Name: Bir Celadonit Elektron Kaynağının Hazırlanması ve Parlaklığının Tahmin (Video) | JoVE Journal
Uploaded: 2019-11-05T12:30:00.000+00:00
Duration: 9 min 14 s
Description: Öğrenin, celadonit elektron kaynağı hazırlama ve parlaklık tahmini yöntemlerini. Paslanmaz çelik tüp ve tungsten tel kullanarak uzun ömürlü, yüksek parlaklıkta kaynaklar üretin.

ai_agent_IP

ai_agent

maintenance

instantTrialDurationMinutes

isBiopharma

enableNewMyJoveSectionDesign

educationFeatures

seoMetaApi

ai_copilot_institution_blacklist

ai_chat_institution_blacklist

freeAccessWindow

ssoRoleCapture

scheduledMaintenanceBanner

joveLabsFeatures

disable_autoplay_for_bots

extended_trial_duration

5 minutes

Yazarlar bu makalenin İngilizce geliştirmek için Marjorie Sweetko teşekkür etmek istiyorum.

1. Kaynağın hazırlanması
NOT: Mikroskobumuzda kaynak desteği, plaka üzerinde elektrik bağlantısı olan 90 μm iç çaplı paslanmaz çelik bir tüpün 1 cm'si çıkan, işlenebilir cam seramik plakadan oluşmaktadır.
<ol><li>Lifin hazırlanması<ol>
<li>Kaynak desteğini optik mikroskop altında düzeltin.</li>
		<li>10 μm karbon fiberi paslanmaz çelik boruya takın. Karbon fiberi gümüş lake ile tüpe yapıştırın.</li>
		<li>100 μm ve 3 mm arasında paslanmaz çelik tüp dışında bırakılır, böylece bir kesme cımbız (dürbün mikroskobu altında) ile lif kesin. NOT: Karbon fiber kırılgandır; tüpün dışında 1 cm'den fazla bırakılacak olan yapının manipülasyon sırasında kırılma olasılığını artıracaktır.</li>
	</ol>
</li>
	<li>Celadonit içeren su hazırlama<ol>
<li>Bir harç ve havaneli ile celadonitgrind.</li>
		<li>Tartmak 0.2 celadonit tozu mg ve seyreltik 10 mL deiyonize su.</li>
		<li>Agregaları kırmak için doğrudan celadonit içeren suyun 10 mL'lik bir ultrason ucunu kullanın. Tipik olarak, 30 s üzerinde 50 W bir güç için 30 kHz ultrasonik frekans kullanın.</li>
	</ol>
</li>
	<li>İfade ortamının hazırlanması<ol>
<li>Bir kılcal damar tutucusu basınç kontrol ünitesine bağlayın.</li>
		<li>Çok yönlü mikro-manipülatör ile bir optik mikroskop altında kılcal tutucu korumak.</li>
		<li>Desteği, kılcal damar tutucuya bakan karbon fiber ile optik mikroskop altına yerleştirin.</li>
	</ol>
</li>
	<li>Celadonit eki<ol>
<li>Dağılmış celadonitin tıkanmadan akmasını sağlamak için 2-10 μm'lik bir dahili uç çapı olan bir mikropipet çekin.<ol>
<li>Çekmece çenesinde cam kılcal bir kılcal düzeltin. Yama pipet boyutuna göre doğru çekmece parametrelerini temin edin (Tablo 1). Mikro pipeti celadonit içeren suyla doldurun.</li>
		</ol>
</li>
		<li>Mikropipeti kapiller tutucuya mikroskop altında monte edin. Mikropipeti ve karbon fiberi optik mikroskop altında hizala.</li>
		<li>Mikropipete, karbon fiberin tepesinden 2-10 μm mesafeye yaklaşın.</li>
		<li>Mikropipete geniş giriş üzerinde progresif basınç uygulayın. Genellikle, 100 mbar uygulayın, böylece ucunda bir damla oluşur ama düşmez. Bu damla karbon fiberin tepesini ıslar.</li>
		<li>Mikro pipeti geri çek.</li>
	</ol>
</li>
</ol>2. Kicking-off kaynak
NOT: Mikroskobumuzda, kaynak desteği, kaynağına göre nesneyi elektrik komutuyla hareket eden piezo-elektrik aktüatörü (100 nm çözünürlük, 25 mm aralık) taşıyan manuel dönen flanşüzerinde sabitlenir (Bkz. Şekil 2). Bu nesne elektron emisyonu için bir elektrikaagirdi rol oynar; genellikle elektriksel olarak topraklanır ve kaynağın önüne yerleştirilir. Bizim deneyde, voltajlar farklı güç kaynakları ile elle kontrol edilir.
<ol><li>Kaynak tutucuyu vakum altına takın.</li>
