional. Esta figura representa a amostra quando o desenvolvimento é concluído.

Prossiga com a corrosão úmida com ácido fluorídrico tamponado para remover a camada de óxido. Em seguida, remova o fotorresistente usando acetona e álcool isopropílico após a remoção do fotorresistente. O próximo passo é uma gravação química com hidróxido de tetraetil amônio.

Use uma placa quente com um par térmico para manter a temperatura, uma barra de agitação magnética, um pico limpo de quatro litros e uma cesta de Teflon que pode ser apoiada no copo. Despeje tetraetil amônio 25% em peso até a marca de dois litros do béquer e adicione o termopar de afixação da barra de agitação na solução. Em seguida, pré-aqueça a solução a 80 graus Celsius quando a solução estiver a 80 graus Celsius.

Coloque a amostra no cesto, pendure o cesto na solução a partir do bordo do copo. Certifique-se de deixar espaço para a barra de agitação magnética girar. Defina a taxa de rotação da barra de agitação para 400 RPM e grave a uma profundidade de quatro a cinco micrômetros.

Após cerca de 15 minutos, enxágue e seque adequadamente a amostra e verifique a altura do degrau com um profilômetro. Esta figura mostra a amostra quando a altura do degrau foi atingida. O próximo passo é remover o dióxido de silício.

Preparar um copo de teflon com ácido fluorídrico a 49% em volume suficiente para cobrir a amostra e um copo de teflon preparado de forma semelhante com água desionizada. Coloque a amostra no ácido fluorídrico até que todo o dióxido de silício seja removido em menos de 30 segundos. Transfira a amostra para a água deionizada e deixe-a lá por 10 a 20 segundos.

Continue com o enxágue adicional e também remova os resíduos orgânicos da amostra. Pegue a amostra limpa e seca e execute a oxidação térmica úmida para cultivar 500 nanômetros de dióxido de silício em sua superfície. Aqui está a representação da amostra após a etapa de crescimento quando a camada de dióxido de silício é concluída, mais uma vez, o código de rotação hexa metil xilazina seguido de fotorresistência positiva na amostra.

Depois de assar suavemente a fotorresistência, use um alinhador de máscara para expor a amostra à radiação UV de 350 a 400 nanômetros. Com uma energia de exposição de 391 milijoules por centímetro quadrado, a máscara representada é simplificada. Em seguida, desenvolveu uma amostra em um revelador à base de hidróxido de tetraetil amônio.

Complete a gravação com ácido fluorídrico tamponado e remova a foto. Resistir A amostra está agora pronta para a deposição por pulverização catódica do depósito pulverizado da camada de sementes de galvanoplastia. 20 nanômetros de titânio seguidos por 100 nanômetros de ouro.

Isso descreve a amostra depois que ela foi recuperada. Agora gire revestido novamente com hexa metil DIY a 3.500 RPM por 30 segundos. Em seguida, fotorresista positivo a 2000 RPM por 30 segundos em um alinhador de máscara, alinhe e exponha a amostra a 350 a 450 nanômetros uv.

Com uma energia de exposição de 483 milijoules por centímetro quadrado, desenvolveu-se uma amostra em um revelador à base de hidróxido de tetraetil amônio. Depois de enxaguar bem, inspecione a amostra com um microscópio para determinar se é necessário um desenvolvimento adicional. Uma vez que o desenvolvimento esteja completo, galvanize o feixe de mems de ouro enchendo primeiro um copo de vidro limpo de um litro com 700 mililitros de solução de galvanoplastia de ouro.

Coloque o copo em uma placa quente e ajuste a placa quente para 60 graus Celsius. Use um termopar para garantir que a temperatura permaneça na temperatura desejada. Quando a temperatura for de 60 graus Celsius, conecte a amostra a um acessório que também contenha termopar e um ânodo de aço inoxidável.

Galvanoplastia a amostra usando uma densidade de corrente de dois miliamperes por centímetro quadrado até que o tempo necessário tenha decorrido. Cerca de dois minutos, desligue a alimentação de corrente e remova os eletrodos. Para recuperar a amostra.

Verifique a conclusão da galvanoplastia. Usando um perfilômetro e microscópio, grave a foto. Resista ao mofo enchendo primeiro um alto-falante de vidro com um removedor fotorresistente dedicado.

