एक केंद्रित आयन बीम क्रायो इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी नमूना तैयार करना का साधन

क्रायो इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप, स्कैनिंग (SEM) या संचरण (मंदिर), या तो व्यापक रूप से एक उच्च पानी सामग्री ¹ के साथ जैविक नमूने या अन्य सामग्री के लक्षण वर्णन के लिए किया जाता है. एक SEM / केंद्रित आयन बीम (FIB) के नमूने में ब्याज की सुविधाओं की पहचान करने और एक क्रायो मंदिर को हस्तांतरण के लिए एक पतली, इलेक्ट्रॉन पारदर्शी लामेल्ला निकालने के लिए प्रयोग किया जाता है.