	<li>Karbon fiberi ve nesneyi iki yüksek voltajlı elektrik beslemesine bağlayın.</li>
	<li>Her yerdeki temasların elektriksel sürekliliğini kontrol edin: anod nesnesi, lens ve ekran; vakum pompalama açın.</li>
	<li>Nesne ve elektrik zemini arasındaki μA aralığında bir nano-ammetre bağlayın.</li>
	<li>Kaynağa uygulanan negatif sapma gerilimini yaklaşık 1 V/s olarak yavaşça artırın. Anod kaynaktan 1 mm uzaktaysa, başlama vuruşu yaklaşık 2 kV'da gerçekleşir. Yoğunluk aniden artar.</li>
	<li>Yaklaşık yüz nA yoğunluğunu stabilize etmek için voltajı azaltın. Başlangıçta, yoğunluk çeşitli büyüklük siparişleri üzerinde dalgalanabilir.</li>
	<li>Dalgalanmalar azalana kadar sistemi birkaç saat dalgalandırın. Dalgalanmalar 'un altında olduğunda voltajı kesin.</li>
</ol>3. Kaynak karakterizasyonu
NOT: Kaynak özelliklerini araştırmanın bir yolunu sıyoruz. Kaynak parlaklığını tahmin etmek için iki projeksiyon mikroskopu kullanılır. Bu kurulumlarda, bir nesnenin gölgesi daha uzağa yerleştirilen floresan ekranda görülür (Şekil 2). Kaynak (katot) ve nesne (anod) bir mikro-manipülasyon flanş üzerine monte edilir ve projeksiyon düzleminde birlikte döndürülebilir. Floresan ekrana sahip basit bir kısa projeksiyon kurulumu düşük büyütme projeksiyonu sağlar. İkinci kurulum bir elektrostatik lens ve güçlü büyütmeler için bir çift mikrokanal plaka / floresan ekran montaj içerir12. Her projeksiyon görüntüsünde bulunan bilgiler parlaklığı az tahmin etmek için kullanılır: kayıt13'tekien küçük ayrıntı. Bu en küçük görünür ayrıntı, kaynak boyutundaki geometrik bulanıklığı, nesne ile kaynak arasındaki titreşimleri ve dedektör çözünürlüğünü içeren görünen kaynak boyutuna bağlıdır.
<ol><li>Koni açısının ölçümü<ol>
<li>Elektron ışını gözlemlemek için kaynağı dönen flanşla basit projeksiyon düzenine doğru çevirin.</li>
		<li>Ekrandaki tüm noktayı elde etmek için manuel mikro manipülatörle kaynaktan ekrana mesafeyi azaltın; sonra, kaynaktan ekrana mesafeyi ölçün, D.</li>
		<li>Dönen flanşile elektron ışını ile normal arasındaki açıyı ekrana değiştirerek ekranın resimlerini çekin.</li>
		<li>Gri seviyeli yoğunluk profilini bir eksen boyunca çizin ve emisyon yarıçapını, R'yi belirli bir kaynaktan ekrana uzaklıkta belirleyin, D (Şekil 3).</li>
		<li>Koni açısını <img src="/files/ftp_upload/59513/59513eq1.jpg"> hesaplayın: Rile, belirli bir kaynaktan ekrana mesafedeki emisyon yarıçapı, D.</li>
	</ol>
</li>
	<li>Fowler-Nordheim arsaölçümü<ol>
<li>Emisyon yoğunluğunu kaynağa uygulanan gerilime göre ölçün: I(V) i ile anoduda ölçülen yoğunluk ve Karbon fiberde uygulanan V gerilimi. </li>
		<li>Arsa <img src="/files/ftp_upload/59513/59513eq2.jpg"> . Eğri, en yüksek gerilim için doygunluğa sahip azalan düz bir çizgi gösterir. Bir örnek Şekil 4'teverilmiştir. En uzun düz çizgi alan emisyon sürecinin imzasıdır.</li>
	</ol>
</li>
	<li>Kaynak boyutunun ölçülmesi<ol>
<li>Kaynağı dönen flanşla elektrostatik merceğe doğru çevirin.</li>
		<li>Bir nesnenin kenarı boyunca büyük bir Fresnel kırınım deseni içeren bir projeksiyon görüntüsü üretin: yaklaşık 20.000 x büyütme gereklidir. Mikroskobumuzda bu, piezo-aktüatörlerle sabitlenmiş yaklaşık 100 μm'lik bir kaynak-nesne mesafesi ve Einzel elektrostatik lens ile mümkündür.</li>
		<li>Ekrandaki görüntüdeki en keskin görünür ayrıntıyı ölçün (Şekil 5). NOT: En keskin saçak-saçak mesafesi δ kullanılır.</li>
		<li>Kaynak boyutunu hesaplayın: <img src="/files/ftp_upload/59513/59513eq3.jpg"> .</li>
	</ol>
</li>
</ol>