Coloque em uma chapa quente e aqueça a 110 graus Celsius. Quando a temperatura for atingida, mergulhe a amostra na solução por uma hora. No final da hora, retire o copo da placa de aquecimento e deixe a solução e a amostra arrefecerem até à temperatura ambiente.

Esses esboços representam o que deve ser visto depois que a amostra é limpa. A região amarela à direita representa a camada de ouro depositada. As regiões douradas representam as vigas galvanizadas.

Após a aspereza da superfície, mergulhe a amostra em um copo do Teflon com gravura forte do ouro por 30 a 45 segundos Na conclusão, termine rapidamente a gravura em àgua forte submergindo a amostra na água deionizada por 10 a 20 segundos quando todo o ouro é removido, e após mais aspereza, mergulhe a amostra na gravura em àgua forte tamponada do ácido fluorídrico na temperatura ambiente por três a seis segundos, Enxágue e inspecione a corrosão para garantir que todo o titânio seja removido das áreas expostas, conforme mostrado aqui esquematicamente. Como etapa final, execute uma borda de xenônio di fluoreto isotrópico seco. Isso removerá seletivamente o silício e liberará as vigas fixas e fixas de ouro.

Isso representa a configuração final da viga após a fabricação das vigas fixas. O próximo passo é a validação experimental. Coloque a amostra no mandril de uma estação de sonda CC e prenda-a.

Em seguida, use o microscópio da estação de sonda para posicionar com precisão as pontas da sonda de tungstênio. Coloque a ponta da sonda de sinal ao vivo sobre o pad para o feixe fixo fixo. Coloque a ponta da sonda de aterramento sobre a almofada para os eletrodos de puxar para baixo sobre as almofadas de polarização CC do dispositivo.

Em seguida, defina os parâmetros da forma de onda no gerador de funções. Com base no cálculo, passe a saída do gerador de funções para um amplificador linear de alta velocidade e alta tensão. Monitore a saída com o osciloscópio digital com uma taxa de amostragem de 300 megahertz.

Com o gerador de funções desligado, conecte a saída do amplificador linear aos manipuladores DC. Agora posicione o barômetro doppler a laser sobre a amostra e ligue o laser. Use o microscópio integrado para identificar o feixe desejado e focar o laser em seu centro.

Selecione a saída da taxa de amostragem e os modos de medição Com os preparativos concluídos. Aplique o sinal de polarização às pontes MEMS. Comece a ajustar os parâmetros de tempo e tensão no gerador de funções Trabalhe para obter uma oscilação mínima do feixe nas operações de puxar para baixo e liberar.

Assim que os valores ideais forem encontrados, desligue o sinal de polarização e o modo de medição do barômetro doppler a laser contínuo. Levante as pontas da sonda das almofadas de polarização. Em seguida, execute o dispositivo no modo de varredura única usando um viter, conforme descrito no protocolo de texto que acompanha.

Retorne as pontas da sonda DC para as almofadas de polarização da ponte MEMS. Ative a varredura de sinal e capture os dados de deslocamento versus tempo. Aqui estão as deflexões do feixe em função do tempo para uma ponte MEMS em resposta a uma polarização de entrada de 60 volts para quatro condições diferentes.

As respostas de liberação do degrau são mostradas em preto e exibem oscilação. As medições de liberação dinâmica mostradas em vermelho são feitas após o ajuste das medições de temporização e tensão. Isso mostra que as oscilações são amplamente removidas.

Uma vez encontrada, a forma de onda dinâmica é útil para todas as lacunas, não apenas para aquela associada a uma polarização de entrada de 60 volts. Aqui, a resposta pull down é mostrada para várias alturas de gap correspondentes a diferentes tensões de polarização de entrada. Em cada caso, as oscilações são limitadas.

Da mesma forma, aqui estão as respostas de lançamento em todos os casos. Observe que praticamente todas as oscilações são removidas. Lembre-se de que trabalhar com produtos químicos como ácido fluorídrico e TMAH pode ser extremamente perigoso.

Portanto, tomar precauções como usar equipamentos de proteção individual deve ser tomado durante a realização deste procedimento.

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