<ol><li>Forbes, R. G. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Low-macroscopic-field+electron+emission+from+carbon+films+and+other+electrically+nanostructured+heterogeneous+materials%3A+hypotheses+about+emission+mechanism%5BTitle%5D)+AND+%22Solid-State+Electronics%22%5BJournal%5D)">Low-macroscopic-field electron emission from carbon films and other electrically nanostructured heterogeneous materials: hypotheses about emission mechanism.</a> Solid-State Electronics. 45, 779-808 (2001).</li>
<li>Wang, C., Garcia, A., Ingram, D. C., Lake, M., Kordesch, M. E. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Cold+field+emission+from+CVD+diamond+films+observed+in+emission+electron+microscopy%5BTitle%5D)+AND+%22Electronics+Letters%22%5BJournal%5D)">Cold field emission from CVD diamond films observed in emission electron microscopy.</a> Electronics Letters. 27, 1459(1991).</li>
<li>Okano, K., Koizumi, S., Ravi, S., Silva, P., Amaratunga, G. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Low-threshold+cold+cathodes+made+of+nitrogen-doped+chemical-vapour-deposited+diamond%5BTitle%5D)+AND+%22Nature%22%5BJournal%5D)">Low-threshold cold cathodes made of nitrogen-doped chemical-vapour-deposited diamond.</a> Nature. 381, 140-141 (1996).</li>
<li>Geis, M. W., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((A+new+surface+electron-emission+mechanism+in+diamond+cathodes%5BTitle%5D)+AND+%22Nature%22%5BJournal%5D)">A new surface electron-emission mechanism in diamond cathodes.</a> Nature. 393, 431-435 (1998).</li>
<li>Horch, S., Morin, R. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Field+emission+from+atomic+size+sources%5BTitle%5D)+AND+%22Journal+of+Applied+Physics%22%5BJournal%5D)">Field emission from atomic size sources.</a> Journal of Applied Physics. 74 (6), 3652-3657 (1993).</li>
<li>Muller, H. U., Volkel, B., Hofmann, M., Woll, C., Grunze, M. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Emission+properties+of+electron+point+sources%5BTitle%5D)+AND+%22Ultramicroscopy%22%5BJournal%5D)">Emission properties of electron point sources.</a> Ultramicroscopy. 50 (1), 57-64 (1993).</li>
<li>Qian, W., Scheinfein, M. R., Spence, J. C. H. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Brightness+measurements+of+nanometer-sized+field-emission-electron+sources%5BTitle%5D)+AND+%22Journal+of+Applied+Physics%22%5BJournal%5D)">Brightness measurements of nanometer-sized field-emission-electron sources.</a> Journal of Applied Physics. 73 (11), 7041-7045 (1993).</li>
<li>Rech, J. em, Grauby, O., Morin, R. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Low-voltage+electron+emission+from+mineral+films%5BTitle%5D)+AND+%22Journal+of+Vacuum+Science+%26+Technology+B%22%5BJournal%5D)">Low-voltage electron emission from mineral films.</a> Journal of Vacuum Science & Technology B. 20 (1), 5-9 (2002).</li>
<li>Daineche, R., Degiovanni, A., Grauby, O., Morin, R. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Source+of+low-energy+coherent+electron+beams%5BTitle%5D)+AND+%22Applied+Physics+Letters%22%5BJournal%5D)">Source of low-energy coherent electron beams.</a> Applied Physics Letters. 88, 023101(2006).</li>
<li>Salançon, E., Daineche, R., Grauby, O., Morin, R. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Single+mineral+particle+makes+an+electron+point+source%5BTitle%5D)+AND+%22Journal+of+Vacuum+Science+%26+Technology+B%22%5BJournal%5D)">Single mineral particle makes an electron point source.</a> Journal of Vacuum Science & Technology B. 33, 030601(2015).</li>
<li>Prigent, M., Morin, P. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Charge+effect+in+point+projection+images+of+Ni+nanowires+and+I+collagen+fibres%5BTitle%5D)+AND+%22Journal+of+Physics+D%3A+Applied+Physics%22%5BJournal%5D)">Charge effect in point projection images of Ni nanowires and I collagen fibres.</a> Journal of Physics D: Applied Physics. 34 (8), 1167-1177 (2001).</li>
<li>Salançon, E., Degiovanni, A., Lapena, L., Lagaize, M., Morin, R. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((A+low-energy+electron+point-source+projection+microscope+not+using+a+sharp+metal+tip+performs+well+in+long-range+imaging%5BTitle%5D)+AND+%22Ultramicroscopy%22%5BJournal%5D)">A low-energy electron point-source projection microscope not using a sharp metal tip performs well in long-range imaging.</a> Ultramicroscopy. 200, 125-131 (2019).</li>
<li>Salançon, E., Degiovanni, A., Lapena, L., Morin, R. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((High+spatial+resolution+detection+of+low-energy+electrons+using+an+event-counting+method%2C+application+to+point+projection+microscopy%5BTitle%5D)+AND+%22Review+of+Scientific+Instruments%22%5BJournal%5D)">High spatial resolution detection of low-energy electrons using an event-counting method, application to point projection microscopy.</a> Review of Scientific Instruments. 89, 043301(2018).</li>
<li>Swanson, L. W., Crouser, L. C. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Total-Energy+Distribution+of+Field-Emitted+Electrons+and+Single-Plane+Work+Functions+for+Tungsten%5BTitle%5D)+AND+%22Physical+Review%22%5BJournal%5D)">Total-Energy Distribution of Field-Emitted Electrons and Single-Plane Work Functions for Tungsten.</a> Physical Review. 163, 622(1967).</li>
</ol>

Yazarların rakip finansal çıkarları yok.

Mikroskobik ölçekteki kaynağın geometrisi bir kaynaktan diğerine değiştiğinden, bu protokol kritik değildir. Zorluk bir karbon fiber kırılgan olduğundan, kesme uygunsuz bir uzunluğa yol açabilir. Yeterli uzunluk yaklaşık 500 μm; kesimin mikroskobik şekli çok önemli değildir. Kritik adım kristalleri çok az sayıda olmasıdır (ideal bir) iletken bir tel in tepe üzerinde yatırılır. Kristal konsantrasyonunun yatırılan hacimle adapte edilmesi en önemli noktadır. Çok fazla kristal toplanırsa, emisyon sönümlenir. Burada, bunu yön...

Elektron salınımı için kullanılan metal/yalıtkan yapılar, düşük makroskopik alanları nedeniyle yaklaşık 20 yıldır incelenmiştir1. Dahil elektrik alanı sadece bazı V / μm2,3,4, keskin metal uçları ile klasik alan emisyonu için gerekli V / nm aksine5,6,7. Bu muhtemelen elektron kaynağı teknolojilerinde çok yararlı olan başlangıç plazma deşarjaçıklar. Birkaç yıl önce, biz elektron iletim karbon katmanları8doğal yalıtkanların filmleri yatırarak bu düşük alan emisyon keşfetmek için çalıştı. Brezilya'daki Ametista di Sul madenlerinde Parana Tuzakları'nın bazaltında bulunan yalıtkan mineral celadonite seçildi.
Celadonit zemin olduğunda, kristal şekli mikrometrik boyutları ve 100 nm'den daha az kalınlığa sahip dikdörtgen bir levhadır (genellikle: 1.000 nm x 500 nm x 50 nm). Elektron mikroskobunda mükemmel bir şekilde düz ve tanınabilir (Şekil 1). Film karbon tabakası üzerinde bir celadonit içeren su damlacığı birikimi ile oluşur. Uygulanan gerilim arttıkça, fowler-Nordheim rejimini takip ederek en yüksek gerilimler için yoğunluk doygunluğu ile elektron yayır. Bir projeksiyon sisteminde diyafram kullanılarak yapılan bir çalışma, bir yayıcısın nokta benzeri bir kaynak olduğunu gösterdi9. Ancak, kaynak seçmek için bir diyafram ile bu büyük film kullanarak nokta kaynağının potansiyelini yararlanmak vermedi. Örneğin, düşük enerjili elektron noktası kaynaklı projeksiyon mikroskobunda yaygın olarak kullanılan nokta kaynakları yaklaşık 100 nm kaynak-nesne uzaklığına izin verir. Ancak, böyle bir kaynak-nesne mesafe bir film ile söz konusu olacaktır. Bir kristali izole etmenin bir yolunu bulmak, böylece bir şeyi bu elektron kaynağına doğru hareket ettirebilmek zordu. Bizim çözüm ilk, 10 μm karbon fiber kullanmak oldu: lif apeks de damlacık yatırma mutlaka celadonit kristallerinin sayısını sınırlar. İkinci olarak, damlacık boyutunu sınırlamaya karar verdik: yaklaşık 5 μm bir ucu ucu ile bir mikropipet celadonit içeren su ile doldurulur ve basınç fiber apeks ıslak küçük bir damla oluşturmak için micropipeette girişinde uygulanır. Protokol tüm kaynak hazırlama işlemini ayrıntılarıyla anlatır.
Elde edilen kaynak, kaynak, nesne ve elektron optik sistemi10arasında iyi bir hizalama sağlayan koaksiyel bir nokta kaynağıdır. 10 μm çapı hala ultra keskin uçlardan daha geniş olduğundan, kaynaktan nesneye uzaklık bazı onlarca mikrometre ile sınırlıdır. Ancak, son zamanlarda bir Einzel lens ile birlikte celadonit kaynak yayıcısı klasik bir nokta kaynak projeksiyon mikroskobu ile karşılaştırıldığında gerçekleştirir gösterdi. Böylece uzun menzilli görüntüleme böylece nesne ve görüntü bozulmaları 12,13dahil şarj etkisi11 sınırlar erişilebilir yaptı. Celadonit kaynağı da keskin metal ipuçları ile karşılaştırıldığında büyük avantajlar sunuyor. Sağlamdır: nokta kaynağı kristalin altındadır ve böylece fışkırtma lara karşı korunur. Kaynak nispeten yüksek basınç altında çalışabilir: bazı dakikalarda 10-2 mbar test edildi. Ancak ömrü ve stabilitesi doğru vakum koşullarına bağlı kalır. Biz genellikle 10-8 mbar celadonit kaynağı istihdam ve ay bir ömür boyu elde.
Bu makale, tutarlı bir elektron ışını üretmek için celadonit kaynağını kullanmak isteyenlere yardımcı olmak için tasarlanmıştır.

<table><tbody><tr><td>Karbon fiber filament</td><td>Goodfellow</td><td>C 005711&nbsp; &nbsp;</td><td></td></tr><tr><td>Karbon fiber filament</td><td>Mitsubishi Chemical</td><td>DIALEAD</td><td></td></tr><tr><td>Karbon fiber filament</td><td>Solvay</td><td>THORNEL P25</td><td></td></tr><tr><td>Karbon fiber filament</td><td>Zoltek</td><td>PX35 Sürekli Çekme</td><td></td></tr><tr><td>Celadonite</td><td></td><td></td><td>Verona Yeşil toprak / pigment</td></tr><tr><td>Çift aşamalı mikro kanal plakası ve floresan ekran düzeneği</td><td>Hamamatsu</td><td>F2225-21S</td><td></td></tr><tr><td>Akış kontrolörü</td><td>Elveflow</td><td>OB1&nbsp;</td><td></td></tr><tr><td>İşlenebilir cam seramik</td><td>Macor</td><td></td><td></td></tr><tr><td>Mikropipet Çektirme</td><td>Sutter Aletleri</td><td>P2000&nbsp;</td><td></td></tr><tr><td>Piezo-elektrik aktüatörler</td><td>Mechonics</td><td>MS30&nbsp;</td><td></td></tr><tr><td>Kuvars kılcal</td><td>Sutter Aleti&nbsp;</td><td>B100-75-15&nbsp;</td><td></td></tr><tr><td>Gümüş Vernik</td><td>DODUCO GmbH</td><td>AUROMAL 38&nbsp; &nbsp;</td><td></td></tr><tr><td>Ultrasonik işlemci</td><td>Hielscher / sonotrode MS3</td><td>UP50H & nbsp;</td><td></td></tr></tbody></table>

bir celadonit elektron kaynağının hazırlanması ve parlaklığının tahmin

Preparing a Celadonite Electron Source and Estimating Its Brightness

Burada açıklanan elektron celadonit kaynağı, uzun menzilli görüntülemede düşük enerjili elektron nokta kaynaklı projeksiyon mikroskobunda iyi performans gösterir. Keskin metal uçlarına göre büyük avantajlar sunar. Sağlamlığı bir ömür boyu ay ve nispeten yüksek basınç altında kullanılabilir. Celadonit kristali karbon fiberin tepesinde birikir, küresel ışın şekli ve kaynağı, nesneyi ve elektron-optik sistem eksenini hizalamak için kolay mekanik konumlandırma sağlayan koaksiyel bir yapıda kendini korumuştur. Bir mikropipet ile celadonit içeren su damlacıkları üretimi ile tek bir kristal birikimi vardır. Takımı doğrulamak için taramalı elektron mikroskobu gözlemi yapılabilir. Ancak, bu adımlar ekler ve bu nedenle kaynak zarar riskini artırır. Böylece, hazırlıktan sonra, kaynak genellikle projeksiyon mikroskobunda vakum altında doğrudan yerleştirilir. İlk yüksek gerilim beslemesi, elektron emisyonunu başlatmak için gereken başlama vuruşunu sağlar. Daha sonra ilgili alan emisyon süreci ölçülür: zaten bu şekilde hazırlanan elektron kaynakları düzinelerce gözlenmiştir. Parlaklık, bir projeksiyon sisteminde ölçülen kaynak boyutu, bir enerjideki yoğunluk ve koni açısının aşırı tahminedile tahmin edilemez.

Protokolde ayrıntılı olarak hazırlanmış karbon fiberlerin çeşitli taramaelektron mikrografileri 15 kV'de bir SEM'de elde edilmiştir. Kaynaklar, bir, bazen iki, kristalleri tepe noktasında sergilerler (Şekil 1). Ancak, SEM kullanımı karbon fiber için başka bir destek içerir, hangi kırmadan monte etmek ve sökmek zordur. Doğrudan elektron salınımı denemesi daha güvenlidir. Bir projeksiyon mikroskobunda test edilmiştir (Şekil 2), her...

Makale bir celadonit kaynağı hazırlamak ve uzun menzilli görüntüleme düşük enerjili elektron noktası kaynaklı projeksiyon mikroskobu nda kullanılmak üzere parlaklığını tahmin etmek için bir protokol sunuyor.

Bir Celadonit Elektron Kaynağının Hazırlanması ve Parlaklığının Tahmin

The electron celadonite source described here performs well in a low-energy electron point-source projection microscope in long-range imaging. It presents ...

Bu protokol, bir celadonit elektron kaynağının nasıl yapılacağını açıklamayı amaçlamaktadır. Bu kaynaklar uzun bir ömür göstermiştir ve parlaklıkdolu emisyon metal ipuçları eşdeğerdir. Bu seladonit elektron kaynağının bir projeksiyon mikroskobunda kullanılması, elektrostatik lensle ilişkili, büyük bir kaynak nesne mesafesi ile çalışmayı mümkün kılar.Bu, nesne üzerindeki yerel alan efektini azaltarak kaynak çökme riskini ve görüntü bozulmasını önler. Bu prosedürü başlatmak için, 90 mikrometre iç çapı ile paslanmaz çelik boru içine kaynak takın. Tüpün içine 50 mikrometre çapında bir tungsten tel takın ve gerekli uzunlukta kesmek için bir bıçak bıçak altında tüp rulo.Optik mikroskop altındaki kaynak desteğini düzeltin. Paslanmaz çelik boruya 10 mikrometrelik karbon fiber yerleştirin. Ve karbon fiberi gümüş lake ile tüpe yapıştırın.Bir dürbün mikroskobu altında, 100 mikrometre ve üç milimetre arasında paslanmaz çelik tüp dışında bırakılır böylece lifleri kesmek için kesme cımbız kullanın. Sonra, bir harç ve havaneli ile celadonite eziyet. 0.2 miligram celadonit tozu tartın ve 10 mililitre deiyonize suyla seyreltin.Doğrudan celadonit içeren suya bir ultrason ucu yerleştirin ve 30 kilohertz bir ultrasonik frekans ve 30 saniye boyunca 50 watt bir güç agregaları kırmak için kullanın. Biriktirme ortamını hazırlamak için, bir kılcal damar tutucuyu bir basınç denetleyicisine bağlayın. Çok yönlü mikro manipülatör ile bir optik mikroskop altında kılcal tutucu korumak.Kapiller tutucuya bakan karbon fiber ile desteği mikroskop altına yerleştirin. Sonra, kutup çenesinde cam kılcal bir kılcal düzeltin. Metin protokolünden birinci tabloyu kullanarak, kutup parametrelerinin yama borusu boyutuna göre düzgün bir şekilde ayarlandığından emin olun ve dağılmış celadonitin tıkanmadan akmasını sağlamak için iki ila on mikrometre arasında bir iç uç çapı olan bir mikro pipet çekin.Sonra, celadonit içeren su ile mikro pipet doldurun. Mikroskop altında, mikro pipeti kılcal tutucuya monte edin ve mikro pipeti karbon fiberle hizala. Mikro pipetin geniş ucundaki basıncı artırın, düşmeden çıkışında bir düşüş oluşur.Karbon fiberi, karbon fiberin inme sine dokunmak için yukarı doğru hareket ettirin. Bundan sonra, karbon fiber geri çekmek. Mikroskop altında, kaynağı kaynak desteğine takın.Kaynak tutucuyu vakumun altına takın. Karbon fiberi ve nesneyi iki yüksek voltajlı elektrik besleme sine bağlayın. Her kontakın elektriksel devamlılığını kontrol edin ve flanşı deneysel kuruluma töyorum.Bundan sonra, vakum pompalama açın. Nesne ve elektrik zemini arasındaki mikroampere aralığında bir kalibre nanoammetre bağlayın. Kaynağa uygulanan negatif sapma gerilimini saniyede yaklaşık bir volt alacaktır.Anod kaynaktan bir milimetre uzaktaysa, yoğunluk aniden arttığında başlama vuruşu yaklaşık iki kilovoltta gerçekleşir. Sonra, hemen yaklaşık yüz nanoamperes tarafından yoğunluğu nu stabilize etmek için voltajı azaltmak. Başlangıçta, yoğunluğu büyüklüğü çeşitli siparişler üzerinde dalgalanma olabilir.Yoğunluk birkaç saat boyunca dalgalanabilir. Dalgalanmalar azalana kadar bekleyin. Dalgalanmalar %10'dan düşük olduğunda voltajı kesin Başlatmak için, elektron ışınıgözlemlemek için kaynağı basit projeksiyon kurulumuna doğru çevirmek için dönen flanşı kullanın.Kaynaktan ekrana mesafeyi azaltmak ve ekrandaki tüm noktayı elde etmek için mikro manipülatörü kullanın. Kaynaktan ekrana mesafeyi ölçün. Elektron ışını ile normal arasındaki açıyı ekrana değiştirmek için dönen flanşı kullanarak ekranın resimlerini atın.Gri düzey yoğunluğu profilini bir eksen boyunca çizin ve belirli bir kaynaktan ekrana mesafedeki emisyon yarıçapını belirleyin. Metin protokolünde belirtildiği gibi koni açısını hesaplayın. Bundan sonra, anodda ölçülen yoğunluk ve karbon fiberde uygulanan gerilim ile kaynağa uygulanan gerilime karşı emisyon yoğunluğunu ölçün.Metin protokolünde belirtildiği gibi celadonit kaynağına fowler-Nordheim çizimi oluşturun. Eğri, en yüksek gerilim için doygunluk ile azalan düz bir çizgi gösterecektir. En uzun düz çizgi alan emisyon sürecinin imzasıdır.Kaynak boyutunu ölçmek için, kaynağı elektrostatik merceğe doğru döndürmek için dönen flanşı kullanın. Sinyali en yüksek büyütmede yapacak şekilde yoğunluğu ayarlayın. L1 ile ilk büyütme yapın ve sonra nesneye kaynağa doğru yaklaşın.Son olarak, bir nesnenin kenarı boyunca büyük bir fresnel kırınım deseni içeren bir projeksiyon görüntüsü oluşturmak için L2'yi etkinleştirin. Ekrandaki görüntüdeki en keskin görünür ayrıntıyı ölçün ve metin protokolünde belirtildiği gibi kaynak boyutunu hesaplayın. Karbon lifleri üzerinde biriken seladonitin çeşitli taramalı elektron mikrograf görüntüleri 15 kilovolt veya üç kilovolt olarak elde edilmiştir.Kaynaklar bir, bazen tepelerinde iki kristal sergilerler. Ancak, SEM kullanımı karbon fiber için başka bir destek içerir, hangi kırmadan monte etmek ve de-montaj zordur. Doğrudan elektron salınımı denemesi daha güvenlidir.Projeksiyon mikroskobundaki testler, bu şekilde hazırlanan her kaynağın yayıldığını gösteriyor. Başlama vuruşu sadece bir kez gereklidir. Bu kaynakların çoğu tek bir nokta kaynağı gösterir.Emisyon profili, başka bir nokta olmadan devam eden tek bir görüntüyü gösterir. Fowler-Nordheim arsa yüksek voltajda büyüklüğü düz ve doygunluk 10 siparişler sergiler. Belirli bir gerilim için elde edilen doygunluk rejimi yapıya bağlıdır, ancak eğim yaklaşık 10 mikroamperes daha yüksek akım yoğunlukları için sistematik olarak azalır.Kaynak boyutu daha sonra üretilen görüntü üzerinde en küçük ayrıntı sıyrık ölçülerek tahmin edilir. Bu görüntü nesnenin fresnel kırınım desenidir. Burada, girişim saçaklarının kaybı kaynağın boyutuna atfedilir.Bu protokolde en önemli şey, bir nesneye nesneyi görüntüleyebilmek için uçlu şekilli bir iletkenin tepesinde tek bir celadonit kristali elde etmektir. Muhtemelen önemli adım iyi dosed celadonit içeren su küçük bir damla, lif tepede yatırılır. Bu seladonit elektron kaynağının elektrostatik lens ile donatılmış bir projeksiyon mikroskobunda kullanılması büyük bir kaynak nesne mesafesi ile çalışmanızı sağlar.Bu, eksen dışı otografik teknikler geliştirmeyi, nanometrik nesnelerin etrafındaki manyetik ve elektrik alanlarını keşfetmeyi mümkün kılar.

preparing-a-celadonite-electron-source-and-estimating-its-brightness

Research

JoVE Journal

Engineering

Mühendislik

Bir boya duyarlı güneş hücresi ve üçüz-üçüz imha yukarı dönüşüm ünitesi de içeren bir tümleşik aygıt, güneş spektrumunun daha geniş bir bölümünde, gelişmiş ışık toplamayı verecek, üretildi. Mütevazı aydınlatma düzeyleri altında, düşük enerjili fotonlar için önemli ölçüde geliştirilmiş yanıt boya duyarlı güneş hücreleri için liyakat rekor bir rakam elde, saptandı.

Bir Üçüz-üçlü Annihilation&#39;ın Up-dönüşüm Sistemi entegre Alt-bandaralıklı Işık Boya duyarlı Solar Hücre Yanıtı arttırmak için

Aktif optik cihazların kapsamlı mikro-karakterizasyonu için bir iş akışı özetlenmiştir. Bu BT, LM ve SEM vasıtasıyla yapısal hem de fonksiyonel soruşturmaları içerir. yöntemi hala karakterizasyonu sırasında çalıştırılabilir olabilir beyaz LED için gösterilmiştir.

(SEM) X-ışını Bilgisayarlı Tomografi (BT) ve Taramalı Elektron Mikroskobu ile İlişkili Işık Mikroskopi (LM) bir kombinasyonu ile LED&#39;lerin Derinliği Analizlerinde

Yarı iletken malzemelerdeki çıkıkların ve tane sınırlarının optik, elektriksel ve yapısal özellikleri, taramalı elektron mikroskobunda yapılan deneylerle belirlenebilir. Elektron mikroskobu, katodolüminesans, elektron ışını kaynaklı akım ve geri saçılan elektronların kırınımını araştırmak için kullanılmıştır.

Bir Tarama Elektron Mikroskobu tarafından Yarıiletken Malzemelerin Genişletilmiş Kusur Kapsamlı Karakterizasyonu

(Oksi) nitrür fosfor mükemmel bir kimyasal ve lüminesans stabiliteleri şu anda sülfür ve oksit fosforlar kullanılan bir umut verici bir alternatif olarak sunmak. Bu yazıda düşük enerjili katodolüminesans (CL) kullanarak yerel lüminesans özelliklerini araştırmak için bir yol sunuyoruz.

(Oxy) Nitrit Fosforilazın için düşük enerji Katodolüminesans

Yazarlar, mavi yayan bir floren polimeri ile aromatik aminler arasında oluşan eksiplekslerden emisyonu kullanarak kararlı beyaz ışık yayan elektrokimyasal hücreler üretmek için bir yöntem sunmaktadır.

Beyaz Fabrikasyon Exciplexes gelen Kararlı Emisyon ile elektrokimyasal Hücreleri Işık yayan

Bu protokol, kemilüminesan ışık emisyonu kaynağı olarak bir rutenyum kompleksi kullanan ve böylece in vivo görüntüleme sırasında yüksek sinyal-gürültü oranları üreten yeni bir intraoperatif görüntüleme tekniğini tanımlar. İntraoperatif görüntüleme, cerrahi prosedürlerin gerçekleştirilme biçiminde devrim yaratabilecek genişleyen bir alandır.

Biyolojik ortamda oluşturuluyor ve Gözlem Kemilüminesans için Yeni Bir Teknik

Burada C60/graphene hibrid nanoyapıların imalatı için bir protokol tarafından fiziksel termal buharlaşma mevcut. Özellikle, ifade ve tavlama koşullarının uygun işleme izin 1D ve yarı 1 d C oluşturulması üzerinde kontrol60 yapıları üzerinde sakinleştirmek grafen.

C60/Graphene hibrid nanoyapıların malzemelerin hazırlık ve

Burada ayrıntılı işlem ve derleme kolloidal yarı iletken nanocrystal immobilizasyonu sistematik karakterizasyonu için modüler mikrosıvısal tarama platformun iletişim kurallarıdır. Tam ayarlanabilir sistem düzenlemeler ile yüksek verimli spectra koleksiyonu 4 büyüklük reaksiyon zamanı ölçekler bir kütle transferi kontrol örnekleme alanı içinde genelinde yürütülen.

Kolloidal yarı iletken Nanocrystals sistematik çalışmalar için modüler bir mikrosıvısal teknolojisi

Bu çalışma, gelişmiş verimlilik için ince emici kadmiyum selenyum tellürit/kadmiyum telluride fotovoltaik cihazların tam üretim sürecini açıklar. Süreç, küçük alan araştırma cihazlarının ve büyük ölçekli modüllerin imalatından ölçeklenebilir yakın alan süblimasyon birikimi için otomatik bir sıra içi vakum sistemi kullanır.

Yakın Alan Süblimasyon-Gelişmiş Kısa Devre Akım Yoğunluğu ve Fotolüminesans için Ultra İnce CdSeTe/CdTe Güneş Pilleri

Azınlık türlerinden, ışık elementlerinden, oksijen boşluklarından ve diğer nokta/çizgi/düzlemsel kusurlardan güvenilir bir şekilde bilgi alan olay elektron ışını sallama koşulları altında elektron kanallama fenomenlerinden yararlanarak safsızlıkların ve kimyasal durumlarının saha doluluklarını tahmin etmek için nicel mikroanaliz yöntemlerinin genel bir taslağını sunuyoruz.

Kristal Malzemelerdeki Fonksiyonel Dopant/Nokta Kusurlarının Elektron Kanalize-Geliştirilmiş Mikroanaliz ile Nicel Atomik Saha Analizi

Organik Işık Yayan Diyot (OLED) cihazları, daha düşük enerji tüketimiyle çevresel faydalar sağlarken, daha iyi kontrastla üstün görüntü kalitesi sunar. Burada, çözümle işlenmiş OLED cihaz üretimi için basit bir strateji sıralı bir şekilde sunulmaktadır.

Çözelti ile İşlenmiş Cihaz İmalatı ile Organik Işık Yayan Diyotlardan Yararlanmak için Adım Adım Kılavuz Bir TADF Yayıcının İmalatı

Öğrenin, celadonit elektron kaynağı hazırlama ve parlaklık tahmini yöntemlerini. Paslanmaz çelik tüp ve tungsten tel kullanarak uzun ömürlü, yüksek parlaklıkta kaynaklar üretin.

Bir Celadonit Elektron Kaynağının Hazırlanması ve Parlaklığının Tahmin

Daha fazla video keşfet